非接触式宽温差红外温度测量方法技术

本发明专利技术属于温度测量技术领域，具体涉及一种非接触式宽温差红外温度测量方法，包括：设置测量系统，在温箱中设置黑体、探测器、成像仪和光学窗口；根据测温范围对探测器进行配置；在不同的环境温度下改变黑体温度，寻找出同一黑体温度下成像仪灰度输出与焦平面温度的关系，获得灰度‑焦平面温度拟合曲线；实际测温时，根据当前焦平面温度，带入灰度‑焦平面温度拟合曲线，得到不同黑体温度对应的待拟合灰度输出；根据多个待拟合灰度输出与定标黑体温度，实时拟合出灰度‑温度曲线，将当前像素灰度带入该曲线，即可得到最终的测温温度输出。该方法测温速度快，灵敏性高，红外测温仪对温度的响应速度非常快，可以进行实时、快速的跟踪测量。

Non contact infrared temperature measurement method with wide temperature difference

【技术实现步骤摘要】
非接触式宽温差红外温度测量方法
本专利技术属于温度测量
，具体涉及一种非接触式宽温差红外温度测量方法。
技术介绍
近年来，关于非接触式温度测量的产品在市场上深受大家的青睐，但市场上的非接触测温产品容易受以下方面的影响而造成测量精度不准：(1)灵敏性：探测器响应时间长、反应慢，无法实时测量温度；(2)目标大小：目标过小容易导致测温产品无法检测到目标而导致测温失败；(3)测温范围：测温范围窄，无法实现测量宽温差的温度范围；(4)环境条件：无法适应宽范围的环境温度范围。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术要解决的技术问题是：然后提供一种非接触式的红外温度测量方法，要求其测温范围较宽，可以快速测温的同时又可以确保测温的精度，从而克服传统测温技术中难以解决的难题。(二)技术方案为解决上述技术问题，本专利技术提供一种非接触式宽温差红外温度测量方法，所述方法包括如下步骤：步骤1：设置测量系统，在温箱中设置黑体、探测器、成像仪和光学窗口；步骤2：根据测温范围对探测器进行配置，确保成像本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种非接触式宽温差红外温度测量方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：/n步骤1：设置测量系统，在温箱中设置黑体、探测器、成像仪和光学窗口；/n步骤2：根据测温范围对探测器进行配置，确保成像仪在不同环境温度及不同的探测器配置下面对黑体不出现灰度饱和；/n步骤3：在不同的环境温度下改变黑体温度，寻找出同一黑体温度下成像仪灰度输出与焦平面温度的关系，获得灰度-焦平面温度拟合曲线；/n步骤4：实际测温时，根据当前焦平面温度，带入灰度-焦平面温度拟合曲线，得到不同黑体温度对应的待拟合灰度输出；/n步骤5：根据多个待拟合灰度输出与定标黑体温度，实时拟合出灰度-温度曲线，将当前像素灰度带入该曲线，即可...

【技术特征摘要】
1.一种非接触式宽温差红外温度测量方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
步骤1：设置测量系统，在温箱中设置黑体、探测器、成像仪和光学窗口；
步骤2：根据测温范围对探测器进行配置，确保成像仪在不同环境温度及不同的探测器配置下面对黑体不出现灰度饱和；
步骤3：在不同的环境温度下改变黑体温度，寻找出同一黑体温度下成像仪灰度输出与焦平面温度的关系，获得灰度-焦平面温度拟合曲线；
步骤4：实际测温时，根据当前焦平面温度，带入灰度-焦平面温度拟合曲线，得到不同黑体温度对应的待拟合灰度输出；
步骤5：根据多个待拟合灰度输出与定标黑体温度，实时拟合出灰度-温度曲线，将当前像素灰度带入该曲线，即可得到最终的测温温度输出。


2.如权利要求1所述的非接触式宽温差红外温度测量方法，其特征在于，所述方法所应用的工作环境温度范围为0℃～40℃。


3.如权利要求2所述的非接触式宽温差红外温度测量方法，其特征在于，所述方法所进行的测温范围为5℃～300℃。


4.如权利要求3所述的非接触式宽温差红外温度测量方法，其特征在于，所述步骤2中对探测器...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘冰，马群，
申请(专利权)人：天津津航技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：天津;12