【技术实现步骤摘要】
二维码印刷缺陷检测方法
本专利技术涉及二维码检测
，特别是涉及一种二维码印刷缺陷检测方法。
技术介绍
二维码因其信息储存量大、使用方便、成本低等优势而在产品信息识别、仓储、物流跟踪、移动支付等领域广泛应用。其中最常见的二维码为QR二维码，QR二维码有三个角有方块定位符。二维码在印刷过程中产生形状缺陷，会导致无法读取其内部信息，例如定位符是界定平面内是否存在二维码以及读取二维码信息时的平面定位基准，若其缺损或变形到一定程度，读取时扫描设备将无法找到、确定区域内是否存在二维码；若二维码外轮廓变形到一定程度，会导致定位符变形、定位符间相对位置关系改变而无法定位。此外，二维码在印刷过程中因印刷设备或外部原因可能出现缺角、轮廓变形、贯通的黑/白道等缺陷，使其无法被正常扫描获取信息。由于二维码主要由众多小尺寸、高密度的模块构成，人工检测存在效率低、可靠性差等现象，而机器视觉具有可视、直观、非接触、快速和易于与检测系统其它环节集成的特点。现阶段二维码的读写技术已然成熟，而对应的缺陷检测技术却发展缓慢，传统人工检测二维...
【技术保护点】
1.一种二维码印刷缺陷检测方法，其特征在于：包括以下步骤：/n步骤1：获取含有二维码的图像I，并对获取的图像进行预处理，得到二值化图像I
【技术特征摘要】
1.一种二维码印刷缺陷检测方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤1：获取含有二维码的图像I，并对获取的图像进行预处理，得到二值化图像Ic；
步骤2：二维码定位符缺陷检测及二维码外轮廓缺损、变形检测，
步骤2.1：搜索并统计二值化图像Ic中二维码定位符的个数N，若定位符个数N不等于3则认为有定位符缺失或存在定位符残缺；若定位符个数N等于3，则进入步骤2.2；
步骤2.2：计算以3个定位符形心为顶点的三角形两条短边像素长度a、b及两边所夹角度θ，若两个条件m1≤a/b≤n1和m2≤θ≤n2中任意一个不能满足，其中，m1和n1分别为a/b的最小值和最大值，m2和n2分别为θ的最小值和最大值，则认为定位符有变形、或定位符内部有污染、或二维码整体有变形，若能同时满足，则认为定位符无缺陷，转入步骤3；
步骤3：搜寻包容步骤2.2中三个定位符的最小外接矩形W，并对W进行水平校正后归一化为M1хM1像素大小，然后用M2хM2的结构元素对W所围区域中的白色像素进行腐蚀操作，其中M2为奇数且小于M1，然后计算W中剩余白色像素数占W总像素数之比Rw，若Rw≥λ，λ为像素比的阈值，则认为二维码在非定位符区域存在外轮廓缺损，反之转入步骤4；
步骤4：分别计算腐蚀操作前的W每行像素中黑色像素个数与W的宽度之比R1、W的每列像素中的黑色像素个数与W的高度之比R2，若Ri...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈从平，张润泽，陈继扬，张涛，王钦，姚威，
申请(专利权)人：常州大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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