本申请提供了一种反射面位于静区上方的紧缩场天线测量系统，包括底座、骨架、可调背架、反射面、馈源、馈源转台、被测天线和天线支架，反射面位于紧缩场静区的正上方，所述反射面通过可调背架固定在骨架上，馈源和馈源转台安装在骨架的横梁上，被测天线水平放置并通过天线支架固定在底座上。该系统结构紧凑，占地面积小，被测天线能够水平放置，安装时无需变换被测天线的姿态，减少了被测天线的安装时间和复杂度，易于实现被测天线的自动化流水线测量。
A compact field antenna measurement system with reflector above static area
【技术实现步骤摘要】
一种反射面位于静区上方的紧缩场天线测量系统
本申请涉及电磁测量领域，更具体地说，涉及天线测量领域，具体涉及一种紧缩场天线测量系统，其反射面位于静区上方。
技术介绍
天线作为无线通信系统中一个重要组成部分，单独的天线测量是无线通讯测试中的必要环节。随着第五代移动通讯（5G）技术的快速发展，5G通讯的传输性能指标将达到Gbps量级，需要通讯频率扩展到3GHz以上。传统4G的天线测试方法已不适用于5G天线测试要求，目前各厂家和研究所提出了不同类型的5G天线测试方法。在紧缩场中，馈源一般发出球面波，经过反射面的反射后形成平面波，通常静区是指所形成的平面波的幅度、相位、交叉极化等指标特征较好的区域，也就是说，紧缩场法能以很小的场地模拟出较好的平面波，无需进行数学转换就能直接用于电磁测试，逐渐成为5G天线测试的主流测试方法。某典型的5G通讯基站天线尺寸为约为480mmx220mmx130mm，质量约为20kg。传统紧缩场的反射面位于静区的侧方，占地面积大，被测天线必须竖直放置，而5G通讯天线在转运时都是水平放置，测试时必须变换天线姿态，因此存在以下弊端：1)紧缩场的反射面位于静区的侧方，整个紧缩场占地面积大，增加了场地成本和运输难度；2)5G通讯天线由水平转为竖直时，需要人力或者自动化工装，增加了复杂度和作业时间，提高了成本；而且由于天线较重，易发生天线跌落，造成天线损坏；3)5G通讯天线竖直安装时，天线的接线位于下方，不易操作。
技术实现思路
为了解决5G通讯天线在现有紧缩场进行测量时，存在的紧缩场系统占地面积大，5G通讯天线由水平转为竖直出现的操作复杂、成本高、安全性差和效率低的问题，提供一种紧缩场天线测量系统，其反射面位于静区上方。一种紧缩场天线测量系统，其特征在于：包括底座（1）、骨架（2）、可调背架（3）、反射面（4）、馈源（5）、馈源转台（6）、被测天线（7）和天线支架（8），反射面（4）通过可调背架（3）固定在骨架（2）上且位于紧缩场静区的正上方，馈源（5）和馈源转台（6）安装在骨架（2）的横梁上且位于紧缩场静区的侧方且位于紧缩场静区的上方，被测天线（7）和天线支架（8）固定在底座（1）上。进一步，所述的被测天线（7）水平放置，所述的被测天线（7）发射的电磁波方向为垂直向上。进一步，所述的可调背架（3）通过可调螺杆，实现反射面（4）轴线方向与被测天线（7）发射的电磁波方向平行。进一步，所述的馈源转台（6）具有三个方向的调整装置，可将馈源（5）的相位中心调整至反射面（4）的旋转抛物面（11）的焦点，调整后的位置误差优于±0.1mm。进一步，所述的馈源转台（6）具有切换馈源（5）极化功能，可将馈源（5）进行水平极化和垂直极化的自由切换，馈源转台（6）调整角度精度优于±0.01°。通过本申请的紧缩场天线测量系统，其结构紧凑，占地面积小，被测天线能够水平放置，安装时无需变换被测天线的姿态，减少了被测天线的安装时间和复杂度，易于实现被测天线的自动化流水线测量。附图说明图1为一种紧缩场天线测量系统的原理图。图2为一种紧缩场天线测量系统的示意图。图3为一种紧缩场天线测量系统的俯视图。图4为一种紧缩场天线测量系统的侧视图。图5为一种紧缩场天线测量系统的反射面示意图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本技术，并非用于限定本技术的范围。本专利技术实施例提供了一种紧缩场天线测量系统，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式进行描述。图1示出了一种紧缩场天线测量系统的原理图。所述馈源5发出球面波9，经安装于骨架2上方的反射面4的反射后，形成为平面波10，用于对位于下方的被测天线7的各项指标参数进行测量。图2-4示出了一种紧缩场天线测量系统，包括底座1、骨架2、可调背架3、反射面4、馈源5、馈源转台6、被测天线7和天线支架8，其中所述反射面4通过可调背架3固定在骨架2上且位于紧缩场静区的正上方，馈源5和馈源转台6安装在骨架2的横梁上且位于紧缩场静区的侧方且位于紧缩场静区的上方。被测天线7和天线支架8固定在底座1上，并且被测天线7水平放置，所述的被测天线7发射的电磁波方向为垂直向上。所述可调背架3通过可调螺杆，从而实现反射面4轴线方向与被测天线7发射的电磁波方向平行。所述馈源转台6具有三个方向的调整装置，可将馈源5的相位中心调整至反射面4的焦点，调整后的位置误差优于±0.1mm。由于所述反射面位于紧缩场的静区上方，其占地面积小，被测天线水平放置，安装时无需变换被测天线的姿态，减少了被测天线的安装时间和复杂度，降低了测量成本，易于实现被测天线的自动化流水线测量。在实际操作中，由于被测天线发射的电磁波方向在测量前很难确定，故假定与天线支架的安装平面垂直且向上的方向为被测天线发射的电磁波方向。利用激光跟踪仪测量出反射面与天线支架的相对位置和姿态关系，通过可调背架的可调螺杆，实现反射面的旋转抛物面轴线方向与天线支架的安装平面垂直，调整后的角度误差优于±0.01°。利用激光跟踪仪测量出反射面与馈源的相对位置和姿态关系，通过对馈源转台调整装置三个方向的位置调整，将馈源的相位中心调整至反射面的旋转抛物面焦点，调整后的位置误差优于±0.1mm。被测天线水平放置，通过自动输送装置或手动推车，无需进行姿态变化，直接转运至天线支架上进行定位和固定，然后连接被测天线的电源线、射频线和网络通讯线。图5示出了一种紧缩场天线测量系统的反射面，所述的反射面4的中心区域为旋转抛物面11，四周为卷边12。以上所述仅为本技术的较佳实施例，并不用以限制本技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种紧缩场天线测量系统，其特征在于：包括底座（1）、骨架（2）、可调背架（3）、反射面（4）、馈源（5）、馈源转台（6）、被测天线（7）和天线支架（8），反射面（4）通过可调背架（3）固定在骨架（2）上且位于紧缩场静区的正上方，馈源（5）和馈源转台（6）安装在骨架（2）的横梁上且位于紧缩场静区的侧方且位于紧缩场静区的上方，被测天线（7）和天线支架（8）固定在底座（1）上。/n
【技术特征摘要】
1.一种紧缩场天线测量系统，其特征在于：包括底座（1）、骨架（2）、可调背架（3）、反射面（4）、馈源（5）、馈源转台（6）、被测天线（7）和天线支架（8），反射面（4）通过可调背架（3）固定在骨架（2）上且位于紧缩场静区的正上方，馈源（5）和馈源转台（6）安装在骨架（2）的横梁上且位于紧缩场静区的侧方且位于紧缩场静区的上方，被测天线（7）和天线支架（8）固定在底座（1）上。
2.根据权利要求1所述的一种紧缩场天线测量系统，其特征在于：所述的被测天线（7）水平放置，所述的被测天线（7）发射的电磁波方向为垂直向上。
3.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：李德军，陈海波，王昕旸，
申请(专利权)人：北京中测国宇科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11
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