数据存储方法及装置、存储介质、电子设备制造方法及图纸

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种数据存储方法及装置、存储介质、电子设备。所述方法包括：根据待存储数据的比特数和校验方式确定校验码的数量、各所述校验码的比特数、存储芯片的数量和各所述存储芯片上的接口的数量；将各所述校验码分别划分为多个子校验码，其中，各所述校验码的所述多个子校验码的数量均与所述存储芯片的数量相同；通过各所述存储芯片上的所述接口并采用将一所述校验码的各所述子校验码分别存储在不同的所述存储芯片中的方式将各所述校验码的各所述子校验码分别存储至不同的所述存储芯片中。本公开提高了数据存储的可靠性，且存储步骤简单，易于执行。

Data storage method and device, storage medium and electronic equipment

【技术实现步骤摘要】
数据存储方法及装置、存储介质、电子设备
本公开涉及计算机
，尤其涉及一种数据存储方法及装置、存储介质、电子设备。
技术介绍
高带宽存储器(HighBandwidthMemory，HBM)是超微半导体和SKHynix发起的一种基于3D堆栈工艺的高性能DRAM(DynamicRandomAccessMemory，即动态随机存取存储器)。高带宽存储器中包括多个DRAM，其中DRAM的数量和规格根据具体的情况进行设置。在向高带宽存储器中的DRAM中存储待存储数据时，首先结合校验方式例如SEC-DED海明码校验方式或者DEC-TED-BCH码校验方式等对待存储数据进行编码之后得到多个校验码，然后将各校验码存储至高带宽存储器中的DRAM中。然而，由于根据不同的校验方式得到的校验码所能纠正的出现错误的比特数是有限的，例如，采用SEC-DED海明码校验方式得到的校验码最多只能纠正校验码中的一个比特的错误，采用DEC-TED-BCH码校验方式得到的校验码可以纠正校验码中的两个比特的错误。基于此，在上述高带宽存储器的数据存储方式中，在高带宽存储器中的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数据存储方法，其特征在于，包括：/n根据待存储数据的比特数和校验方式确定校验码的数量、各所述校验码的比特数、存储芯片的数量和各所述存储芯片上的接口的数量；/n将各所述校验码分别划分为多个子校验码，其中，各所述校验码的所述多个子校验码的数量均与所述存储芯片的数量相同；/n通过各所述存储芯片上的所述接口并采用将一所述校验码的各所述子校验码分别存储在不同的所述存储芯片中的方式将各所述校验码的各所述子校验码分别存储至不同的所述存储芯片中。/n

【技术特征摘要】
1.一种数据存储方法，其特征在于，包括：
根据待存储数据的比特数和校验方式确定校验码的数量、各所述校验码的比特数、存储芯片的数量和各所述存储芯片上的接口的数量；
将各所述校验码分别划分为多个子校验码，其中，各所述校验码的所述多个子校验码的数量均与所述存储芯片的数量相同；
通过各所述存储芯片上的所述接口并采用将一所述校验码的各所述子校验码分别存储在不同的所述存储芯片中的方式将各所述校验码的各所述子校验码分别存储至不同的所述存储芯片中。


2.根据权利要求1所述的数据存储方法，其特征在于，所述根据待存储数据的比特数和校验方式确定校验码的数量、各所述校验码的比特数、存储芯片的数量和各所述存储芯片上的接口的数量包括：
获取所述待存储数据的比特数，并确定所述校验方式；
根据所述待存储数据的比特数并结合所述校验方式确定所述校验码的数量和各所述校验码的比特数；
根据所述校验码的数量和各所述校验码的比特数计算所述存储芯片的数量、各所述存储芯片上的接口的数量。


3.根据权利要求2所述的数据存储方法，其特征在于，所述根据所述校验码的数量和各所述校验码的比特数计算所述存储芯片的数量、各所述存储芯片上的接口的数量包括：
根据所述校验码的数量和各所述校验码中的数据码的比特数确定所述存储芯片中数据存储芯片的数量和各所述存储芯片上的接口的数量；
根据所述校验码的数量和所述校验码中的冗余码的比特数以及所述存储芯片上的接口的数量确定所述存储芯片中的冗余码存储芯片的数量；
根据所述冗余码存储芯片的数量和所述数据存储芯片的数量计算所述存储芯片的数量。


4.根据权利要求1～3中任一项所述的数据存储方法，其特征在于，所述校验方式为SEC-DED海明码校验方式或者DEC-TED-BCH码校验方式或者3EC-4ED-BCH码校验方式或者4EC-5ED-BCH码校验方式或者5EC-6ED-BCH码校验方式或者9EC-10ED-BCH码校验方式。


5.根据权利要求3所述的数据存储方法，其特征在于，所述待存储数据的比特数为1024；
若所述校验方式为SEC-DED海明码校验方式，则所述数据存储芯片的数量为8，所述冗余码存储芯片的数量为1，各所述存储芯片上的接口的数量均为128，或者所述数据存储芯片的数量为4，所述冗余码存储芯片的数量为1，各所述存储芯片上的接口的数量均为256，或者所述数据存储芯片的数量为2，所述冗余码存储芯片的数量为1，各所述存储芯片上的接口的数量均为512；
若所述校验方式为DEC-TED-BCH码校验方式，则所述数据存储芯片的数量为8，所述冗余码存储芯片的数量为2，各所述存储芯片上的接口的数量均为128，或者所述数据存储芯片的数量为4，所述冗余码存储芯片的数量为1，各所述存储芯片上的接口的数量均为256，或者所述数据存储芯片的数量为2，所述冗余码存储芯片的数量为1，各所述存储芯片上的接口的数量均为512；
若所述校验方式为3EC-4ED-BCH码校验方式，则所述数据存储芯片的数量为2，所述冗余码存储芯片的数量为1，各所述存储芯片上的接口的数量均为512；
若所述校验方式为4EC-5ED-BCH码校验方式，则所述数据存储芯片的数量为2，所述冗余码存储芯片的数量为1，各所述存储芯片上的接口的数量均为512。


6.根据权利要求3所述的数据存储方法，其特征在于，所述待存储数据的比特数为2048；
若所述校验方式为SEC-DED海明码校验方式，则所述数据存储芯片的数量为8，所述冗余码存储芯片的数量为1，各所述存储芯片上的接口的数量均为256，或者所述数据存储芯片的数量为4，所述冗余码存储芯片的数量为1，各所述存储芯片上的接口的数量均为512，或者所述数据存储芯片的数量为2，所述冗余码存储芯片的数量为1，各所述存储芯片上的接口的数量均为1024；
若所述校验方式为DEC-TED-BCH码校验方式，则所述数据存储芯片的数量为8，所述冗余码存储芯片的数量为2，各所述存...

【专利技术属性】
技术研发人员：林家圣，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34