一种光学、力学、电学综合实验仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学、力学、电学综合实验仪，包括精密光学方导轨和组合电箱，精密光学方导轨底部的一端固定连接有导轨支角，精密光学方导轨上滑动连接有若干个一维光学滑座限位碰珠精密副尺和若干个二维光学滑座限位碰珠精密副尺，本实用新型专利技术一种光学、力学、电学综合实验仪通过将光学测量、力学测量和电学测量三个方面组合为一体的综合实验仪，另加偏振器组、比累对切透镜、光阴片可完成多种光学实验，这种设计结构特别适用于教学，可由浅入深做实验，可自由选择、组合，根据实际教学需要自由选择搭配实验验容组织实验课教学，它不但能培养学生的光学、力学、电学的综合知识的能力，同时也培养了综合设计的实验能力。

A comprehensive experimental instrument of optics, mechanics and electricity

【技术实现步骤摘要】
一种光学、力学、电学综合实验仪
本技术涉及一种实验仪，特别涉及一种光学、力学、电学综合实验仪，属于光学、力学、电学综合实验仪

技术介绍
现有一些院所使用的产品多数是在光学平台上实现的各种实验演示现象的组合，或是简易的铝型材导轨如做定量测量会给实验操作尤其是光轴调节上带来很大的麻烦，因铝型材导轨表面未经过研磨滑座间隙无法保证，也无法配研，导轨与滑座间间隙过大无法保证光轴与机械轴重合。现有的测量杨氏模量测量仪，加力装置为砝码砣，读数测量装置为尺读望远镜及其标尺，而且测量架又高又不易存放。钢丝的电阻率得由单独的电阻箱、万用表电流表等拼凑在一起，测量起来比较麻烦，钢丝的直径得用千分尺测量，所需的实验工具及仪器就相当多，且不易放置，做起实验时比较繁琐。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供一种光学、力学、电学综合实验仪，解决了现有技术中存在的问题。为了解决上述技术问题，本技术提供了如下的技术方案：本技术一种光学、力学、电学综合实验仪，包括精密光学方导轨和组合电箱，所述精密光学方导轨底部的一端固定连接有导轨支角，所述精密光学方导轨上滑动连接有若干个一维光学滑座限位碰珠精密副尺和若干个二维光学滑座限位碰珠精密副尺，所述一维光学滑座限位碰珠精密副尺设有五个，精密光学方导轨靠近导轨支角一端的上方设有微调平台，所述微调平台底部的两端均设有一维光学滑座限位碰珠精密副尺，所述精密光学方导轨远离导轨支角一端的底部设置有工作底部调整装置，所述工作底部调整装置远离精密光学方导轨的一侧设置有加力装置，所述加力装置的顶部设有绝缘套管和光杠杆可调整工作台，所述光杠杆可调整工作台设置在绝缘套管靠近导轨支角的一侧，所述绝缘套管远离加力装置的一端固定连接有立杆，所述立杆的杆壁上套接有上横梁，所述上横梁的下方设置有二号四端接线与第二细丝卡线装置，所述二号四端接线与第二细丝卡线装置的底部通过金属细丝和导线分别连接有绝缘套管和一号四端接线与第一细丝卡线装置，所述光杠杆可调整工作台的顶壁设置有反射镜，所述反射镜远离立杆的一侧依次设有角度可调平面反射镜、带有光栏的透镜、测微目镜、蜗轮式钢丝夹具装置、双棱镜、中性减光器装置、可调狭缝、半导体激光、组合孔屏和扩束镜，所述反射镜、角度可调平面反射镜、带有光栏的透镜、测微目镜、蜗轮式钢丝夹具装置、双棱镜、中性减光器装置、可调狭缝、半导体激光、组合孔屏和扩束镜均处于同一水平面上。作为本技术的一种优选技术方案，所述微调平台顶部的两端均设置有平台专用滑座。作为本技术的一种优选技术方案，靠近所述二维光学滑座限位碰珠精密副尺一侧的三个一维光学滑座限位碰珠精密副尺的顶部和三个二维光学滑座限位碰珠精密副尺的顶部均设置有精密垂直微调。作为本技术的一种优选技术方案，所述上横梁远离一号四端接线与第一细丝卡线装置的一侧设置有上横梁锁紧钉。作为本技术的一种优选技术方案，所述组合电箱由检流计、直流电源、电阻箱和电流表组成。本技术所达到的有益效果是：本技术涉及一种光学、力学、电学综合实验仪，通过将光学测量、力学测量和电学测量三个方面组合为一体的综合实验仪，另外可配置偏振器组、比累对切透镜、光阴片，任选几个部件配应相应滑座可完成光学、力学、电学等多种实验，这种设计结构特别适用于教学，可由浅入深做实验，可自由选择、组合，根据实际教学需要自由选择搭配实验验容组织实验课教学，它不但能培养学生的光学、力学、电学的综合知识的能力，同时也培养了综合设计的实验能力。附图说明附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：图1是本技术的结构示意图；图2是本技术中组合电箱的结构示意图；图3是本技术中双臂电桥电路原理图。