【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】铜蚀刻液
本专利技术涉及一种铜蚀刻液。
技术介绍
以往,作为电路图案的形成方法,已知有在整个面设置了约20μm左右的铜箔的基板上形成抗蚀剂后,蚀刻去除露出的铜箔的减除工艺。并且,作为更为精细的电路图案的形成方法,已知有在树脂基板的表面利用化学镀铜形成种晶层,在该种晶层上设置抗镀剂并利用电解镀铜形成电路后,蚀刻去除在电路间的基板上残留的种晶层的半加成工艺(SemiAdditiveProcess,SAP)等。半加成工艺中,作为用于蚀刻去除种晶层、即化学镀铜的铜蚀刻液,例如,已知有硫酸/过氧化氢类(专利文献1~3)、盐酸/二价铜类(专利文献4)、盐酸/亚铁类(专利文献5)的铜蚀刻液。另一方面,为了降低电性接触电阻或提高焊料浸润性,已知有在构成电路的铜的表面实施金、银、钯等比铜更昂贵的金属(离子化倾向小的金属)电镀的技术。然而,用上述专利文献1~5记载的铜蚀刻液来蚀刻与比铜昂贵的金属导通的铜时,与该昂贵的金属没有导通的铜相比,与比铜昂贵的金属导通的铜的蚀刻会加速(电化学腐蚀)。其结果,导致诸如随着电路的细化, ...
【技术保护点】
1.一种铜蚀刻液,该铜蚀刻液为碱性的铜蚀刻液,其特征在于,/n含有1~70g/L的铜、换算成25%氨水时为10~500g/L的氨水及5~500g/L的铵盐,/n所述铵盐为选自由无机酸的铵盐即硫酸铵、碳酸氢铵、硝酸铵,磺酸的铵盐即甲磺酸铵,饱和脂肪酸的铵盐即醋酸铵,芳香族羧酸的铵盐即苯甲酸铵,羟基酸的铵盐即乳酸铵,及二羧酸的铵盐即草酸铵组成的群组中的1种或2种以上的铵盐。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170714 JP 2017-1379951.一种铜蚀刻液,该铜蚀刻液为碱性的铜蚀刻液,其特征在于,
含有1~70g/L的铜、换算成25%氨水时为10~500g/L的氨水及5~500g/L的铵盐,
所述铵盐为选自由无机酸的铵盐即硫酸铵、碳酸氢铵、硝酸铵,磺酸的铵盐即甲磺酸铵,饱和脂肪酸的铵盐即醋酸铵,芳香族羧酸的铵盐即苯甲酸铵,羟基酸的铵盐即乳酸铵,及二羧酸的铵盐即草酸铵组成的群组中的1种或2种以上的铵盐。
2.如权利要求1所述的铜蚀刻液,其中,所述铜...
【专利技术属性】
技术研发人员:希代诚,渡口繁,熊谷博之,松原敏明,中村惟之,
申请(专利权)人:美录德有限公司,
类型:发明
国别省市:日本;JP
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。