复合结构接合线检查制造技术

复合结构接合线检查。提出了一种X射线检查系统。该X射线检查系统包括X射线源、X射线闪烁体、光检测器、第一物镜和第二物镜。第一物镜被定位在X射线闪烁体和光检测器之间。第二物镜被定位在第一物镜和光检测器之间。

Joint line inspection of composite structure

【技术实现步骤摘要】
复合结构接合线检查
本公开总体上涉及检查复合结构，更具体地，涉及检查复合结构中的接合线(bondline)。更具体地，本公开涉及一种使用X射线检查复合结构中的接合线的方法和设备。
技术介绍
目前，在复合材料制造中还没有方法来确保准确和可靠的结合强度。在制造复合结构期间不一致可能被引入到接合线中。不一致可能导致不理想的高返工和废品率。目前，无法使用传统非破坏性技术来量化复合材料结合强度。可能难以视觉上或使用非破坏性测试来检测接合线中的不一致。复合结构的接合线中的一些类型的不一致(例如，微孔、结晶和紧贴型脱接(kissingdisbond))目前可能还无法使用非破坏性检查技术来检测。此外，接合线的非破坏性测试可能不理想地耗时或不理想地成本高中的至少一个。因此，将期望的是，有一种考虑了至少一些上述问题以及其它可能的问题的方法和设备。
技术实现思路
本公开的例示性实施方式提供了一种X射线检查系统。该X射线检查系统包括X射线源、X射线闪烁体、光检测器、第一物镜和第二物镜。第一物镜被定位在X射线闪烁体和光检测器之间。第二物镜被定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线检查系统(100)，该X射线检查系统(100)包括：/nX射线源(106)；/nX射线闪烁体(108)；/n光检测器(110)；/n定位在所述X射线闪烁体(108)和所述光检测器(110)之间的第一物镜(112)；以及/n定位在所述第一物镜(112)和所述光检测器(110)之间的第二物镜(114)。/n

【技术特征摘要】
20181004 US 16/151,9341.一种X射线检查系统(100)，该X射线检查系统(100)包括：
X射线源(106)；
X射线闪烁体(108)；
光检测器(110)；
定位在所述X射线闪烁体(108)和所述光检测器(110)之间的第一物镜(112)；以及
定位在所述第一物镜(112)和所述光检测器(110)之间的第二物镜(114)。


2.根据权利要求1所述的X射线检查系统(100)，其中，所述第一物镜(112)被定位为使得所述第一物镜(112)与所述X射线闪烁体(108)相距第一距离(116)。


3.根据权利要求1所述的X射线检查系统(100)，其中，所述光检测器(110)包括电荷耦合器件CCD图像检测器(134)或互补金属氧化物半导体CMOS图像检测器(136)中的一个。


4.根据权利要求1所述的X射线检查系统(100)，该X射线检查系统(100)还包括：
X射线源壳体(140)，其中，所述X射线源(106)被定位在所述X射线源壳体(140)内；以及
检测器壳体(144)，其中，所述X射线闪烁体(108)、所述光检测器(110)、所述第一物镜(112)和所述第二物镜(114)被定位在所述检测器壳体(144)内。


5.根据权利要求1所述的X射线检查系统(100)，其中，所述第一物镜(112)具有抗反射涂层(120)，该抗反射涂层(120)被配置为选择性地阻挡具有所述X射线闪烁体(108)所发射的光(124)的波长(122)的光。


6.根据权利要求1所述的X射线检查系统(100)，其中，所述第二物镜(114)具有抗反射涂层(126)，该抗反射涂层(126)被配置为选择性地阻挡具有所述X射线闪烁体(108)所发射的光(124)的波长(122)的光。


7.根据权利要求1所述的X射线检查系统(100...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·萨法伊，
申请(专利权)人：波音公司，
类型：发明
国别省市：美国;US