一种光器件的性能检测系统及其测试方法技术方案

本发明专利技术涉及光通信技术领域，具体为涉及一种光器件的性能检测系统及测试方法。其特征在于：包括了光模块1、一入多出的光开关2、多入一出的光开关3、功率探测模块4、微控单元MCU5、串口6、模拟电压采集电路7、PC上位机8、光模块控制电路9、一入多出逻辑门控制电路10、多入一出逻辑门控制电路11。本发明专利技术通过集成了光源功能，光功率计功能以及光路切换功能，使其可以通过上位机直接控制与读取光源，光功率，光通道，因而待测器件只需要连接一次，提升了效率并降低了测试误差，能一次性的测量出光器件的插入损耗、波长一致性以及通道相关损耗，缩短测试时间。

A performance testing system of optical devices and its testing method

【技术实现步骤摘要】
一种光器件的性能检测系统及其测试方法
本专利技术涉及光通信
，具体为涉及一种光器件的性能检测系统及测试方法。
技术介绍
伴随着科技的飞速进步，光通信成为了主流的通信方式，光连接器、光耦合器、光复用器、光开关等各种光器已经成为此领域中必不可少的部分。然而每个光器件之间，同一个光器件不同通道之间，都存在差异性，所以通道的插入损耗和通道一致性的指标已经成为每个光器件的重要指标。为增加光通信的可靠性和准确度，在光器件的出厂时，须进行性能测试。若为单通道器件，需进行插入损耗测试；若为多通道器件，需进行通道一致性测试。而由于光器件所工作的波长的多样性、检测过程的繁杂性，导致检测过程中精度和效率低下。常规光器件性能测试过程一般需用到多波长光源和功率计，首先用光源接入光功率计，测出基准光功率，然后用光源接光器件的一个输入端，功率计接光器件一个的输出端，测一组数据与基准光功率比较，然后再拔掉光器件的输入和输出，接上另外一个通道，继续测量。如果有波长一致性指标，还需要调节光源的波长并重复上述过程。针对现在的测量方法，目前存在的缺陷有：(1)需要多次拔插，容易造成光功率计和光源的探测传感器变脏，造成测量一致性低；(2)测量时间较长，人工成本较高；(3)若待测器件为多通道器件，其通道一致性和波长一致性指标将会耗费更多的时间和人工。
技术实现思路
本专利技术为了能够很好地克服现有技术中，测量过程繁琐、测量数据可靠性较低的问题，提出了一种新型的光器件的性能检测系统及测试方法，其具体方法为；一种光器件的性能检测系统，其特征在于：包括了光模块1、一入多出的光开关2、多入一出的光开关3、功率探测模块4、微控单元MCU5、串口6、模拟电压采集电路7、PC上位机8、光模块控制电路9、一入多出逻辑门控制电路10、多入一出逻辑门控制电路11；所述光模块1的光源输出端与所述一入多出的光开关2的输入端熔接，所述一入多出光开关2的输出端与待测器件12的输入端相连，所述待测器件12的输出端与所述多入一出的光开关3相连，所述多入一出的光开关3的输出端与所述功率探测模块4熔接，所述微控单元MCU5的一路通过所述光模块控制电路9控制所述光模块1，所述微控单元MCU5的另一路通过所述一入多出逻辑门控制电路10控制所述一入多出光开关2，所述微控单元MCU5的另一路通过所述多入一出逻辑门控制电路11控制所述多入一出光开关3，所述微控单元MCU5的另一路通过所述模拟电压采集电路7采集并记录所述功率探测模块4探测到的光功率值，所述微控单元MCU5的另一路通过所述串口6与所述PC上位机8连接。一种基于所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法，其特征在于：包括了第一步：将所述待测器件12所有的输入光纤连接器插入所述一入多出的光开关2的输出端口，再将所述待测器件12所有的输出光纤连接器插入多入一出的光开关3的输入接口；第二步：通过所述PC上位机8控制打开光源，并通过所述PC上位机8上的界面切换光路为所述光模块1连接至所述一入多出的光开关2的A通道连接至所述多入一出的光开关3的A通道连接至所述功率探测模块4；第三步：所述PC上位机8通过所述串口6往所述微控单元MCU5下发指令；第四步：所述微控单元MCU5通过所述光模块控制电路9，控制打开所述光模块1，并输出指定波长和功率的光；第五步：所述微控单元MCU5通过所述一入多出逻辑门控制电路10控制所述一入多出光开关2，切换到A通道；第六步：所述微控单元MCU5通过多入所述多入一出逻辑门控制电路11控制所述多入一出光开关3，切换到A通道；第七步：所述微控单元MCU5通过所述模拟电压采集电路7采集并记录所述功率探测模块4测得的光功率值；第八步：所述微控单元MCU5通过所述串口6将数据上传给所述PC上位机8显示；第九步：通过操作所述PC上位机8改变光路通道为B通道，并循环以上步骤得出所述待测器件12的功率值，再使用公式P1IL＝Pin_A_A-Pin_B_BPMAX_nIL为插损值，Pin_A_A为A通道的功率值，Pin_B_BB通道的功率值；从而得出待测部件的插损值。