眼镜框形状测定装置及眼镜框形状测定程序制造方法及图纸

一种眼镜框形状测定装置，对眼镜框架的形状进行测定，具备：投光光学系统，具有光源，从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；受光光学系统，通过检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射且由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束；取得单元，基于由检测器接收到的反射光束，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状；变更单元，变更反射光束的受光位置；以及控制单元，控制变更单元而以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的方式变更反射光束的受光位置。

Eyeglass frame shape measuring device and procedure

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】眼镜框形状测定装置及眼镜框形状测定程序
本公开涉及用于得到眼镜框架的形状的眼镜框形状测定装置及控制眼镜框形状测定装置的眼镜框形状测定程序。
技术介绍
已知一种眼镜框形状测定装置，该眼镜框形状测定装置通过向眼镜框架的镜圈插入测定件，并使测定件按压于镜圈而使其移动，从而对镜圈的轮廓进行追踪来测定镜圈的形状(例如，参照专利文献1)。基于由该眼镜框形状测定装置得到的镜圈的测定结果(追踪数据)，得到用于将眼镜透镜嵌入镜圈的形状(目标形状)。并且，基于形状决定眼镜透镜的轮廓形状，通过眼镜透镜加工装置加工透镜的周缘。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2015-007536号公报
技术实现思路
然而，为了将加工后的透镜良好地放入到眼镜框架，认为镜圈的形状和加工后的透镜的轮廓形状越近越优选。然而，在使用测定件的镜圈形状的测定中，虽然容易进行按压测定件的位置处的测定(例如，镜圈的底的部分的测定)，但难以得到镜圈的槽的截面形状。因此，专利技术人对具备如下结构的眼镜框形状测定装置进行了研究：朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光，接收由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光，并基于反射光取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状的结构。然而，在使用这样的眼镜框形状测定装置的情况下，根据眼镜框架的形状，有时难以在检测器的规定的位置良好地接收镜圈的槽的反射光束，难以取得镜圈的槽的截面形状。鉴于上述现有技术，本公开的技术课题在于提供能够良好地取得各种形状的眼镜框架中的镜圈的截面形状的眼镜框形状测定装置及眼镜框形状测定程序。为了解决上述课题，本公开的特征在于具备以下的结构。(1)本专利技术的第一方式的眼镜框形状测定装置是测定眼镜框架的形状的眼镜框形状测定装置，其特征在于，具备：投光光学系统，具有光源，从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；受光光学系统，具有检测器，通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束；取得单元，基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状；变更单元，变更所述反射光束的受光位置；以及控制单元，控制所述变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的受光位置。(2)本公开的第一方式的眼镜框形状测定程序是在对眼镜框架的形状进行测定的眼镜框形状测定装置中执行的眼镜框形状测定程序，所述眼镜框形状测定装置具备：投光光学系统，具有光源，从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；受光光学系统，具有检测器，通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束；以及取得单元，基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状，所述眼镜框形状测定程序的特征在于，所述眼镜框形状测定程序通过由所述眼镜框形状测定装置的处理器执行而使所述眼镜框形状测定装置执行如下控制步骤：控制对所述反射光束的受光位置进行变更的变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的所述反射光束的方式变更所述镜圈的槽的所述反射光束的受光位置。附图说明图1是眼镜框形状测定装置的外观概略图。图2是保持有眼镜框架的状态下的框架保持单元的俯视图。图3示出从上方观察移动单元的立体图。图4示出从下方观察移动单元的立体图。图5示出Z移动单元和Y移动单元的俯视立体图。图6是对旋转单元进行说明的图。图7是示出眼镜框架测定光学系统的概略结构图。图8是涉及眼镜框形状测定装置的控制框图。图9A是对控制旋转单元而以不同的矢径角来取得镜圈的截面形状的情况的一例进行说明的图。图9B是对以不同的矢径角来取得镜圈的截面形状的情况的一例进行说明的图。图10是示出以使测定光束照射到眼镜框架的镜圈的槽的方式使保持单元移动之前的受光结果的图。图11是示出以使测定光束照射到眼镜框架的镜圈的槽的方式使保持单元移动之后的受光结果的图。图12是对针对截面图像的亮度分布的取得进行说明的图。图13是对用于使截面图像移动到规定的位置的控制进行说明的图。图14是对从镜圈的槽的截面图像取得的参数进行说明的图。具体实施方式以下，基于附图对本实施方式进行说明。图1～图14是说明本实施方式的眼镜框形状测定装置的结构的图。此外，在本实施方式中，将眼镜框形状测定装置1的纵深方向(配置眼镜时的眼镜框架的上下方向)设为Y方向，将与纵深方向垂直(配置眼镜时的眼镜框架的左右方向)的平面上的水平方向(左右方向)设为X方向，将铅垂方向(配置眼镜时的眼镜框架的前后方向)设为Z方向来进行说明。此外，按照以下的<>分类的项目能够独立或关联地利用。此外，在本公开中，并不限定于本实施方式所记载的装置。例如，将进行下述实施方式的功能的终端控制软件(程序)经由网络或各种存储介质等提供给系统或装置。并且，系统或装置的控制装置(例如CPU等)也能够读取并执行程序。此外，在本实施方式中的眼镜框形状测定装置1中，以眼镜框架F的镜圈部分成为下方向且眼镜框架F的镜腿部分成为上方向的状态配置。即，在眼镜框形状测定装置1配置有眼镜框架F的情况下，眼镜框架F的左右镜圈FL、FR成为下方向，眼镜框架F的左右的镜腿FTL、FTR成为上方向。当然，在本实施方式的眼镜框形状测定装置1中，以眼镜框架F的镜圈部分成为下方向且眼镜框架F的镜腿部分成为上方向的状态配置的结构为例进行说明，但并不限定于此。例如，也可以是以眼镜框架F的镜圈部分成为上方向且眼镜框架F的镜腿部分成为下方向的状态配置的结构。另外，例如，在眼镜框形状测定装置1配置有眼镜框架F的情况下，也可以是以眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的上端成为下方向且眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的下端成为上方向的方式配置的结构。另外，例如，在眼镜框形状测定装置1配置有眼镜框架F的情况下，也可以是以眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的上端成为上方向且眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的下端成为下方向的结构。<概要>对本公开的实施方式的眼镜框形状测定装置(例如眼镜框形状测定装置1)的概要进行说明。例如，本实施方式的眼镜框形状测定装置测定眼镜框架的形状。例如，眼镜框形状测定装置具备投光光学系统(例如，投光光学系统30a)。例如，眼镜框形状测定装置具备受光光学系统(例如，受光光学系统30b)。例如，眼镜框形状测定装置具备取得单元(例如，控制部50)。例如，投光光学系统具有光源(例如，光源31)。例如，投光光学系统从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束。此外，例如，光源可以使用至少一个以上的光源。例如，也可以使用一个光源。另外，例如也可以使用多个光源。例如，受光光学系统具有检测器(例如检测器37)。例如，受光光学系统通过检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种眼镜框形状测定装置，对眼镜框架的形状进行测定，其特征在于，具备：/n投光光学系统，具有光源，从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；/n受光光学系统，具有检测器，通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束；/n取得单元，基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状；/n变更单元，变更所述反射光束的受光位置；以及/n控制单元，控制所述变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的受光位置。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170905 JP 2017-1699421.一种眼镜框形状测定装置，对眼镜框架的形状进行测定，其特征在于，具备：
投光光学系统，具有光源，从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；
受光光学系统，具有检测器，通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束；
取得单元，基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状；
变更单元，变更所述反射光束的受光位置；以及
控制单元，控制所述变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的受光位置。


