【技术实现步骤摘要】
一种存储介质检测方法、装置、设备及可读存储介质
本专利技术涉及计算机
,特别是涉及一种存储介质检测方法、装置、设备及可读存储介质。
技术介绍
EEPROM,或写作E2PROM,中文全称:电子抹除式可复写只读存储器英文全拼:Electrically-ErasableProgrammableRead-OnlyMemory,是一种可以通过电子方式多次复写的半导体存储设备,可以在电脑上或专用设备上擦除已有信息,重新编程。通常,EEPROM用于存储重要数据,BMC(基板管理控制器)通过与之进行交互存储和读写重要数据。但是,当EEPROM发生损坏或不可用(如无法读,无法写,无法读写)时,BMC仍在与之发生读写上的交互,这样会造成重要数据无法正常保存或BMC无法读取有效信息,从而导致数据丢失或BMC运行异常。综上所述,如何有效地规避因EEPROM异常,而导致数据丢失或BMC无法读取到有效信息等问题,是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种存储介质检测方法、 ...
【技术保护点】
1.一种存储介质检测方法,其特征在于,应用于BMC中,包括:/n向存储介质中目标寄存器写入检测值;/n读取所述目标寄存器当前时刻对应的寄存器值;/n判断所述寄存器值与所述检测值是否相同;/n如果是,则确定所述存储介质本次检测通过;/n如果否,则确定所述存储介质检测失败,并输出告警信息。/n
【技术特征摘要】
1.一种存储介质检测方法,其特征在于,应用于BMC中,包括:
向存储介质中目标寄存器写入检测值;
读取所述目标寄存器当前时刻对应的寄存器值;
判断所述寄存器值与所述检测值是否相同;
如果是,则确定所述存储介质本次检测通过;
如果否,则确定所述存储介质检测失败,并输出告警信息。
2.根据权利要求1所述的存储介质检测方法,其特征在于,确定所述存储介质检测失败,包括:
确定所述存储介质出现一次读写异常,重试次数+1;
当所述重试次数为0时,结束检测;
当所述重试次数不为0时,判断所述重试次数是否大于预设阈值;
若是,则确定所述存储介质检测失败;
若否,则重复执行所述向存储介质中目标寄存器写入检测值的步骤;
相应地,在确定所述存储介质本次检测通过时,将所述重试次数清零。
3.根据权利要求1所述的存储介质检测方法,其特征在于,所述向存储介质中目标寄存器写入检测值,包括:
从所述存储介质中的多个指定寄存器中确定出目标寄存器;
向所述目标寄存器写入所述检测值。
4.根据权利要求1所述的存储介质检测方法,其特征在于,所述输出告警信息,包括:
利用所述BMC对应的警示器件输出告警提示信息,和/或,向用户终端发送告警通知信息。
5.根据权利要求1所述的存储介质检测方法,其特征在于,所述向存储介质中目标寄存器写入检测值,包括:
向所述存储介质中的多个所述目标寄存器写入所述检测值;
相应地,确定所述存储介...
【专利技术属性】
技术研发人员:伯绍文,
申请(专利权)人:苏州浪潮智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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