进一步的所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法，其特征在于：当待测器件12为多通道时，通过操作所述PC上位机8改变光路通道，依次对通道进行选择切换，并循环步骤，多次测量，记录数据，再使用公式PMAX_IL＝Pin_max(C1)-Pin_min(C2)PMAX_IL为差值，Pin_max(C1)为所有波长中通道功率的最大值，Pin_min(C2)为所有波长中通道功率的最小值；得出所述待测器件12的插损值与通道一致性。进一步的所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法，其特征在于：通过操作所述PC上位机8改变切换不同的波长，并循环步骤，依次对波长进行选择切换，记录数据，并通过公式：PMAX_IL＝Pin_(C1)-Pin_(C2)PMAX_IL为差值，Pin_(C1)为C1波长时的通道功率，Pin_(C2)为C2波长时的通道功率；得出所述待测器件12的波长一致性。进一步的所述的一种光器件的性能检测系统的测试波长一致性的方法，其特征在于：包括了第一步：将所述待测器件12的所有的输入光纤连接器插入所述一入多出的光开关2的输出端口，再将所述待测器件12所有的输出光纤连接器插入多入一出的光开关3的输入接口；第二步：通过所述PC上位机8控制打开光源，并通过所述PC上位机8上的界面切换光路为所述光模块1连接至所述一入多出的光开关2的A通道连接至所述多入一出的光开关3的A通道连接至所述功率探测模块4；第三步：所述PC上位机8通过所述串口6往所述微控单元MCU5下发指令；第四步：所述微控单元MCU5通过所述光模块控制电路9，控制打开所述光模块1，并输出指定波长和功率的光；第五步：所述微控单元MCU5通过所述一入多出逻辑门控制电路10控制所述一入多出光开关2，切换到A通道；第六步：所述微控单元MCU5通过多入所述多入一出逻辑门控制电路11控制所述多入一出光开关3，切换到A通道；第七步：所述微控单元MCU5通过所述模拟电压采集电路7采集并记录所述功率探测模块4测得的光功率值；第八步：所述微控单元MCU5通过所述串口6将数据上传给所述PC上位机8显示；第九步：通过操作所述PC上位机8改变光路波长，并循环以上步骤得出各波长时的功率值插损值，记录数据，再使用公式PMAX_IL＝Pin_(Cmax)-Pin_(Cmin)PMAX_IL为差值，Pin_(C1)为所有波长中通道功率的最大值，Pin_(C2)为所有波长中通道功率的最小值；得出所述待测器件12的波长一致性。本专利技术的有益效果在于，本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光器件的性能检测系统，其特征在于：包括了光模块(1)、一入多出的光开关(2)、多入一出的光开关(3)、功率探测模块(4)、微控单元MCU(5)、串口(6)、模拟电压采集电路(7)、PC上位机(8)、光模块控制电路(9)、一入多出逻辑门控制电路(10)、多入一出逻辑门控制电路(11)；所述光模块(1)的光源输出端与所述一入多出的光开关(2)的输入端熔接，所述一入多出光开关(2)的输出端与待测器件(12)的输入端相连，所述待测器件(12)的输出端与所述多入一出的光开关(3)相连，所述多入一出的光开关(3)的输出端与所述功率探测模块(4)熔接，所述微控单元MCU(5)的一路通过所述光模块控制电路(9)控制所述光模块(1)，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述一入多出逻辑门控制电路(10)控制所述一入多出光开关(2)，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述多入一出逻辑门控制电路(11)控制所述多入一出光开关(3)，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述模拟电压采集电路(7)采集并记录所述功率探测模块(4)探测到的光功率值，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述串口(6)与所述PC上位机(8)连接。/n...

