【技术实现步骤摘要】
一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置
本技术涉及扫描探针显微镜等纳米表征领域,尤其涉及一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置。
技术介绍
自1982年扫描隧道显微镜(STM)出现以后,又陆续发展出了一系列工作原理相似的新型显微技术,主要包括原子力显微镜(AFM)、横向力显微镜(LFM)、磁力显微镜(MFM)、静电力显微镜(EFM)、近场光学显微镜(SNOM)、压电力显微镜(PFM)、扫描探针声学显微镜(SPAM)等,由于它们都是利用探针对被测样品进行扫描,同时检测扫描过程中探针与样品的相互作用(如样品-探针间的相互作用力等),得到样品相关性质(如形貌、摩擦力、磁畴结构等),因而统称为扫描探针显微镜(SPM)。扫描探针显微镜具有很高的分辨率,但受高精度压电驱动器运动行程的限制,其检测范围一般在100μm以内,在实际应用中,只能观测到样品的局部而不能观测到样品的整体。随着扫描探针显微镜的不断普及和应用领域的拓展,在如细胞生物学、分子生物学、微电子、纳米材料科学等领域的实际应用中,由于样品的不均匀性,需要检测的结构及探针定位 ...
【技术保护点】
1.一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置,其特征在于,包括物镜组件(1)和设置在样品(11)上方的探头装置(2),所述物镜组件(1)位于探头装置(2)上方;所述探头装置包括激光器(3)、微悬臂探针(4)和激光接收器(5);所述激光器(3)发射的激光直接到达微悬臂探针(4)并经过微悬臂探针(4)的悬臂梁背面反射后被激光接收器(5)接收。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置,其特征在于,包括物镜组件(1)和设置在样品(11)上方的探头装置(2),所述物镜组件(1)位于探头装置(2)上方;所述探头装置包括激光器(3)、微悬臂探针(4)和激光接收器(5);所述激光器(3)发射的激光直接到达微悬臂探针(4)并经过微悬臂探针(4)的悬臂梁背面反射后被激光接收器(5)接收。
2.根据权利要求1所述一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置,其特征在于,所述激光器(3)采用光纤耦合输出半导体激光器(6),所述光纤耦合输出半导体激光器(6)包含聚光透镜(7)。
3.根据权利要求2所述一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置,其特征在于,所述激光接收器(5)采用四象限光斑接收器(8)。
4.根据权利要求3所述一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置,其特征在于,所述聚光透镜(7)为汇聚微透镜。
5.根据权利要求3所述一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置,其特征在于,还包括光斑信号前置放大器(9),所述光斑信号前置放大器(9)的输入端与四象限光斑接收器(8)的输出端相连。
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【专利技术属性】
技术研发人员:吴浚瀚,
申请(专利权)人:广州市本原纳米仪器有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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