图中：1、精密光学方导轨；2、导轨支角；3、微调平台；4、平台专用滑座；5、一维光学滑座限位碰珠精密副尺；6、二维光学滑座限位碰珠精密副尺；7、精密垂直微调；8、工作底部调整装置；9、加力装置；10、绝缘套管；11、一号四端接线与第一细丝卡线装置；12、二号四端接线与第二细丝卡线装置；13、上横梁锁紧钉；14、上横梁；15、立杆；16、光杠杆可调整工作台；17、金属细丝；18、导线；19、反射镜；20、角度可调平面反射镜；21、带有光栏的透镜；22、测微目镜；23、蜗轮式钢丝夹具装置；24、双棱镜；25、中性减光器装置；26、可调狭缝；27、半导体激光；28、组合孔屏；29、扩束镜；30、组合电箱。具体实施方式以下结合附图对本技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本技术，并不用于限定本技术。实施例如图1-3所示，本技术提供一种光学、力学、电学综合实验仪，包括精密光学方导轨1和组合电箱30，精密光学方导轨1底部的一端固定连接有导轨支角2，精密光学方导轨1上滑动连接有若干个一维光学滑座限位碰珠精密副尺5和若干个二维光学滑座限位碰珠精密副尺6，一维光学滑座限位碰珠精密副尺5设有五个，精密光学方导轨1靠近导轨支角2一端的上方设有微调平台3，微调平台3底部的两端均设有一维光学滑座限位碰珠精密副尺5，精密光学方导轨1远离导轨支角2一端的底部设置有工作底部调整装置8，工作底部调整装置8远离精密光学方导轨1的一侧设置有加力装置9，加力装置9的顶部设有绝缘套管10和光杠杆可调整工作台16，光杠杆可调整工作台16设置在绝缘套管10靠近导轨支角2的一侧，绝缘套管10远离加力装置9的一端固定连接有立杆15，立杆15的杆壁上套接有上横梁14，上横梁14的下方设置有二号四端接线与第二细丝卡线装置12，二号四端接线与第二细丝卡线装置12的底部通过金属细丝17和导线18分别连接有绝缘套管10和一号四端接线与第一细丝卡线装置11，光杠杆可调整工作台16的顶壁设置有反射镜19，反射镜19远离立杆15的一侧依次设有角度可调平面反射镜20、带有光栏的透镜21、测微目镜22、蜗轮式钢丝夹具装置23、双棱镜24、中性减光器装置25、可调狭缝26、半导体激光27、组合孔屏28和扩束镜29，反射镜19、角度可调平面反射镜20、带有光栏的透镜21、测微目镜22、蜗轮式钢丝夹具装置23、双棱镜24、中性减光器装置25、可调狭缝26、半导体激光27、组合孔屏28和扩束镜29均处于同一水平面上。微调平台3顶部的两端均设置有平台专用滑座4，靠近二维光学滑座限位碰珠精密副尺6一侧的三个一维光学滑座限位碰珠精密副尺5的顶部和三个二维光学滑座限位碰珠精密副尺6的顶部均设置有精密垂直微调7，上横梁14远离一号四端接线与第一细丝卡线装置11的一侧设置有上横梁锁紧钉13，组合电箱30由检流计、直流电源、电阻箱和电流表组成。具体的，将仪器平稳放置在工作台上调节导轨水平，以光学方导轨及相应滑座配置相应配件完成以下实验：利用偏振器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学、力学、电学综合实验仪，其特征在于，包括精密光学方导轨(1)和组合电箱(30)，所述精密光学方导轨(1)底部的一端固定连接有导轨支角(2)，所述精密光学方导轨(1)上滑动连接有若干个一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5)和若干个二维光学滑座限位碰珠精密副尺(6)，所述一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5)设有五个，精密光学方导轨(1)靠近导轨支角(2)一端的上方设有微调平台(3)，所述微调平台(3)底部的两端均设有一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5)，所述精密光学方导轨(1)远离导轨支角(2)一端的底部设置有工作底部调整装置(8)，所述工作底部调整装置(8)远离精密光学方导轨(1)的一侧设置有加力装置(9)，所述加力装置(9)的顶部设有绝缘套管(10)和光杠杆可调整工作台(16)，所述光杠杆可调整工作台(16)设置在绝缘套管(10)靠近导轨支角(2)的一侧，所述绝缘套管(10)远离加力装置(9)的一端固定连接有立杆(15)，所述立杆(15)的杆壁上套接有上横梁(14)，所述上横梁(14)的下方设置有二号四端接线与第二细丝卡线装置(12)，所述二号四端接线与第二细丝卡线装置(12)的底部通过金属细丝(17)和导线(18)分别连接有绝缘套管(10)和一号四端接线与第一细丝卡线装置(11)，所述光杠杆可调整工作台(16)的顶壁设置有反射镜(19)，所述反射镜(19)远离立杆(15)的一侧依次设有角度可调平面反射镜(20)、带有光栏的透镜(21)、测微目镜(22)、蜗轮式钢丝夹具装置(23)、双棱镜(24)、中性减光器装置(25)、可调狭缝(26)、半导体激光(27)、组合孔屏(28)和扩束镜(29)，所述反射镜(19)、角度可调平面反射镜(20)、带有光栏的透镜(21)、测微目镜(22)、蜗轮式钢丝夹具装置(23)、双棱镜(24)、中性减光器装置(25)、可调狭缝(26)、半导体激光(27)、组合孔屏(28)和扩束镜(29)均处于同一水平面上。/n...

