【技术实现步骤摘要】
获取颗粒捕捉装置的分量数据的方法、装置和电气设备
本专利技术涉及电子技术应用领域,具体而言,涉及一种获取颗粒捕捉装置的分量数据的方法、装置和电气设备。
技术介绍
压缩气体的击穿与其中的粒子尤其是金属颗粒有关,金属颗粒容易导致压缩气体的击穿。因此在制造压缩气体绝缘的电气设备时应该尽量减小金属颗粒或者粒子对设备运行时性能的影响。所以常常采用超净静车间、安装时工人一定要规定着装、用不掉毛的洁净纸擦拭导体表面等专门的方法来减少金属颗粒的影响。但是即使做了上述所有的工作依然会在压缩气体绝缘的电气设备内部滞留一些金属颗粒,而且在设备的运行中还会产生出新的金属颗粒。因此需要在运行的设备内部有一些方法来处理金属粒子。目前的颗粒捕捉装置的形式主要有两种形式,分别为圆环形和外壁开槽型,圆环形主要应用于同轴电极形式的气体绝缘传输线内,外壁开槽型则在各种GIS设备内都得以应用。上述两种形式的颗粒陷阱在捕获性能上各有优劣,其中,外壁开槽型可以配合外壁的角度,使得颗粒所受到的包括电场力、重力、摩擦力等各种力的合力的方向指向颗粒陷阱,从而 ...
【技术保护点】
1.一种应用于电气设备的颗粒捕捉装置,其特征在于,所述颗粒捕获装置为位于电气设备内部的伞形结构,所述伞形结构至少包括:/n伞面,所述伞面为圆形薄板结构,且所述伞面与水平面平行;/n至少一个支柱,所述支柱的支撑点一端支撑于所述伞面的中心处,另一端与外壳相连。/n
【技术特征摘要】
1.一种应用于电气设备的颗粒捕捉装置,其特征在于,所述颗粒捕获装置为位于电气设备内部的伞形结构,所述伞形结构至少包括:
伞面,所述伞面为圆形薄板结构,且所述伞面与水平面平行;
至少一个支柱,所述支柱的支撑点一端支撑于所述伞面的中心处,另一端与外壳相连。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述支柱的支撑点位于所述电气设备的外壳内表面最低点处,且位于导体中轴线的垂直平面内。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述圆形薄板与设备外壳同电位,形成了用于捕获颗粒的低电场区域,且没有减小所述电气设备的绝缘距离。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,从入口处的中间位置水平通过的各个电场的分布规律相同,其中,所述入口处的中间位置为所述伞面的下底面距外壳底面的中点位置。
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的装置,其特征在于,每个电场轨迹的水平方向和垂直方向的电场强度分布规律均为所述入口处的电场强度高,所述颗粒捕捉装置的内部电场为0值,且水平方向上的电场强度在两边入口处具有不同方向,竖直方向的电场强度在两边入口处具有相同的方向。
6.根据权利要求1至4中任意一项所述的装置,其特征在于,所述颗粒捕捉装置从所述入口处到中心位置的电场强度呈线性规律下降,其中,
当所述电气设备上施加正弦变化的交流电压时,所述颗粒捕获装置周围的颗粒受到重力的分量、电场力以及摩擦力的合力作用向颗粒中心运动;
当所述电气设备的内导体电压为负值时,电场力方向反方向改变。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,如果颗粒运动到的位置所受到的电场力的大小小于颗粒运动开始时所受到的电场力,所述颗粒向所述颗粒捕获装置中心运动的速度减慢,且所述颗粒向所述颗粒捕获装置中心的运动方向不变,直至所述颗粒被所述颗粒捕获装置捕获。
8.根据权利要求1至4中任意一项所述的装置,其特征在于,所述颗粒捕获装置出口处在水平方向上的电场强度Ex越大,所述入口处到所述中心处的电场强度的变化率越大。
9.一种获取颗粒捕捉装置的分量数据的方法,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:李翔宇,武瑶,淡淑恒,滕苏郸,宫一玉,张璞,张凯,秦冰,李方青,于洋,
申请(专利权)人:国网北京市电力公司,国家电网有限公司,北京电力经济技术研究院,
类型:发明
国别省市:北京;11
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