一种定位乳腺病灶穿刺点的方法及系统技术方案

本发明专利技术实施例提供了一种定位乳腺病灶穿刺点的方法，乳腺机包括压迫盘和探测器，待测乳腺位于压迫盘与探测器之间，包括：采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度，压迫厚度为压迫盘到探测器的距离；分别曝光采集乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像，得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标；根据平面病灶坐标、斜位病灶坐标及压迫厚度计算出病灶深度；利用病灶深度和平面病灶坐标对乳腺进行穿刺。通过采用本申请中的穿刺方法，只需要四次曝光，可大幅降低患者的辐射损伤；并且不需要人为的干预，就能获得病灶的平面位置和深度，可以大幅度提高定位穿刺点的精度，有效提高提取乳腺病灶的成功率。

【技术实现步骤摘要】
一种定位乳腺病灶穿刺点的方法及系统
本专利技术涉及医疗
，特别是涉及一种定位乳腺病灶穿刺点的方法和一种定位乳腺病灶穿刺点的系统。
技术介绍
为预防和减轻乳腺疾病对女性健康的危害，需用精确的检测手段正确诊断疾病以及时采取治疗措施。目前乳腺疾病检测的方式有：X光射线数字乳腺检测，超声乳腺检测以及磁共振乳腺检测等，其中，X光射线乳腺检测为最常用的检测方式。微小病灶(<10mm)准确检测能提早发现乳腺癌，尽早治疗乳腺癌，可延长女性寿命,但难完全通过影像学做出准确诊断。据权威调查得知，在10mm以下尺度上发现乳腺肿瘤，能延长患者寿命5～10年。临床上，通过穿刺针活检或导丝立体定位穿刺活检的方式，可对微小病灶进行准确诊断。无论通过穿刺针活检，还是通过导丝立体定位穿刺活检，都需计算出穿刺点的坐标，以此指导穿刺。现有技术中通过医师对预发射图像中穿刺针和病灶之间的位置来判断病灶能否被成功提取，但是由人直接通过对预发射图像中穿刺针和病灶之间的位置的判断进而确定病灶是否能被提取相对来说是比较困难的，且会存在判断错误的可能性。
技术实现思路
鉴于上述问题，提出了本专利技术实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种定位乳腺病灶穿刺点的方法和相应的一种定位乳腺病灶穿刺点的系统。为了解决上述问题，本专利技术实施例公开了一种定位乳腺病灶穿刺点的方法，所述乳腺机包括压迫盘和探测器，待测乳腺位于所述压迫盘与探测器之间，包括：采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度，所述压迫厚度为所述压迫盘到所述探测器的距离；分别曝光采集所述乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像，得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标；根据所述平面病灶坐标、所述斜位病灶坐标及所述压迫厚度计算出病灶深度；利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺。进一步地，所述利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺的步骤之后，还包括：分别曝光采集所述乳腺的第二轴位图像和第二斜位图像，并判断穿刺点是否准确；若不准确，则根据所述第二轴位图像和所述第二斜位图像调整所述穿刺点。进一步地，所述第一斜位图像具体为曝光角度与轴线呈45度时的图像。本专利技术实施例公开了一种定位乳腺病灶穿刺点的系统，所述乳腺机包括压迫盘和探测器，待测乳腺位于所述压迫盘与探测器之间，包括：厚度采集模块，用于采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度，所述压迫厚度为所述压迫盘到所述探测器的距离；曝光模块，用于分别曝光采集所述乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像，得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标；深度计算模块，用于根据所述平面病灶坐标、所述斜位病灶坐标及所述压迫厚度计算出病灶深度；穿刺模块，用于利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺。进一步地，还包括：二次曝光模块，用于分别曝光采集所述乳腺的第二轴位图像和第二斜位图像，并判断穿刺点是否准确；第二穿刺模块，用于若不准确，则根据所述第二轴位图像和所述第二斜位图像调整所述穿刺点。本专利技术实施例公开了一种电子设备，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上述的定位乳腺病灶穿刺点方法的步骤。本专利技术实施例公开了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的定位乳腺病灶穿刺点方法的步骤。本专利技术实施例包括以下优点：通过采用本申请中的穿刺方法，整个穿刺过程，只需要四次曝光，可大幅降低患者的辐射损伤；并且不需要人为的干预，就能获得病灶的平面位置和深度，可以大幅度提高定位穿刺点的精度，有效提高提取乳腺病灶的成功率。附图说明图1是本专利技术的一种定位乳腺病灶穿刺点方法实施例的步骤流程图；图2是本专利技术的一种定位乳腺病灶穿刺点方法实施例的步骤流程图；图3是本专利技术的一种定位乳腺病灶穿刺点系统实施例的轴位示意图；图4是本专利技术的一种定位乳腺病灶穿刺点系统实施例的轴位图像；图5是本专利技术的一种定位乳腺病灶穿刺点系统实施例的斜位示意图；图6是本专利技术的一种定位乳腺病灶穿刺点系统实施例的斜位图像；图7是本专利技术的一种定位乳腺病灶穿刺点系统实施例的结构框图；图8是本专利技术的一种定位乳腺病灶穿刺点系统实施例的结构框图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。本专利技术实施例的核心构思之一在于，本专利技术实施例提供了一种定位乳腺病灶穿刺点的方法，所述乳腺机包括压迫盘和探测器，待测乳腺位于所述压迫盘与探测器之间，包括：采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度，所述压迫厚度为所述压迫盘到所述探测器的距离；分别曝光采集所述乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像，得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标；根据所述平面病灶坐标、所述斜位病灶坐标及所述压迫厚度计算出病灶深度；利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺。通过采用本申请中的穿刺方法，只需要四次曝光，可大幅降低患者的辐射损伤；并且不需要人为的干预，就能获得病灶的平面位置和深度，可以大幅度提高定位穿刺点的精度，有效提高提取乳腺病灶的成功率。参照图1，示出了本专利技术的一种定位乳腺病灶穿刺点的方法实施例的步骤流程图，所述乳腺机包括压迫盘和探测器，待测乳腺位于所述压迫盘与探测器之间，具体可以包括如下步骤：S100，采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度，所述压迫厚度为所述压迫盘到所述探测器的距离；S200，分别曝光采集所述乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像，得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标；S300，根据所述平面病灶坐标、所述斜位病灶坐标及所述压迫厚度计算出病灶深度；S400，利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺。参照上述步骤S100所述，采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度，所述压迫厚度为所述压迫盘到所述探测器的距离。参照图3所示，利用压迫盘对待测乳腺进行压迫，其中压迫的厚度为D，球馆旋转到轴位，上述轴位具体指球馆与待测乳腺的连线与上述压迫盘表面垂直的角度。采集上述压迫盘压迫待测乳腺时的压迫厚度，乳腺位于压迫盘与探测器之间，上述压迫厚度为压迫盘压迫上述乳腺时，压迫盘到探测器的距离。参照上述步骤S200所述，分别曝光采集所述乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像，得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标。曝光，获取乳腺的轴位图像，病灶的平面坐标为A(X1,X2)，如附图4所示。将球馆旋转到45°位置参照图5。曝光，获取乳腺的斜位图像，病灶位置为B(Y1,Y2)，参照图6所示。参照上述步骤S300所述，根据所述平面病灶坐标、所述斜位病灶坐标及所述压迫厚度计算出病灶深度。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种定位乳腺病灶穿刺点的方法，其特征在于，所述乳腺机包括压迫盘和探测器，待测乳腺位于所述压迫盘与探测器之间，包括：/n采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度，所述压迫厚度为所述压迫盘到所述探测器的距离；/n分别曝光采集所述乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像，得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标；/n根据所述平面病灶坐标、所述斜位病灶坐标及所述压迫厚度计算出病灶深度；/n利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺。/n

