一种测制件轮廓及面装置制造方法及图纸

技术编号:23707630 阅读:31 留言:0更新日期:2020-04-08 11:42
本实用新型专利技术公开了一种测制件轮廓及面装置,包括长方体测块,长方体测块底部右侧开有圆柱形孔洞,圆柱形孔洞内部设有圆柱测规,圆柱测规右侧穿设有圆柱测规环,长方体测块顶部开有T型定位仓,T型定位仓底部设有测面规仓底定位块,T型槽位内部设有柱型测试柱,柱型测试柱由下至上依次穿设有限位块、定位块和测面规手提环,长方体测块一侧设有角规定位块,且角规定位块与长方体测块一体成型,角规定位块上方设有角规测定块,原有工具上增加另一种规格的测量工具数据后,测制件时一种工具可以得到多种规格的数据,不用更换另种工具进行测量,携带方便,还能缩短测量时间,可提高工作效率。

A device for measuring the profile and surface of the workpiece

【技术实现步骤摘要】
一种测制件轮廓及面装置
本技术涉及测量
,具体为一种测制件轮廓及面装置。
技术介绍
原检测制件轮廓及面时,现场测量使用工具多,检测数据不准确,工作时间长。在模具检测制件过程中,需要多种类型工具进行检测,如有检测面的工具,有检测轮廓的工具等,不断更换检测工具,检验重复上述工作效率低,这样造成时间及人力的浪费。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷,提供一种测制件轮廓及面装置,原有工具上增加另一种规格的测量工具数据后,测制件时一种工具可以得到多种规格的数据,不用更换另种工具进行测量,携带方便,还能缩短测量时间,可提高工作效率,可以有效解决
技术介绍
中的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种测制件轮廓及面装置,包括长方体测块,长方体测块底部右侧开有圆柱形孔洞,圆柱形孔洞内部设有圆柱测规,圆柱测规右侧穿设有圆柱测规环,长方体测块顶部开有T型定位仓,T型定位仓底部设有测面规仓底定位块,T型槽位内部设有柱型测试柱,柱型测试柱由下至上依次穿设有限位块、定位块和测面规手提环,长方体测块一侧设有角规定位块,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测制件轮廓及面装置,包括长方体测块(6),其特征在于:所述长方体测块(6)底部右侧开有圆柱形孔洞,圆柱形孔洞内部设有圆柱测规(10),圆柱测规(10)右侧穿设有圆柱测规环,长方体测块(6)顶部开有T型定位仓(4),T型定位仓(4)底部设有测面规仓底定位块(9),T型槽位内部设有柱型测试柱(5),柱型测试柱(5)由下至上依次穿设有限位块(3)、定位块(2)和测面规手提环(1),长方体测块(6)一侧设有角规定位块(12),且角规定位块(12)与长方体测块(6)一体成型,角规定位块(12)上方设有角规测定块(13)。/n

【技术特征摘要】
1.一种测制件轮廓及面装置,包括长方体测块(6),其特征在于:所述长方体测块(6)底部右侧开有圆柱形孔洞,圆柱形孔洞内部设有圆柱测规(10),圆柱测规(10)右侧穿设有圆柱测规环,长方体测块(6)顶部开有T型定位仓(4),T型定位仓(4)底部设有测面规仓底定位块(9),T型槽位内部设有柱型测试柱(5),柱型测试柱(5)由下至上依次穿设有限位块(3)、定位块(2)和测面规手提环(1),长方体测块(6)一侧设有角规定位块(12),且角规定位块(12)与长方体测块(6)一体成型,角规定位块(12)上方设有角规测定块(13)。


2.根据权利要求1所述的一种测制件轮廓及面装置,其特征在于:所述测面规仓底定位块(9)右侧开有圆柱形限定仓(16),且圆柱形限定仓(16)设有内螺纹,圆柱形限定仓(1...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵振兴贾志超赵建宏孙建辉郭建平
申请(专利权)人:天鹤汽车模具有限公司
类型:新型
国别省市:河南;41

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