【技术实现步骤摘要】
光谱仪用全反射装置的压样头
本技术属于光谱分析领域，特别涉及一种傅里叶变换光谱仪用全反射装置的压样头。
技术介绍
傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)一般在其干涉仪输出光与检测器之间会设置样品仓，通过在样品仓内放置适当的透射、反射等测试装置并将样品以适当固定，可实现样品的透射光谱、反射光谱测量。衰减全反射装置(ATR)作为一种高灵敏光信号测试技术，将样品放置在晶体的表面，引导光束透过晶体照射到样品表面，通过测量样品表面的反射信号来提取有效光谱信息，简化了样品的制作过程，同时也极大地拓展了光谱法的应用范围，已被广泛应用于纤维、塑料、涂料、橡胶、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATR与FTIR光谱仪相结合，发挥二者的优势，就可以在更多场合取得应用、获取更好的光谱测试灵敏度、信噪比和样品材料性质。在实际应用中，样品需要手动放置在ATR的晶体表面，且需要尽量放置在晶体的中心，通过移动压头后压紧样品，才可能获取到更好的带有样品信息的光谱图。有些样品是不规则的小颗粒，不容易拿住放置在晶体上，更不容易放置在晶体的中心处；一般的压头移动后压住样品时，可能将样品“压飞”，对样品测试带来很大的麻烦。
技术实现思路
本技术提供一种光谱仪用全反射装置的压样头，以解决压头压住样品时的不方便的操作。该压样头有利于实现形状不规则、尺寸不统一的颗粒样品在光谱分析仪器上固定测试，而且操作简单方便。本技术采用的技术解决方案如下：一种光谱仪用全反射装置的压样头，其特点在于：包括压头杆、样品圈、压缩弹簧、弹...
【技术保护点】
1.一种光谱仪用全反射装置的压样头，其特征在于：包括压样杆(1)、样品圈(2)、压缩弹簧(3)、弹簧罩(4)和固定座(5)；/n所述的压样杆(1)的上端与所述的固定座(5)相连，下端即压样端呈内凹结构(101)，所述的样品圈(2)下端的内侧具有向外开口结构(201)，所述的样品圈(2)同轴地套在所述的压样杆(1)外，所述的样品圈(2)套在所述的弹簧罩(4)中；该弹簧罩(4)的上端与所述的固定座(5)接触，在所述的样品圈(2)和弹簧罩(4)之间嵌入所述的压缩弹簧(3)，所述的压样杆(1)和样品圈(2)之间可产生相对的上下移动。/n
【技术特征摘要】
1.一种光谱仪用全反射装置的压样头，其特征在于：包括压样杆(1)、样品圈(2)、压缩弹簧(3)、弹簧罩(4)和固定座(5)；
所述的压样杆(1)的上端与所述的固定座(5)相连，下端即压样端呈内凹结构(101)，所述的样品圈(2)下端的内侧具有向外开口结构(20...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑留念，李纪华，黄磊，
申请(专利权)人：荧飒光学科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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