【技术特征摘要】
1.一种定位乳腺病灶穿刺点的方法，其特征在于，所述乳腺机包括压迫盘和探测器，待测乳腺位于所述压迫盘与探测器之间，包括：
采集压迫盘压迫乳腺时的压迫厚度，所述压迫厚度为所述压迫盘到所述探测器的距离；
分别曝光采集所述乳腺的第一轴位图像和第一斜位图像，得到第一轴位图像内的平面病灶坐标和第一斜位图像内的斜位病灶坐标；
根据所述平面病灶坐标、所述斜位病灶坐标及所述压迫厚度计算出病灶深度；
利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述病灶深度和平面病灶坐标对所述乳腺进行穿刺的步骤之后，还包括：
分别曝光采集所述乳腺的第二轴位图像和第二斜位图像，并判断穿刺点是否准确；
若不准确，则根据所述第二轴位图像和所述第二斜位图像调整所述穿刺点。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一斜位图像具体为曝光角度与轴线呈45度时的图像。


4.一种定位乳腺病灶穿刺点的系统，其特征在于，所述乳腺机包括压迫盘和探测器，待测乳腺位于所述压迫盘与探测器之间，包括：
厚度采集模块，用于采集压迫...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭朋，陈晶，孙瑞超，杜如坤，
申请(专利权)人：深圳蓝韵医学影像有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44