一种改善长短、分段金手指悬金的方法技术

技术编号:23861946 阅读:156 留言:0更新日期:2020-04-18 14:22
本发明专利技术公开了金手指制作技术领域的一种改善长短、分段金手指悬金的方法,旨在解决现有技术中金手指悬金较长,在插拔过程中易出现脱落,如掉入元器件周围,会出现短路的技术问题。一种改善长短、分段金手指悬金的方法,包括:a、对需要进行二次蚀刻的金手指进行规划,改变与金手指本体连接的导电线的宽度;b、制作规划好的金手指并电金;c、制作感光湿膜对金手指进行二次蚀刻。本发明专利技术通过对需要进行二次蚀刻的金手指进行规划,在满足使用要求的前提下,改变需要分段或改变长度的金手指导电线处的宽度,二次蚀刻后悬金长度大大减小,即使发生金手指悬金掉入元器件周围,也不会出现短路的问题。

A method to improve the length and segmentation of gold finger hanging gold

【技术实现步骤摘要】
一种改善长短、分段金手指悬金的方法
本专利技术属于金手指制作
,具体涉及一种改善长短、分段金手指悬金的方法。
技术介绍
金手指(connectingfinger)是电脑硬件如:(内存条上与内存插槽之间、显卡与显卡插槽等),所有的信号都是通过金手指进行传送的。金手指由众多金黄色的导电触片组成,因其表面镀金而且导电触片排列如手指状,所以称为“金手指”。PCB长短/分段金手指板在制作过程中长短/分段金手指导电线去除方式为采用二次蚀刻方式;导电线设计与金手指等宽,在蚀刻后金手指前端会有存在悬金问题;且悬金长度与金手指宽度一致;然而,这种方式存在以下缺陷,金手指悬金在插拔过程中易出现脱落,如掉入元器件周围,会出现短路风险。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种改善长短、分段金手指悬金的方法,以解决现有技术中金手指悬金较长,在插拔过程中易出现脱落,如掉入元器件周围,会出现短路的技术问题。为达到上述目的,本专利技术所采用的技术方案是:一种改善长短、分段金手指悬金的方法,包括:a、对需要进行二次蚀刻的金手指进行规划,改变与金手指本体连接的导电线的宽度;b、制作规划好的金手指并电金;c、制作感光湿膜对金手指进行二次蚀刻。所述导电线的宽度小于所述金手指本体的宽度。所述导电线的宽度为4mil。所述步骤c中,所述感光湿膜位于所述小导电线处。所述感光湿膜与所述金手指本体的间距为0.3~5.3mil。所述感光湿膜与所述金手指本体的间距为2.8mil。与现有技术相比,本专利技术所达到的有益效果:本专利技术通过对需要进行二次蚀刻的金手指进行规划,在满足使用要求的前提下,改变需要分段或改变长度的金手指导电线处的宽度,二次蚀刻后悬金长度大大减小,即使发生金手指悬金掉入元器件周围,也不会出现短路的问题。附图说明图1是现有技术中金手指二次蚀刻示意图;图2是金手指二次蚀刻后悬金的实物切片示意图;图3是金手指插拔后悬金脱落的实物图;图4是采用本专利技术实施例提供的一种改善长短、分段金手指悬金的方法对金手指二次蚀刻的示意图;图5是采用本专利技术实施例提供的一种改善长短、分段金手指悬金的方法对金手指二次蚀刻后金手指前端包金(不含二次蚀刻的小导电线)的切片实物图;图6是采用本专利技术实施例提供的一种改善长短、分段金手指悬金的方法制作的金手指平面图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本专利技术的技术方案,而不能以此来限制本专利技术的保护范围。一种改善长短、分段金手指悬金的方法,包括:a、对需要进行二次蚀刻的金手指进行规划,如图4所示,包括金手指本体1和导电线4,导电线4的宽度为4mil(mil,长度单位,1mil=0.0254mm);b、制作规划好的金手指并电金(在金手指的表面电镀一层金);c、制作感光湿膜3对金手指1进行二次蚀刻,感光湿膜3位于小导电线4的上方,感光湿膜3与金手指本体1的间距a为0.3~5.3mil,本实施例中选择间距a等于2.8mil。如图5、图6所示,是采用本专利技术实施例对金手指二次蚀刻后金手指前端包金(不含二次蚀刻的导电线)的切片实物图和金手指平面图;从图中可以看出,通过本专利技术所述方法制作的金手指,除导电线位置其余部分的端面为包金,不存在悬金现象,只有在二次蚀刻的导电线位置会出现较小的悬金现象,悬金长度较短,考虑到感光湿膜+/-2.5mil的对位差异,金手指前端会存在≤6mil的悬金残留,权衡悬金带来的重大品质隐患,小于等于6mil的小范围悬金是完全可以接受的。如图1、图2、图3所示,现有技术中导电线2设计与金手指本体1的宽度相等,通过感光湿膜3二次蚀刻后,会存在悬金11问题,悬金11的长度等于金手指本体1的宽度,金手指悬金在插拔过程中易出现脱落,如掉入元器件周围,会出现短路风险。本专利技术通过对需要进行二次蚀刻的金手指进行规划,在满足使用要求的前提下,改变需要分段或改变长度的金手指导电线处的宽度,二次蚀刻后悬金长度大大减小,即使发生金手指悬金掉入元器件周围,也不会出现短路的问题。以上所述仅是本专利技术的优选实施方式,应当指出,对于本
的普通技术人员来说,在不脱离本专利技术技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种改善长短、分段金手指悬金的方法,其特征是,包括:/na、对需要进行二次蚀刻的金手指进行规划,改变与金手指本体连接的导电线的宽度;/nb、制作规划好的金手指并电金;/nc、制作感光湿膜对金手指进行二次蚀刻。/n

【技术特征摘要】
1.一种改善长短、分段金手指悬金的方法,其特征是,包括:
a、对需要进行二次蚀刻的金手指进行规划,改变与金手指本体连接的导电线的宽度;
b、制作规划好的金手指并电金;
c、制作感光湿膜对金手指进行二次蚀刻。


2.根据权利要求1所述的改善长短、分段金手指悬金的方法,其特征是,所述导电线的宽度小于所述金手指本体的宽度。


3.根据权利要求2所述的改善长短、分段金手指悬金的方法,其特征是,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:张文和赵波
申请(专利权)人:黄石沪士电子有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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