一种光电器件发射模块的测试工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光电器件发射模块的测试工装，涉及光电测试技术领域，其技术方案要点是：包括PCB板以及设置于PCB板上且相互独立的多组信号传输线路组，各组所述信号传输线路组的一端均连接有连接头，所述连接头上连接有用于与测试仪连接的插接公端，所述信号传输线路组上设置有用于供光电器件发射模块连接的对接部，各个所述对接部分别对应于多种规格的光电器件发射模块设置。本实用新型专利技术能够对不同规格的光电器件发射模块进行测试，且便于各个器件进行转换测试，具有提高测试效率的效果。

A kind of testing tool for transmitting module of photoelectric device

【技术实现步骤摘要】
一种光电器件发射模块的测试工装
本技术涉及光电测试
，更具体地说，它涉及一种光电器件发射模块的测试工装。
技术介绍
光模块由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分，简单的说，光模块的作用就是光电转换，发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号，发射部分是：输入一定码率的电信号经内部的驱动芯片处理后驱动半导体激光器(LD)或发光二极管(LED)发射出相应速率的调制光信号，其内部带有光功率自动控制电路，使输出的光信号功率保持稳定，接收部分是：一定码率的光信号输入模块后由光探测二极管转换为电信号，经前置放大器后输出相应码率的电信号。目前，对光电子器件中的光电器件发射模块需要进行测试，以判定其是否为良品，测试的过程中，通常将光电器件发射模块安装于PCB板上，随后将PCB板与PIV测试仪连接，从而配合PCB板将光电器件发射模块的发射信号输送至PIV测试仪中进行测试，以判断其光功率是否合格。但是现有技术中的PCB工装板上，只能安装一个一种规格的光电器件发射模块进行测试，若需要测试其他规格的，则需要找出其他的PCB板进行安装测试作业，整个转换过程较为麻烦并且浪费时间，影响测试效率。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本技术的目的在于提供一种光电器件发射模块的测试工装，能够对不同规格的光电器件发射模块进行测试，且便于各个器件进行转换测试，具有提高测试效率的效果。为实现上述目的，本技术提供了如下技术方案：一种光电器件发射模块的测试工装，包括PCB板以及设置于PCB板上且相互独立的多组信号传输线路组，各组所述信号传输线路组的一端均连接有连接头，所述连接头上连接有用于与测试仪连接的插接公端，所述信号传输线路组上设置有用于供光电器件发射模块连接的对接部，各个所述对接部分别对应于多种规格的光电器件发射模块设置。进一步设置：所述PCB板包括底板以及多个可拆卸设置于底板上的电路板，所述底板上开设有多个安装口，所述电路板一一对应于安装口安装，多组所述信号传输线路组分别对应设置于多个电路板上。进一步设置：所述安装口底部对称设置有支撑沿，且所述电路板通过螺栓安装于支撑沿上。进一步设置：所述连接头与所述插接公端通过金手指插接设置，且所述连接头与插接公端之间设置有用于将插接公端固定于连接头上的卡接结构。进一步设置：所述卡接结构包括设置于连接头顶部上的限位沿、设置于插接公端顶部的弹性片以及设置于弹性片端部的限位部，所述弹性片远离插接公端的一端对接于限位沿上，所述限位部卡接于限位沿远离插接公端的一端端部上。进一步设置：所述限位部的表面设置为半球状。进一步设置：所述弹性片对称设置有两个，所述限位部一一对应于弹性片的数量设置。进一步设置：各组所述信号传输线路组相互平行设置。通过采用上述技术方案，本技术相对现有技术相比，具有以下优点：1、通过不同组的信号传输线路组，将不同规格的光电器件发射模块安装于不同的对接部上，从而可对不同的光电器件发射模块在同一PCB板上进行测试，提高工装的适用性，并且节省PCB板更替时间，提高测试效率；2、测试时，利用插接公端插接于连接头上，即可开启其中一个光电发射模块的测试，测试完成后，将插接公端拔出并插接于下一连接头上，即可切换测试下一个的光电发射模块，便于各个器件进行转换测试，具有提高测试效率的效果；3、通过设置的卡接结构，提高插接公端与连接头插接时的稳定性，且卡接结构利用弹性片设置，在拔出时，只需稍加施力拨动弹性片即可将插接公端拔出，方便插接公端切换至其他连接头进行使用，以便于对不同的光电器件发射模块进行测试。附图说明图1为光电器件发射模块的测试工装的结构示意图；图2为光电器件发射模块的测试工装右侧面的部分结构示意图；图3为实施例二中的测试工装的部分结构剖视示意图。