【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电源装置
本专利技术涉及电源装置,特别涉及具有包括一对半导体元件的半导体开关的电源装置。
技术介绍
例如,在日本特开平10-126980号公报(专利文献1)中公开了这样的不间断电源装置,该不间断电源装置具有:半导体开关,包括被反向并联连接于商用交流电源和负载之间的一对晶闸管,在商用交流电源正常时被接通;逆变器,在商用交流电源停电时对负载供给交流电;两个变压器,分别检测半导体开关的一个端子及另一个端子的电压;以及故障检测器,在两个变压器的二次电压的偏差偏离规定范围的情况下,输出表示一对晶闸管中某一个晶闸管不触发(misfiring)的故障检测信号。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开平10-126980号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题但是,在专利文献1中,为了检测晶闸管的不触发而设置两个变压器,因而存在装置大型化的问题。因此,本专利技术的主要目的是提供一种小型的电源装置。用于解决课题的手段有关本专利技术的电源装置具有:半导体开关,第一端子接受由第一交流电源供给的交流电,第二端子连接于负载;第一及第二电流检测器,分别检测在半导体开关流过的电流的瞬时值,并输出表示检测值的信号。半导体开关包括流过第一极性的电流的第一半导体元件、和流过第二极性的电流的第二半导体元件。第一电流检测器包括输出与其检测电流对应的值的电信号的变压器。第二电流检测器包括将根据其检测电流而产生的磁场转换成电信号的磁电转换元件。该电源装置还具有故障检测器,在第 ...
【技术保护点】
1.一种电源装置,具有:/n半导体开关,第一端子接受由第一交流电源供给的交流电,第二端子连接于负载;/n第一及第二电流检测器,分别检测在所述半导体开关流过的电流的瞬时值,并输出表示检测值的信号,/n所述半导体开关包括流过第一极性的电流的第一半导体元件、和流过第二极性的电流的第二半导体元件,/n所述第一电流检测器包括输出与其检测电流对应的值的电信号的变压器,/n所述第二电流检测器包括将根据其检测电流而产生的磁场转换成电信号的磁电转换元件,/n所述电源装置还具有故障检测器,在所述第一及第二电流检测器的检测值不一致的情况下,所述故障检测器输出表示电流不流过所述第一及第二半导体元件中的某一个半导体元件的故障检测信号。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种电源装置,具有:
半导体开关,第一端子接受由第一交流电源供给的交流电,第二端子连接于负载;
第一及第二电流检测器,分别检测在所述半导体开关流过的电流的瞬时值,并输出表示检测值的信号,
所述半导体开关包括流过第一极性的电流的第一半导体元件、和流过第二极性的电流的第二半导体元件,
所述第一电流检测器包括输出与其检测电流对应的值的电信号的变压器,
所述第二电流检测器包括将根据其检测电流而产生的磁场转换成电信号的磁电转换元件,
所述电源装置还具有故障检测器,在所述第一及第二电流检测器的检测值不一致的情况下,所述故障检测器输出表示电流不流过所述第一及第二半导体元件中的某一个半导体元件的故障检测信号。
2.根据权利要求1所述的电源装置,
所述第一及第二半导体元件分别具有第一及第二晶闸管,
所述第一及第二晶闸管被相互反向并联地连接于所述第一及第二端子之间。
3.根据权利要求1所述的电源装置,
所述第一及第二半导体元件分别具有第一及第二晶体管,
所述第一及第二晶体管的第一电极被相互连接,它们的第二电极分别被连接于所述第一及第二端子,
所述半导体开关还包括第一及第二二极管,
所述第一及第二二极管分别被反向并联地连接于所述第一及第二晶体管。
4.根据权利要求1所述的电源装置,
所述磁电转换元件具有霍尔元件。
5.根据权利要求1所述的电源装置,
在所述第一及第二半导体元件正常动作的情况下,所述第一及第二电流检测器的检测值一致,
在电流不流过所述第一及第二半导体元件中某一个半导体元件的情况下,由于偏磁现象,直流成分叠加在所述变压器的输出信号上,并且所述第一及第二电流检测器的检测值变得不一致。
6.根据权利要求5所述的电源装置,
所述故障检测器包括:
减法器,求出所述第一及第二电流检测器的检测值之差;以及
信号发生器,在所述差偏离预先设定的范围的情况下输出所述故障检测信号。
7.根据权利要求1所述的电源装置,
所述电源装置还具有通知部,响应于从所述故障检测器输出所述故障检测信号,该通知部对电流不流过所述第一及第二半导体元件中的某一个半导体元件这一情况进行通知。
8.根据权利要求1所述的电源装置,
所述半导体开关在来自所述第一交流电源...
【专利技术属性】
技术研发人员:中野俊秀,日永田一大,
申请(专利权)人:东芝三菱电机产业系统株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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