【技术实现步骤摘要】
一种光学、力学、电学综合实验仪
本技术涉及一种实验仪,特别涉及一种光学、力学、电学综合实验仪,属于光学、力学、电学综合实验仪
技术介绍
现有一些院所使用的产品多数是在光学平台上实现的各种实验演示现象的组合,或是简易的铝型材导轨如做定量测量会给实验操作尤其是光轴调节上带来很大的麻烦,因铝型材导轨表面未经过研磨滑座间隙无法保证,也无法配研,导轨与滑座间间隙过大无法保证光轴与机械轴重合。现有的测量杨氏模量测量仪,加力装置为砝码砣,读数测量装置为尺读望远镜及其标尺,而且测量架又高又不易存放。钢丝的电阻率得由单独的电阻箱、万用表电流表等拼凑在一起,测量起来比较麻烦,钢丝的直径得用千分尺测量,所需的实验工具及仪器就相当多,且不易放置,做起实验时比较繁琐。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种光学、力学、电学综合实验仪,解决了现有技术中存在的问题。为了解决上述技术问题,本技术提供了如下的技术方案:本技术一种光学、力学、电学综合实验仪,包括精密光学方导轨和组合电箱,所述 ...
【技术保护点】
1.一种光学、力学、电学综合实验仪,其特征在于,包括精密光学方导轨(1)和组合电箱(30),所述精密光学方导轨(1)底部的一端固定连接有导轨支角(2),所述精密光学方导轨(1)上滑动连接有若干个一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5)和若干个二维光学滑座限位碰珠精密副尺(6),所述一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5)设有五个,精密光学方导轨(1)靠近导轨支角(2)一端的上方设有微调平台(3),所述微调平台(3)底部的两端均设有一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5),所述精密光学方导轨(1)远离导轨支角(2)一端的底部设置有工作底部调整装置(8),所述工作底部调整装置(8)远离精密光学方 ...
【技术特征摘要】
1.一种光学、力学、电学综合实验仪,其特征在于,包括精密光学方导轨(1)和组合电箱(30),所述精密光学方导轨(1)底部的一端固定连接有导轨支角(2),所述精密光学方导轨(1)上滑动连接有若干个一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5)和若干个二维光学滑座限位碰珠精密副尺(6),所述一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5)设有五个,精密光学方导轨(1)靠近导轨支角(2)一端的上方设有微调平台(3),所述微调平台(3)底部的两端均设有一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5),所述精密光学方导轨(1)远离导轨支角(2)一端的底部设置有工作底部调整装置(8),所述工作底部调整装置(8)远离精密光学方导轨(1)的一侧设置有加力装置(9),所述加力装置(9)的顶部设有绝缘套管(10)和光杠杆可调整工作台(16),所述光杠杆可调整工作台(16)设置在绝缘套管(10)靠近导轨支角(2)的一侧,所述绝缘套管(10)远离加力装置(9)的一端固定连接有立杆(15),所述立杆(15)的杆壁上套接有上横梁(14),所述上横梁(14)的下方设置有二号四端接线与第二细丝卡线装置(12),所述二号四端接线与第二细丝卡线装置(12)的底部通过金属细丝(17)和导线(18)分别连接有绝缘套管(10)和一号四端接线与第一细丝卡线装置(11),所述光杠杆可调整工作台(16)的顶壁设置有反射镜(19),所述反射镜(19)远离立杆(15)的一侧依次...
【专利技术属性】
技术研发人员:张振华,宋海,任丽艳,于娜,陈大胜,于海崙,
申请(专利权)人:长春市长城教学仪器有限公司,
类型:新型
国别省市:吉林;22
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