【技术特征摘要】
1.一种光器件的性能检测系统，其特征在于：包括了光模块(1)、一入多出的光开关(2)、多入一出的光开关(3)、功率探测模块(4)、微控单元MCU(5)、串口(6)、模拟电压采集电路(7)、PC上位机(8)、光模块控制电路(9)、一入多出逻辑门控制电路(10)、多入一出逻辑门控制电路(11)；所述光模块(1)的光源输出端与所述一入多出的光开关(2)的输入端熔接，所述一入多出光开关(2)的输出端与待测器件(12)的输入端相连，所述待测器件(12)的输出端与所述多入一出的光开关(3)相连，所述多入一出的光开关(3)的输出端与所述功率探测模块(4)熔接，所述微控单元MCU(5)的一路通过所述光模块控制电路(9)控制所述光模块(1)，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述一入多出逻辑门控制电路(10)控制所述一入多出光开关(2)，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述多入一出逻辑门控制电路(11)控制所述多入一出光开关(3)，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述模拟电压采集电路(7)采集并记录所述功率探测模块(4)探测到的光功率值，所述微控单元MCU(5)的另一路通过所述串口(6)与所述PC上位机(8)连接。


2.一种基于权利要求1所述的一种光器件的性能检测系统的测试方法，其特征在于：包括了
第一步：
将所述待测器件(12)所有的输入光纤连接器插入所述一入多出的光开关(2)的输出端口，再将所述待测器件(12)所有的输出光纤连接器插入多入一出的光开关3的输入接口；
第二步：
通过所述PC上位机(8)控制打开光源，并通过所述PC上位机(8)上的界面切换光路为所述光模块(1)连接至所述一入多出的光开关(2)的A通道连接至所述多入一出的光开关(3)的A通道连接至所述功率探测模块(4)；
第三步：
所述PC上位机(8)通过所述串口(6)往所述微控单元MCU(5)下发指令；
第四步：
所述微控单元MCU(5)通过所述光模块控制电路(9)，控制打开所述光模块(1)，并输出指定波长和功率的光；
第五步：
所述微控单元MCU(5)通过所述一入多出逻辑门控制电路(10)控制所述一入多出光开关(2)，切换到A通道；
第六步：
所述微控单元MCU(5)通过多入所述多入一出逻辑门控制电路(11)控制所述多入一出光开关(3)，切换到A通道；
第七步：
所述微控单元MCU(5)通过所述模拟电压采集电路(7)采集并记录所述功率探测模块(4)测得的光功率值；
第八步：
所述微控单元MCU(5)通过所述串口(6)将数据上传给所述PC上位机(8)显示；
第九步：
通过操作所述PC上位机(8)改变光路通道为B通道，并循环以上步骤得出所述待测器件(12)的功率值，再使用公式
P1IL＝Pin_A_A-Pin_B_B
PMAX_nIL为插损值，Pin_A_A为A通道的功率值，Pin_B_BB通道的功率值；
从而得出待...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈涛，张翔，
申请(专利权)人：上海传输线研究所中国电子科技集团公司第二十三研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31