【技术实现步骤摘要】
一种半导体激光器测试夹具
本专利技术属于激光器
，特别是涉及一种半导体激光器测试夹具。
技术介绍
随着光电子技术和信息技术的发展，半导体激光器在光纤通信、信息存储等领域得到了广泛的应用。作为系统的光源，激光器特性的优劣直接影响着系统的性能。目前，在半导体器件测试领域，产品低温性能测试是常见测试项目之一，为防止低温下结霜对测试精度造成影响，测试通常是在密闭真空环境中进行，每次测试需要配合真空泵进行抽真空操作，工序繁琐，测试成本较高。半导体激光器作为发光光源，低温下结霜会覆盖发光区，严重影响测试准确性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种半导体激光器测试夹具，可实现在常温常湿环境下对半导体激光器进行低温光学性能测试。为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：本专利技术提供一种半导体激光器测试夹具，其包括：基体，其设有凹槽；半导体制冷装置，其设置在所述凹槽内，所述半导体制冷装置的冷面面向所述凹槽敞口一侧；电路板，其安装在所述基体...
【技术保护点】
1.一种半导体激光器测试夹具，其特征在于，其包括：/n基体，其设有凹槽；/n半导体制冷装置，其设置在所述凹槽内，所述半导体制冷装置的冷面面向所述凹槽敞口一侧；/n电路板，其安装在所述基体表面，且覆盖所述凹槽的敞口，所述电路板、所述半导体制冷装置的冷面及所述基体形成一容纳腔，用于容纳所述半导体激光器；/n进气通道，其开设在所述基体的一侧，所述进气通道的一端与外部充气装置连通，所述进气通道的另一端与所述容纳腔连通。/n
【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器测试夹具，其特征在于，其包括：
基体，其设有凹槽；
半导体制冷装置，其设置在所述凹槽内，所述半导体制冷装置的冷面面向所述凹槽敞口一侧；
电路板，其安装在所述基体表面，且覆盖所述凹槽的敞口，所述电路板、所述半导体制冷装置的冷面及所述基体形成一容纳腔，用于容纳所述半导体激光器；
进气通道，其开设在所述基体的一侧，所述进气通道的一端与外部充气装置连通，所述进气通道的另一端与所述容纳腔连通。
2.根据权利要求1所述一种半导体激光器测试夹具，其特征在于，所述测试夹具还包括光学镜片模组，所述光学镜片模组设置在所述电路板上对应所述容纳腔的位置。
3.根据权利要求2所述一种半导体激光器测试夹具，其特征在于，所述光学镜片模组上设有固定座，所述固定座位于所述容纳腔一侧。
4.根据权利要求3所述一种半导体激光器测试夹具，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭栓银，李正潮，封飞飞，
申请(专利权)人：常州纵慧芯光半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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