【技术特征摘要】
1.一种光学、力学、电学综合实验仪，其特征在于，包括精密光学方导轨(1)和组合电箱(30)，所述精密光学方导轨(1)底部的一端固定连接有导轨支角(2)，所述精密光学方导轨(1)上滑动连接有若干个一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5)和若干个二维光学滑座限位碰珠精密副尺(6)，所述一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5)设有五个，精密光学方导轨(1)靠近导轨支角(2)一端的上方设有微调平台(3)，所述微调平台(3)底部的两端均设有一维光学滑座限位碰珠精密副尺(5)，所述精密光学方导轨(1)远离导轨支角(2)一端的底部设置有工作底部调整装置(8)，所述工作底部调整装置(8)远离精密光学方导轨(1)的一侧设置有加力装置(9)，所述加力装置(9)的顶部设有绝缘套管(10)和光杠杆可调整工作台(16)，所述光杠杆可调整工作台(16)设置在绝缘套管(10)靠近导轨支角(2)的一侧，所述绝缘套管(10)远离加力装置(9)的一端固定连接有立杆(15)，所述立杆(15)的杆壁上套接有上横梁(14)，所述上横梁(14)的下方设置有二号四端接线与第二细丝卡线装置(12)，所述二号四端接线与第二细丝卡线装置(12)的底部通过金属细丝(17)和导线(18)分别连接有绝缘套管(10)和一号四端接线与第一细丝卡线装置(11)，所述光杠杆可调整工作台(16)的顶壁设置有反射镜(19)，所述反射镜(19)远离立杆(15)的一侧依次...

【专利技术属性】
技术研发人员：张振华，宋海，任丽艳，于娜，陈大胜，于海崙，
申请(专利权)人：长春市长城教学仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：吉林;22