一种氮化硼封装的二维有机-无机异质结制造技术

技术编号:24057383 阅读:66 留言:0更新日期:2020-05-07 15:40
本实用新型专利技术公开了一种氮化硼封装的二维有机‑无机异质结,属于二维半导体材料领域。包括衬底、底部封装层、二维纳米层和顶部封装层四部分。其中衬底的材质为硅片;底部封装层的材质为二维氮化硼,设置在所述衬底上;二维纳米层,由至少两层的二维有机材料和/或二维无机材料形成的层状异质结结构,并设置在所述底部封装层上;顶部封装层的材质为二维氮化硼,设置在所述二维纳米层的另一侧。本实用新型专利技术通过采用氮化硼代替传统玻璃薄膜作为封装层,不仅能够起到很好的封装作用,能隔绝外界水氧对二维材料的影响,而且能够增加电子迁移率。

A two-dimensional organic-inorganic heterojunction encapsulated in boron nitride

【技术实现步骤摘要】
一种氮化硼封装的二维有机-无机异质结
本技术属于二维半导体材料领域,尤其是一种氮化硼封装的二维有机-无机异质结。
技术介绍
二维半导体材料作为一种新型的材料,自从2004年单层石墨烯被发现后便引发了普遍的关注。是一种具有机械强度高、导热系数高、高迁移率、超薄透明、柔性可卷曲等优点的新型材料。它优良的光学电学特性是的其在在光电、生物、存储、柔性、集成电路等领域都取得了突破。目前制备异质结的方法主要有两种:化学外延生长法和物理气相沉积法,其中比较著名的有分子束外延(MBE)和金属有机化学气相沉积(MOCVD)。这两类方法所制备的高品质异质结构,为构建高电子迁移率的晶体管、LED和量子级联激光器等先进功能器件起到了做出了重要贡献。然而,这两类技术所构建的异质结都依赖于一对一的化学键作用,对两种材料的晶格匹配度要求极高。对于化学外延生长法而言,晶格失配容易导致多晶的形成,且界面受应变影响极大;对于物理气相沉积法,其对材料类型和晶格匹配度要求度相对比较灵活,但是沉积的材料大多是无定形或多晶态,且界面容易受缺陷或化学紊乱所干扰。范德本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种氮化硼封装的二维有机-无机异质结,其特征在于,包括:/n衬底,其材质为硅片;/n底部封装层,其材质为二维氮化硼,设置在所述衬底上;/n二维纳米层,由至少两层的二维有机材料和/或二维无机材料形成的层状异质结结构,并设置在所述底部封装层上;/n顶部封装层,其材质为二维氮化硼,设置在所述二维纳米层的另一侧。/n

【技术特征摘要】
1.一种氮化硼封装的二维有机-无机异质结,其特征在于,包括:
衬底,其材质为硅片;
底部封装层,其材质为二维氮化硼,设置在所述衬底上;
二维纳米层,由至少两层的二维有机材料和/或二维无机材料形成的层状异质结结构,并设置在所述底部封装层上;
顶部封装层,其材质为二维氮化硼,设置在所述二维纳米层的另一侧。


2.根据权利要求1所述的氮化硼封装的二维有机-无机异质结,其特征在于,所述二维氮化硼为层状六方氮化硼。


3.根据权利要求1所述的氮化硼封装的二维有机-无机异质结,其特征在于,所述底部封装层和底部封装层的厚度为40~50nm,二维纳米层的厚度为4~10nm;其中二维有机材料和二维无机材料之间的厚度比为1:(1~2)。


4.根据权利要求1所述的氮化硼封装的二维有机-无机异质结,其特征在于,所述二维有机材料为半导体苝四甲酸二...

【专利技术属性】
技术研发人员:卞正高丽王欣然疏静
申请(专利权)人:南京理工大学
类型:新型
国别省市:江苏;32

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