2.根据权利要求1所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，
所述控制单元基于由所述检测器接收到的所述反射光束，控制所述变更单元来变更所述反射光束的所述受光位置。


3.根据权利要求2所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，
所述眼镜框形状测定装置具备取得所述反射光束的所述受光位置的位置取得单元，
所述控制单元基于由所述位置取得单元取得的所述反射光束的所述受光位置，控制所述变更单元来变更所述反射光束的所述受光位置。


4.根据权利要求3所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，
所述位置取得单元取得所述镜圈的至少某个部位的所述反射光束的所述受光位置，
所述控制单元基于由所述位置取得单元取得的所述镜圈的至少某个部位的所述受光位置，控制所述变更单元来变更所述镜圈的槽的所述反射光束的所述受光位置。


5.根据权利要求3或4所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，
所述取得单元基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面图像作为所述截面形状，
所述位置取得单元解析所述截面图像来取得所述截面图像的位置，从而取得所述反射光束的所述受光位置，
所述控制单元基于由所述位置取得单元取得的所述截面图像的位置，控制所述变更单元来变更所述镜圈的槽的所述反射光束的受光位置。


6.根据权利要求2～5中任一项所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，
所述控制单元控制所述变更单元而以在所述检测器的规定的位置接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的所述受光位置。


7.根据权利要求6所述的眼镜框形状...

【专利技术属性】
技术研发人员：武市教儿，泷井通浩，松井孝哲，
申请(专利权)人：尼德克株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP