一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统技术方案

技术编号:23760664 阅读:46 留言:0更新日期:2020-04-11 17:18
本实用新型专利技术公开了一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统,包括:暗室、待测目标、固定装置、矢量网络分析仪、太赫兹矢网扩展模块、计算机、电扫天线和馈电模块,所述的电扫天线、馈电模块均位于暗室的内部,所述的电扫天线与太赫兹矢网扩展模块之间通过馈电模块控制连接。通过上述方式,一种小型化、快速便捷、低成本太赫兹紧缩场可获得待测目标的雷达反射截面或者待测天线的远场方向图数据,采用了全新的有源电扫天线取代原有的发射面或全息光栅,降低了系统成本、减少了使用空间同时提供小型化紧缩场快速测试的能力。

A terahertz compact field test system based on scan antenna

【技术实现步骤摘要】
一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统
本专利技术工业检测、科学实验、测试计量等领域,特别是涉及一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统。
技术介绍
通信、雷达、导航、遥感、广播、电视等无线电技术设备,都是通过无线电波来传递信息的,都需要有无线电波的辐射和接收。在无线电技术设备中,用来辐射和接收电磁波的装置称为天线。天线是无线电信息传播系统中必不可少的重要组成部分,使用矢量网络分析仪及矢量网络扩展模块可以对微波到太赫兹天线的方向图等核心参数进行测试,从而获得天线的主要性能参数指标。获取天线参数指标目前主要有远场法,近场法和紧缩场法。远场法耗资巨大、用时数月常常需要在数十公里距离进行测试,近场法需要近场数据转换为远场数据有一定误差。紧缩场测量系统是一种天线测量系统,可以在近距离内提供一个性能优良的准平面波测试区。过去它采用精密的反射面或者全息光栅,将馈源产生的球面波在近距离内变换为平面波,从而满足远场测试要求。紧缩场测量系统就是在较小的微波暗室里模拟远场的平面波电磁环境,利用常规的远场测试设备和方法,进行多项测量和研究,如天线方向图本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统,包括:暗室(1)、待测目标(2)、固定装置(8)、矢量网络分析仪(6)、太赫兹矢网扩展模块(5)和计算机(7),所述的暗室(1)为太赫兹暗室且具备内部空间,所述待测目标(2)、固定装置(8)均位于暗室(1)的内部,所述的待测目标(2)位于固定装置(8)的顶平面上方,所述的矢量网络分析仪(6)发出毫米波信号,所述的计算机(7)、矢量网络分析仪(6)、太赫兹矢网扩展模块(5)均位于暗室(1)的外部,所述的计算机(7)之间电性连接,所述的计算机(7)还与矢量网络分析仪(6)、太赫兹矢网扩展模块(5)之间依次顺序连接;/n其特征在于,所述的基于电扫天线的太赫...

【技术特征摘要】
1.一种基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统,包括:暗室(1)、待测目标(2)、固定装置(8)、矢量网络分析仪(6)、太赫兹矢网扩展模块(5)和计算机(7),所述的暗室(1)为太赫兹暗室且具备内部空间,所述待测目标(2)、固定装置(8)均位于暗室(1)的内部,所述的待测目标(2)位于固定装置(8)的顶平面上方,所述的矢量网络分析仪(6)发出毫米波信号,所述的计算机(7)、矢量网络分析仪(6)、太赫兹矢网扩展模块(5)均位于暗室(1)的外部,所述的计算机(7)之间电性连接,所述的计算机(7)还与矢量网络分析仪(6)、太赫兹矢网扩展模块(5)之间依次顺序连接;
其特征在于,所述的基于电扫天线的太赫兹紧缩场测试系统还包含有电扫天线(3)和馈电模块(4),所述的电扫天线(3)、馈电模块(4)均位于暗室(1)的内部,所述的电扫天线(3)与太赫兹矢网扩展模块(5)之间通过馈电模块(4)控制连接,
其中,所述的矢量网络分析仪(6)发出毫米波信号后,经太赫兹矢网扩展模块(5)放大倍频到太赫兹频段,得到太赫兹信号,所述的太赫兹信号通过电扫天线(3)后转换为自由空间平面波;自由空间平面波照射到待测目标(2),经待测目标(2)反射后再原路返回到电扫天线(3),电扫天线(3)接收后还原为电流信号,电流信号经太赫兹矢网扩展模块(5)下变频为毫米波信号,毫米波信...

【专利技术属性】
技术研发人员:张宇
申请(专利权)人:苏州特拉芯光电技术有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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