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本发明涉及光通信技术领域，具体为涉及一种光器件的性能检测系统及测试方法。其特征在于：包括了光模块1、一入多出的光开关2、多入一出的光开关3、功率探测模块4、微控单元MCU5、串口6、模拟电压采集电路7、PC上位机8、光模块控制电路9、一入多...该专利属于上海传输线研究所(中国电子科技集团公司第二十三研究所)所有，仅供学习研究参考，未经过上海传输线研究所(中国电子科技集团公司第二十三研究所)授权不得商用。