卡件测试系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种卡件测试系统及方法，该系统包括：控制母板、设置于控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机；控制卡与上位机相连接；控制母板上设置有多个信号源卡槽，每个信号源卡槽用于放置信号源卡；所述测试母板上设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件；当所述控制卡接收到上位机发送的测试指令时，确定测试指令对应的目标信号源卡与目标卡件；所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。有效的提升了卡件的测试准确率。

Card test system and method

【技术实现步骤摘要】
卡件测试系统及方法
本专利技术涉及电子器件测试领域，特别涉及一种卡件测试系统及方法。
技术介绍
为了保障用电设备的运行稳定性，通常需要设计冗余电源，即，在某一电源出现故障时，可以切换至备用电源；或者，在某一电源无法满足用电设备的用电需求时，可以将该电源切换为满足用电设备的用电需求的电源。在设计冗余电路过程中，往往会应用到卡件对电压或电流进行传输，然而，为了保障冗余电路的安全性，需要搭建测试平台对卡件进行测试，应用现有的测试平台对卡件进行测量，由于其结构的缺陷，往往会导致卡件的测量结果不准确，且测试卡件所耗费的时间长。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种卡件测试系统及方法，能够提升卡件测试的准确率，减少测试卡件所耗费的时间。一种卡件测试系统，包括：控制母板、设置于所述控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机；所述控制卡与所述上位机相连接；所述控制母板上设置有多个信号源卡槽，每个所述信号源卡槽用于放置信号源卡，使每一所述信号源卡通过其所处的所述信号源卡槽与所述控制卡相连接；所述测试母板上设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件，使每个所述待测卡件通过其所处的所述卡件卡槽与所述控制卡相连接；当所述控制卡接收到所述上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽，并打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道，使所述目标信号源卡槽中的目标信号源卡通过所述信号通道与所述目标卡件卡槽中的目标待测卡件相连接；所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。上述的系统，可选的，所述控制卡包括：控制器、电源切换电路、开关量信号输出电路以及源卡槽位输出电路；所述控制器依据所述电源切换电路控制所述目标待测卡件与第一外部电源相连和/或第二外部电源相连接；所述控制器通过所述开关量信号输出电路与各个所述卡件卡槽相连接，以及与各个所述信号源卡槽相连接；所述控制器接收到所述测试指令时，通过所述槽位输出电路打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道。上述的系统，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡向所述目标待测卡件输出开关量信号，并接收所述目标待测卡件发送的与所述开关量信号对应的测试响应参数。上述的系统，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡向所述目标待测卡件发送测试信号，并接收所述目标待测卡件反馈的与所述测试信号对应的响应参数，其中，所述测试信号包括电压信号或电流信号。上述的系统，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，向所述目标待测卡件发送测试信号，并通过所述目标信号源卡接收所述目标待测卡件反馈的与所述测试信号对应的测试响应参数。上述的系统，可选的，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件进行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：所述控制卡依据所述测试指令控制所述目标待测卡件与第一外部电源相连接和/或第二外部电源相连接，并通过所述目标信号源卡采集所述目标待测卡件产生的测试响应参数。上述的系统，可选的，所述控制母板设置于机柜中。上述的系统，可选的，所述控制母板通过具有64pin欧插口的连接装置与所述测试母板相连接。一种卡件测试方法，包括：当接收到上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽；依据所述目标信号源卡槽中的信号源卡对目标卡件卡槽中的待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述待测卡件的测试响应参数；将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述待测卡件的测试结果。上述的方法，可选的，所述依据所述目标信号源卡槽中的信号源卡对目标卡件卡槽中的待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述待测卡件的测试响应参数，包括：依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡槽中的信号源卡向所述目标卡件卡槽中的待测卡件发送测试信号，其中，所述测试信号包括电压信号或电流信号；接收所述待测卡件反馈的与所述测试信号对应的响应参数。与现有技术相比，本专利技术包括以下优点：本专利技术提供了一种卡件测试系统，包括：控制母板、设置于所述控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机；所述控制卡与所述上位机相连接；所述控制母板上设置有多个信号源卡槽，每个所述信号源卡槽用于放置信号源卡，使每一所述信号源卡通过其所处的所述信号源卡槽与所述控制卡相连接；所述测试母板上设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件，使每个所述待测卡件通过其所处的所述卡件卡槽与所述控制卡相连接；当所述控制卡接收到所述上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽，并打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道，使所述目标信号源卡槽中的目标信号源卡通过所述信号通道与所述目标卡件卡槽中的目标待测卡件相连接；所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。能够提升卡件测试的准确率，减少测试卡件所耗费的时间。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术提供的一种卡件测试系统的结构示意图；图2为本专利技术提供的一种卡件测试系统的一局部结构示例图；图3为本专利技术提供的一种卡件测试系统的又一局部结构示例图；图4为本专利技术提供的一种卡件测试系统的又一局部结构示例图；图5为本专利技术提供的一种卡件测试系统的又一局部结构示例图；图6为本专利技术提供的一种卡件测试系统的又一局部结构示例图；图7为本专利技术提供的一种卡件测试方法的方法流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种卡件测试系统，其特征在于，包括：控制母板、设置于所述控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机；/n所述控制卡与所述上位机相连接；/n所述控制母板上设置有多个信号源卡槽，每个所述信号源卡槽用于放置信号源卡，使每一所述信号源卡通过其所处的所述信号源卡槽与所述控制卡相连接；/n所述测试母板上设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件，使每个所述待测卡件通过其所处的所述卡件卡槽与所述控制卡相连接；/n当所述控制卡接收到所述上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽，并打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道，使所述目标信号源卡槽中的目标信号源卡通过所述信号通道与所述目标卡件卡槽中的目标待测卡件相连接；/n所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种卡件测试系统，其特征在于，包括：控制母板、设置于所述控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机；
所述控制卡与所述上位机相连接；
所述控制母板上设置有多个信号源卡槽，每个所述信号源卡槽用于放置信号源卡，使每一所述信号源卡通过其所处的所述信号源卡槽与所述控制卡相连接；
所述测试母板上设置有多个卡件卡槽，每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件，使每个所述待测卡件通过其所处的所述卡件卡槽与所述控制卡相连接；
当所述控制卡接收到所述上位机发送的测试指令时，确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽，并打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道，使所述目标信号源卡槽中的目标信号源卡通过所述信号通道与所述目标卡件卡槽中的目标待测卡件相连接；
所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机，使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。


2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制卡包括：控制器、电源切换电路、开关量信号输出电路以及源卡槽位输出电路；
所述控制器依据所述电源切换电路控制所述目标待测卡件与第一外部电源相连和/或第二外部电源相连接；
所述控制器通过所述开关量信号输出电路与各个所述卡件卡槽相连接，以及与各个所述信号源卡槽相连接；
所述控制器接收到所述测试指令时，通过所述槽位输出电路打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道。


3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：
所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数，通过所述目标信号源卡向所述目标待测卡件输出开关量信号，并接收所述目标待测卡件发送的与所述开关量信号对应的测试响应参数。


4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试，获得所述目标待测卡件的测试响应参数，包括：
所述控制卡...

【专利技术属性】
技术研发人员：褚浩，郑伟建，梅超，
申请(专利权)人：浙江中控技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33