【技术实现步骤摘要】
充电时间调试方法和装置
本申请涉及显示
，具体而言，涉及一种充电时间调试方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
现有的显示面板进行充电时间调试采用的方法是：增大远端像素单元的充电时间，降低近端像素单元的充电时间，中间部分像素单元的充电时间做线性变化。其中，近端指的是靠近数据信号输出的一端，远端指的是远离数据信号输出的一端。然而，采用现有的充电时间调试方法仅仅只能实现近端远端充电率平衡，由于显示面板内部延迟并非线性变化，使得中间部分像素单元的充电时间如果以线性变化，会造成近端像素单元和远端像素单元的充电率较好，中间部分像素单元的的充电率较差，从而使得显示面板的显示质量较差。比如，请参阅图1，图1为现有的显示面板的充电效果示意图。如图1所示，在高分辨率显示面板由于像素多，导致充电不均，使得显示面板显示效果上下较好，上下区域A、C较好，中间区域C较差，需要对充电时间进行调试。
技术实现思路
本申请实施例提供一种充电时间调试方法、装置、存储介质及电子设备，可以提高显示均匀性，改善显示面板的显示质...
【技术保护点】
1.一种充电时间调试方法，用于对显示面板进行充电时间调试，所述显示面板包括多个沿着第一方向排列的像素区域，每一所述像素区域均包括多个沿着第二方向排列的像素单元，其特征在于，所述充电时间调试方法包括：/n获取每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据；/n基于每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间；/n获取每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间；/n根据所述平均充电时间对每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间等于所述平均充电时间。/n
【技术特征摘要】
1.一种充电时间调试方法，用于对显示面板进行充电时间调试，所述显示面板包括多个沿着第一方向排列的像素区域，每一所述像素区域均包括多个沿着第二方向排列的像素单元，其特征在于，所述充电时间调试方法包括：
获取每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据；
基于每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间；
获取每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间；
根据所述平均充电时间对每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间等于所述平均充电时间。
2.根据权利要求1所述的充电时间调试方法，其特征在于，所述获取每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据的步骤，包括：
获取每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率；
根据每一所述像素区域上的各个像素单元的充电时间以及充电率，生成出对应像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据。
3.根据权利要求1所述的充电时间调试方法，其特征在于，所述基于每一所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，计算与预设充电率对应的平均充电时间的步骤，包括：
获取预设充电率；
根据各个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据，获取各个所述像素区域上的像素单元与所述预设充电率对应的充电时间；
基于各个所述像素区域上的像素单元与所述预设充电率对应的充电时间，计算平均充电时间。
4.根据权利要求3所述的充电时间调试方法，其特征在于，所述获取预设充电率的步骤，包括：
获取预设参考充电率；
当各个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中均包括所述预设参考充电率时，将所述预设参考充电率设定为预设充电率；
当至少一个所述像素区域上的像素单元的充电率与充电时间的关系数据中未包括所述预设参考充电率时，调整所述预设参考充电率，并返回至所述获取预设参考充电率的步骤。
5.根据权利要求1所述的充电时间调试方法，其特征在于，所述根据所述平均充电时间对每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间进行调整，使得每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间等于所述平均充电时间的步骤，包括：
将每一所述像素区域上的像素单元的初始充电时间与所述平均充电时间进行比较；
当所述像素区域上的像素单元的初始充电时间小于所述平均充电时间时，对所述初始充电时间进行增大处理得到补偿充电时间，所述补偿充电时间等于所述平均充电时间；
当所述像素区域上的像素单元的初始充电时间大于所述平均充电时间时，对所述初始充电时间进行减小处理得到补偿充电时间，所述补偿充电时间等于所述平均充电时间。
6.一种充电时间调试装置，用于对显示面板进行充电时间调试，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵军，高翔，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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