一种存储介质检测方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种存储介质检测方法、装置、设备及可读存储介质，在本方法中，BMC通过向存储介质中的目标寄存器写入检测值，然后再读取目标寄存器中的寄存器值。当读取到的寄存器值与写入的检测值一致，即可表明存储介质的读写功能均正常，若读取到的寄存器值与写入的检测值不一致，则可确定存储介质的读功能和写功能中至少一项功能出现问题，此时可判断存储介质异常，即存储介质检测失败，此时可输出告警信息。当存储介质具体为EEPROM时，以便用户获知到EEPROM异常，进而更换EEPROM或更换主板，以保障BMC能够与EEPROM正常进行数据交互，EEPROM能够存储重要数据。

A storage medium detection method, device, device and readable storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种存储介质检测方法、装置、设备及可读存储介质
本专利技术涉及计算机
，特别是涉及一种存储介质检测方法、装置、设备及可读存储介质。
技术介绍
EEPROM，或写作E2PROM，中文全称：电子抹除式可复写只读存储器英文全拼：Electrically-ErasableProgrammableRead-OnlyMemory，是一种可以通过电子方式多次复写的半导体存储设备，可以在电脑上或专用设备上擦除已有信息，重新编程。通常，EEPROM用于存储重要数据，BMC(基板管理控制器)通过与之进行交互存储和读写重要数据。但是，当EEPROM发生损坏或不可用(如无法读，无法写，无法读写)时，BMC仍在与之发生读写上的交互，这样会造成重要数据无法正常保存或BMC无法读取有效信息，从而导致数据丢失或BMC运行异常。综上所述，如何有效地规避因EEPROM异常，而导致数据丢失或BMC无法读取到有效信息等问题，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种存储介质检测方法、装置、设备及可读存储介质，BMC对存储介质进行自检，及时发现存储介质的异常并输出告警信息，当该存储介质具体为EEPROM时，用户可及时更换设备，以保障重要数据能够正常保存，BMC也可读取到有效信息。为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种存储介质检测方法，应用于BMC中，包括：向存储介质中目标寄存器写入检测值；读取所述目标寄存器当前时刻对应的寄存器值；<br>判断所述寄存器值与所述检测值是否相同；如果是，则确定所述存储介质本次检测通过；如果否，则确定所述存储介质检测失败，并输出告警信息。优选地，确定所述存储介质检测失败，包括：确定所述存储介质出现一次读写异常，重试次数+1；当所述重试次数为0时，结束检测；当所述重试次数不为0时，判断所述重试次数是否大于预设阈值；若是，则确定所述存储介质检测失败；若否，则重复执行所述向存储介质中目标寄存器写入检测值的步骤；相应地，在确定所述存储介质本次检测通过时，将所述重试次数清零。优选地，所述向存储介质中目标寄存器写入检测值，包括：从所述存储介质中的多个指定寄存器中确定出目标寄存器；向所述目标寄存器写入所述检测值。优选地，所述输出告警信息，包括：利用所述BMC对应的警示器件输出告警提示信息，和/或，向用户终端发送告警通知信息。优选地，所述向存储介质中目标寄存器写入检测值，包括：向所述存储介质中的多个所述目标寄存器写入所述检测值；相应地，确定所述存储介质检测失败，包括：在确定从多个所述目标寄存器中读取到的所述寄存器值与所述检测值均不同后，确定所述存储介质检测失败。优选地，所述BMC与所述存储介质通过I2C建立通信连接，读取所述目标寄存器当前时刻对应的寄存器值，包括：通过所述I2C读取所述寄存器值。优选地，向存储介质中目标寄存器写入检测值，包括：定期更新所述检测值，并向所述目标寄存器写入所述检测值。一种存储介质检测装置，应用于BMC中，包括：检测值写入模块，用于向存储介质中目标寄存器写入检测值；寄存器值读模块，用于读取所述目标寄存器当前时刻对应的寄存器值；检测判断模块，用于判断所述寄存器值与所述检测值是否相同；检测通过确定模块，用于如果所述寄存器值与所述检测值相同，则确定所述存储介质本次检测通过；检测失败确定模块，用于如果所述寄存器值与所述检测值不同，则确定所述存储介质检测失败，并输出告警信息。一种存储介质检测设备，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现上述存储介质检测方法的步骤。