【技术实现步骤摘要】
一种低场量子电阻测量仪
本专利技术涉及量子电阻测量技术,特别是一种低场量子电阻测量仪。
技术介绍
在霍尔效应发现100年后,德国科学家冯·克里青、多尔达和派波尔等人发现高迁移率的半导体器件—如硅或砷化镓的异质结器件被冷却到几K温度时,外加一个约10T的磁场,在通过器件的电流固定时,霍尔电压随磁感应强度变化的曲线上存在一些区域,在这些区域中,当磁感应强度变化时,霍尔电压保持不变,这种现象称为量子化霍尔效应。这时电子被完全极化,自旋的能量是常数,可以忽略,它是二维电子气(2DEG)在超低温和强磁条件下完全量子化时出现的现象。霍尔电阻Rh表示为:Rh=RH/i=h/ie2(i=1,2,…);式中:h/e2为冯·克里青常数RH,h为普朗克常数,e为电子电荷,i为正整数。i=1时,量子霍尔电阻在该第一量子平台处的阻值Rh=25812.8074Ω;i=2时,量子霍尔电阻在该第二量子平台处的阻值Rh=12906.4037Ω。均为常数,故而可以作为量子霍尔电阻自然基准,由于这项发现,冯·克里青荣获1985年的诺贝尔物理学奖。美籍华裔科学家崔琦等人因进一步发现分数量子化霍尔效应和对量子化霍尔样品实用化方面的重要贡献而荣获1998年的诺贝尔物理学奖。利用量子化霍尔效应建立的直流电阻自然基准,在电阻测量方面理论上可在10-9量级复现电阻量值。依据量子化霍尔效应开发有量子电阻测量仪,传统的量子电阻测量仪需要10T的强磁场、1.2K的超低温,存在磁感应强度高和温度超低、需要液氦、不能连续运行的缺陷。且液氦目前存量极低,供应紧缺,价格极 ...
【技术保护点】
1.一种低场量子电阻测量仪,其特征在于,包括杜瓦冷罐、量子霍尔电阻芯片、电流比较仪电桥、超导磁体和多级GM制冷机,所述量子霍尔电阻芯片设于所述超导磁体产生的磁场内部,所述多级GM制冷机为超导磁体提供冷源;所述杜瓦冷罐壳体设有冷头插入孔,所述超导磁体、量子霍尔电阻芯片和多级GM制冷机的冷头均位于所述杜瓦冷罐内;还包括独立于所述杜瓦冷罐设置的悬挂机构,所述悬挂机构用于悬挂固定所述多级GM制冷机,所述悬挂机构包括立柱、设于立柱上的悬臂梁和设于所述悬臂梁的多级GM制冷机固定装置,所述多级GM制冷机与所述冷头插入孔之间通过减震波纹管进行软连接密封,所述量子霍尔电阻芯片通过电流比较仪电桥将量子霍尔电阻量值传递给被测电阻;所述电流比较仪电桥为常温低频交流匝比电桥。/n
【技术特征摘要】
1.一种低场量子电阻测量仪,其特征在于,包括杜瓦冷罐、量子霍尔电阻芯片、电流比较仪电桥、超导磁体和多级GM制冷机,所述量子霍尔电阻芯片设于所述超导磁体产生的磁场内部,所述多级GM制冷机为超导磁体提供冷源;所述杜瓦冷罐壳体设有冷头插入孔,所述超导磁体、量子霍尔电阻芯片和多级GM制冷机的冷头均位于所述杜瓦冷罐内;还包括独立于所述杜瓦冷罐设置的悬挂机构,所述悬挂机构用于悬挂固定所述多级GM制冷机,所述悬挂机构包括立柱、设于立柱上的悬臂梁和设于所述悬臂梁的多级GM制冷机固定装置,所述多级GM制冷机与所述冷头插入孔之间通过减震波纹管进行软连接密封,所述量子霍尔电阻芯片通过电流比较仪电桥将量子霍尔电阻量值传递给被测电阻;所述电流比较仪电桥为常温低频交流匝比电桥。
2.如权利要求1所述的低场量子电阻测量仪,其特征在于,所述电流比较仪电桥包括环形铁芯和绕于所述环形铁芯上的第一比例绕组、第二比例绕组和检测绕组,所述第一比例绕组的第一端连接第一电流源的一端,所述第一比例绕组的第二端和所述第一电流源的另一端分别连接所述量子霍尔电阻芯片的电流端;所述第二比例绕组的第一端连接第二电流源的一端,所述第二比例绕组的第二端和所述第二电流源的另一端分别连接所述被测电阻的电流端;所述检测绕组与阻容网络形成谐振回路并串接有锁相放大器差流指示仪,当所述锁相放大器差流指示仪检测到不平衡电流时,经放大器将所述不平衡电流放大并通过耦合补偿线圈反馈到所述第一电流源,进而所述锁相放大器差流指示仪自动平衡调整所述第一电流源使所述锁相放大器差流指示仪指零;所述量子霍尔电阻芯片的第一电压端经过锁相放大器差压指示仪与所述被测电阻的第一电压端相连,所述量子霍尔电阻芯片的第二电压端与所述被测电阻的第二电压端相连,所述锁相放大器差压指示仪检测所述量子霍尔电阻芯片的霍尔电压与所述被测电阻的两端的电压差值,通过所述电压差值计算被测电阻阻值。
3.如权利要求2所述的低场量子电阻测量仪,其特征在于,所述第一电流源与所述第二电流源为同频的低频交流电流源,所述第一电流源与所述第二电流源的频率小于1Hz,它们分别通入所述第一比例绕组和所述第二比例绕组,所述第一比例绕组和所述第二比例绕组绕组与检测绕组共同绕在一个铁芯上,由于所述第一比例绕组和所述第二比例...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄晓钉,宋海龙,徐思伟,于珉,蔡建臻,门伯龙,孙毅,潘攀,
申请(专利权)人:北京东方计量测试研究所,
类型:发明
国别省市:北京;11
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