图中：1、PCB板；11、底板；111、安装口；112、支撑沿；12、电路板；2、信号传输线路组；3、连接头；4、插接公端；5、对接部；6、卡接结构；61、限位沿；62、弹性片；63、限位部；7、螺栓。具体实施方式参照图1至图3对光电器件发射模块的测试工装做进一步说明。实施例一：一种光电器件发射模块的测试工装，如图1所示，包括PCB板1以及设置于PCB板1上的多组信号传输线路组2，各组信号传输线路组2的一端均连接有连接头3，连接头3上连接有用于与测试仪连接的插接公端4，信号传输线路组2上设置有用于供光电器件发射模块连接的对接部5，通过将光电器件发射模块安装于对接部5上，即可利用信号传输线路组2传输至连接头3上，从而通过插接公端4输送至测试仪上进行测试，十分便捷。如图1所示，各组信号传输线路组2之间相互平行设置，以便于有序分出各组信号传输线路组2，从而便于光电器件发射模块安装于对应信号传输线路组2的对接部5上。其中，对接部5上可焊接有插接座，以便于光电器件发射模块插接于插接座上，从而实现光电器件发射模块与对接部5的连接，且各个对接部5的结构分别对应于多种不同规格的光电器件发射模块设置，插接座对应于光电器件发射模块设置，以便于多种不同的光电器件发射模块进行测试。在需要测试不同的光电器件发射模块时，将光电器件发射模块安装于对应的对接部5上，随后将插接公端4插接于对应于对接部5处的连接头3上，从而启动测试仪进行测试，方便不同规格的光电器件发射模块测试，提高适用性与使用便捷性。如图1所示，为了便于插接公端4随测试的需求而拔插于不同位置的连接头3处，将连接头3与插接公端4通过金手指插接设置，从而通过插接即可实现插接公端4与连接头3的连接，方便插接公端4更换至对应的连接头3处，提高使用的便捷性。进一步的，在连接头3与插接公端4之间设置有用于将插接公端4固定于连接头3上的卡接结构6，以提高插接结合后的稳定性，从而提高测试精度。如图1和图2所示，具体的，卡接结构6包括设置于连接头3顶部上的限位沿61、设置于插接公端4顶部的弹性片62以及设置于弹性片62端部的限位部63，其中，限位沿61设置于连接头3靠近插接公端4的位置处，弹性片62垂直于插接公端4上，且弹性片62远离插接公端4的一端对接于限位沿61上，限位部63卡接于限位沿61远离插接公端4的一端端部上。在插接公端4插接于连接头3上时，限位部63不断向限位沿61的端部移动，且移动过程中弹性片62受到向上挤压的力以产生弹力，从而在插接公端4插接到位后，限位部63卡接于限位沿61端部，从而提高插接公端4与连接头3安装的稳定性，在需要拔出插接公端4时，翘起弹性片62使得限位部63脱离限位沿61即可拔出插接公端4，十分便捷。如图1和图2所示，进一步的，弹性片62对称设置有两个，限位部63一一对应于弹性片62的数量设置，以形成两点限位，提高插接公端4与连接头3配合时的稳定性。限位部63的表面设置为半球状，以减少限位部63与限位沿61的接触面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电器件发射模块的测试工装，其特征在于，包括PCB板(1)以及设置于PCB板(1)上且相互独立的多组信号传输线路组(2)，各组所述信号传输线路组(2)的一端均连接有连接头(3)，所述连接头(3)上连接有用于与测试仪连接的插接公端(4)，所述信号传输线路组(2)上设置有用于供光电器件发射模块连接的对接部(5)，各个所述对接部(5)分别对应于多种规格的光电器件发射模块设置。/n

【技术特征摘要】
1.一种光电器件发射模块的测试工装，其特征在于，包括PCB板(1)以及设置于PCB板(1)上且相互独立的多组信号传输线路组(2)，各组所述信号传输线路组(2)的一端均连接有连接头(3)，所述连接头(3)上连接有用于与测试仪连接的插接公端(4)，所述信号传输线路组(2)上设置有用于供光电器件发射模块连接的对接部(5)，各个所述对接部(5)分别对应于多种规格的光电器件发射模块设置。


2.根据权利要求1所述的一种光电器件发射模块的测试工装，其特征在于，所述PCB板(1)包括底板(11)以及多个可拆卸设置于底板(11)上的电路板(12)，所述底板(11)上开设有多个安装口(111)，所述电路板(12)一一对应于安装口(111)安装，多组所述信号传输线路组(2)分别对应设置于多个电路板(12)上。


3.根据权利要求2所述的一种光电器件发射模块的测试工装，其特征在于，所述安装口(111)底部对称设置有支撑沿(112)，且所述电路板(12)通过螺栓(7)安装于支撑沿(112)上。


4.根据权利要求1所述的一种光电器件发射模块的测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈元荣，
申请(专利权)人：厦门市光飞扬通信技术有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35