一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述存储介质检测方法的步骤。在BMC中应用本专利技术实施例所提供的方法，向存储介质中目标寄存器写入检测值；读取目标寄存器当前时刻对应的寄存器值；判断寄存器值与检测值是否相同；如果是，则确定存储介质本次检测通过；如果否，则确定存储介质检测失败，并输出告警信息。考虑到，存储介质作为存储介质，读和写是其实现存储的数据的关键操作。因此，检测存储介质是否异常，也可从读和写这两种操作入手。基于此，在本方法中，BMC通过向存储介质中的目标寄存器写入检测值，然后再读取目标寄存器中的寄存器值。当读取到的寄存器值与写入的检测值一致，即可表明存储介质的读写功能均正常，若读取到的寄存器值与写入的检测值不一致，则可确定存储介质的读功能和写功能中至少一项功能出现问题，此时可判断存储介质异常，即存储介质检测失败，此时可输出告警信息。当存储介质具体为EEPROM时，以便用户获知到存储介质异常，进而更换存储介质或更换主板，以保障BMC能够与EEPROM正常进行数据交互，EEPROM能够存储重要数据。相应地，本专利技术实施例还提供了与上述存储介质检测方法相对应的存储介质检测装置、设备和可读存储介质，具有上述技术效果，在此不再赘述。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例中一种存储介质检测方法的实施流程图；图2为本专利技术实施例中一种存储介质检测方法的具体应用示意图；图3为本专利技术实施例中一种存储介质检测装置的结构示意图；图4为本专利技术实施例中一种存储介质检测设备的结构示意图；图5为本专利技术实施例中一种存储介质检测设备的具体结构示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例一：请参考图1，图1为本专利技术实施例中一种存储介质检测方法的流程图，应用于BMC中，该方法包括以下步骤：S101、向存储介质中目标寄存器写入检测值。其中，存储介质可具体为具备读和写功能的任意一种常见的存储介质，例如EEPROM。其中，目标寄存器可以为存储介质中的未指定固有功能的寄存器。BMC与存储介质之间通过I2C通信连接。其中，I2C(Inter－IntegratedCircuit)总线是一种两线式串行总线，可用于连接微控制器及其外围设备。BMC可具体通过I2C向存储介质中目标寄存器写入检测值。具体的，BMC可发送I2C请求访问存储介质，在目标寄存本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储介质检测方法，其特征在于，应用于BMC中，包括：/n向存储介质中目标寄存器写入检测值；/n读取所述目标寄存器当前时刻对应的寄存器值；/n判断所述寄存器值与所述检测值是否相同；/n如果是，则确定所述存储介质本次检测通过；/n如果否，则确定所述存储介质检测失败，并输出告警信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种存储介质检测方法，其特征在于，应用于BMC中，包括：
向存储介质中目标寄存器写入检测值；
读取所述目标寄存器当前时刻对应的寄存器值；
判断所述寄存器值与所述检测值是否相同；
如果是，则确定所述存储介质本次检测通过；
如果否，则确定所述存储介质检测失败，并输出告警信息。


2.根据权利要求1所述的存储介质检测方法，其特征在于，确定所述存储介质检测失败，包括：
确定所述存储介质出现一次读写异常，重试次数+1；
当所述重试次数为0时，结束检测；
当所述重试次数不为0时，判断所述重试次数是否大于预设阈值；
若是，则确定所述存储介质检测失败；
若否，则重复执行所述向存储介质中目标寄存器写入检测值的步骤；
相应地，在确定所述存储介质本次检测通过时，将所述重试次数清零。


3.根据权利要求1所述的存储介质检测方法，其特征在于，所述向存储介质中目标寄存器写入检测值，包括：
从所述存储介质中的多个指定寄存器中确定出目标寄存器；
向所述目标寄存器写入所述检测值。


4.根据权利要求1所述的存储介质检测方法，其特征在于，所述输出告警信息，包括：
利用所述BMC对应的警示器件输出告警提示信息，和/或，向用户终端发送告警通知信息。


5.根据权利要求1所述的存储介质检测方法，其特征在于，所述向存储介质中目标寄存器写入检测值，包括：
向所述存储介质中的多个所述目标寄存器写入所述检测值；
相应地，确定所述存储介...

【专利技术属性】
技术研发人员：伯绍文，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32