一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法技术

本发明专利技术提出一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，包括如下步骤：(1)在示波器上调出余辉模式；(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、EMMC_CLK；(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC内部输出信号的信息进行记录；(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对，以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。通过该方法，可以有效地测试和判断SOC(System on chip)端输出信号是否稳定可靠，对系统通讯的稳定性提供进一步的保障。

A method to measure the stability of SOC signal through the afterglow mode of oscilloscope

【技术实现步骤摘要】
一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法
本专利技术涉及测试领域，尤其是一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法。
技术介绍
SOC(Systemonchip)端输出信号是否稳定可靠，很大的影响了系统通讯的稳定性，然而现有的SOC在出厂后，用户一般没有方法去测试其信号是否具备稳定性，因此急需开发一种方案来测试SOC(Systemonchip)端输出信号，判断输出信号是否稳定可靠。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术提出一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，通过该方法，可以有效地测试和判断SOC(Systemonchip)端输出信号是否稳定可靠，对系统通讯的稳定性提供进一步的保障。本专利技术通过以下技术方案实现的：本专利技术提出一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，包括如下步骤：(1)在示波器上调出余辉模式；(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、EMMC_CLK；(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC内部输出信号的信息进行记录；(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对，以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。进一步的，包含SOC内部输出信号的信息包括信号波形、信号抖动、时钟信号的参数数据、输入指令的参数数据、输出指令的参数数据、输入数据的参数数据、输出数据的参数数据。本专利技术的有益效果：本专利技术提出的通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，包括如下步骤：(1)在示波器上调出余辉模式；(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、EMMC_CLK；(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC内部输出信号的信息进行记录；(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对，以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。通过该方法，可以有效地测试和判断SOC(Systemonchip)端输出信号是否稳定可靠，对系统通讯的稳定性提供进一步的保障。附图说明图1为本专利技术中通过示波器余辉模式对SOC信号测量的测量结果表。具体实施方式为了更加清楚、完整的说明本专利技术的技术方案，下面结合附图对本专利技术作进一步说明。本专利技术提出一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，包括如下步骤：(1)在示波器上调出余辉模式；(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、EMMC_CLK；(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC内部输出信号的信息进行记录；(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对，以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。在本实施方式中，步骤(1)具体为：先选择示波器上的“display”按钮；然后在“display”弹出的下拉菜单中选择“DisplayPersistence”按钮；最后“DisplayPersistence”弹出的下拉菜单中选择“InfinitePersistence”按钮，以此完成余晖模式的设置。进一步的，包含SOC内部输出信号的信息包括信号波形、信号抖动、时钟信号的参数数据、输入指令的参数数据、输出指令的参数数据、输入数据的参数数据、输出数据的参数数据。在本实施方式中，受电源纹波、温度等的影响，或者内部PLL设计的问题，导致SOC内部输出信号的不稳定，进而影响系统通讯的稳定性。在本实施方式中，通过观察测试项目中相应余晖的宽度，可以看出信号波形的形状，信号抖动是否严重。在本实施方式中，时钟信号的参数数据主要包括频率、周期、占空比、斜率、脉冲宽度，其中，时钟信号的频率的预设标准值为0～200MHZ；时钟信号的周期的预设标准值为不小于5ns；时钟信号的占空比的预设标准值为30％～70％；时钟信号的斜率的预设标准值为不小于1.125V/ns，时钟信号的脉冲宽度的预设标准值为不小于2.2ns。在本实施方式中，输入指令的参数数据包括建立时间、保持时间，其中，建立时间的预设标准值为不小于1.4ns，保持时间的预设标准值为不小于0.8ns。在本实施方式中，输出指令的参数数据包括建立时间、保持时间，其中，建立时间的预设标准值为0～2ns，保持时间的预设标准值为不小于0.575ns。在本实施方式中，输入数据的参数数据包括建立时间、保持时间、斜率，其中，建立时间的预设标准值为不小于0.4ns，保持时间的预设标准值为不小于0.4ns，斜率的预设标准值为不小于1.125V/ns。在本实施方式中，输出数据的参数数据包括输出偏差时间、输出偏差保持时间、斜率，其中，输出偏差时间的预设标准值为不大于0.4ns，输出偏差保持时间的预设标准值为不大于0.4ns，斜率的预设标准值为不小于1.125V/ns。在本实施方式中，利用示波器的余辉磨损功能，调节测试记录长度，单位时间内尽可能记录器件工作时信号波形，对信号抖动边界，质量能更清楚展现，如时序测试的上边界和下边界范围，斜率，过冲等，再对数据进行分析总结，判断当前设计是否合理是否有足够余量来满足SOC信号的可靠性，稳定性。如图1所示，包含SOC内部输出信号的信息的测试结果均在各自的预设标准值的范围中，比如测试项目中的时钟，抖动为195ps，200Mhz时钟的周期为5ns，占比为3.9％，对整体时钟来说，影响较小，可以判断时钟是比较稳定的；同理对比信号线的测试结果来看，信号本身也是比较稳定的。如上所述，SOC信号比较稳定，同时结合测试结果，相比各项参数的余量都比较充足，就能判断系统稳定性较高；比如“输入指令”的建立时间，要求最小值为1.4nS，但现在测试结果为2.325nS，余量为0.925nS(2.325-1.4)，即使去掉信号抖动的195ps，还有0.73nS的余量，能够确保信号的稳定读取，保持时间等等参数也是如此判断。通过本专利技术提出的通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，可以有效地测试和判断SOC(Systemonchip)端输出信号是否稳定可靠，对系统通讯的稳定性提供进一步的保障。当然，本专利技术还可有其它多种实施方式，基于本实施方式，本领域的普通技术人员在没有做出任何创造性劳动的前提下所获得其他实施方式，都属于本专利技术所保护的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，其特征在于，包括如下步骤：/n(1)在示波器上调出余辉模式；/n(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、EMMC_CLK；/n(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC内部输出信号的信息进行记录；/n(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对，以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。/n

【技术特征摘要】
1.一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，其特征在于，包括如下步骤：
(1)在示波器上调出余辉模式；
(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、EMMC_CLK；
(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC内部输出信号的信息进行记录；
(4)将包含SOC内部输出...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄德华，冯杰，张坤，李远远，方宏飞，
申请(专利权)人：晶晨半导体深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44