一种检漏方法技术

本发明专利技术提供一种检漏方法，本发明专利技术一种实施例的一种检漏方法包括如下步骤：步骤S1：将检漏气体填充所述漏气囊；步骤S2：将填充检漏气体的所述漏气囊放置在待测工件的内部后，将所述待测工件进行密封；步骤S3：将待测工件放置在所述检漏箱的内部；步骤S4：将所述漏气囊的内部的检漏气体进行外泄；步骤S5：检测所述检漏箱的内部的检漏气体。所述检漏方法操作简单，检测效率高。

A leak detection method

【技术实现步骤摘要】
一种检漏方法
本专利技术属于检漏
，尤其是涉及一种检漏方法。
技术介绍
现有技术中，随着科学技术的发展，不论真空
，还是高压气密性工程，对于部件或系统的气密性要求也随之而提高，从而对于提高其气密性检测精度和影响其气密性因素的研究，就显得十分迫切。在对密封容器进行检漏时，检测焊缝质量及表面是否有微小漏孔时，因工件完全密封，传统检漏法的正压法负压法无法实现，常采用背压法对密闭容器进行检漏，是一种适用于容积较小被检件的检漏方法。检漏过程包括3个步骤：充压、净化、检漏。在充压过程中，被检件在充有高压氦气的容器中存放一定时间，使氦气经漏孔进入被检件内部，并随着时间的增长，其内部的充气压力及氦分压会逐渐增高；进入净化阶段后，用干燥氮气等冲刷，或通过静置手段去除吸附在被检件外表面的氦气；最后将被检件放入真空室并将真空室抽成真空状态，利用压差作用使被检件内部的氦气流出进入检漏仪，检漏仪输出指示判定漏孔的存在及其漏率。但背压法不适合用于有大漏孔的被检件。漏孔过大时，在净化阶段，充入被检件内部的氦气会迅速流失，净化时间越长，流失越严重，导致检漏仪输出指示降低，造成漏孔漏率很小的假象，甚至检测不出漏孔。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术中的缺点与不足，提供一种检漏方法。本专利技术一种实施例的检漏方法，包括如下步骤：步骤S1：将检漏气体填充所述漏气囊；步骤S2：将填充检漏气体的所述漏气囊放置在待测工件的内部后，将所述待测工件进行密封；步骤S3：将待测工件放置在所述检漏箱的内部；步骤S4：将所述漏气囊的内部的检漏气体进行外泄；步骤S5：检测所述检漏箱的内部的检漏气体。本专利技术一种实施例的检漏方法，在待测工件完全密封前将检漏气体放入，解决密闭容器检漏时无法从待测工件的外部通入检漏气体的问题，定时开口装置能够定时放出检漏气体，操作简单，检测精度高，提高生产效率。只要所述检测装置检测到所述检漏箱中存在检漏气体，则可以表明所述待测工件存在漏孔，解决了背压氦质谱检漏法因待测工件存在大漏孔而引发检测误差的技术问题。在一优选或可选实施例中，在步骤S3中，所述待测工件放置完毕后，将所述检漏箱的内部抽真空。在一优选或可选实施例中，所述检漏气体为卤素气体、氦气或者氢气。在一优选或可选实施例中，在步骤S5中，实时检测所述检漏箱的检漏气体的浓度，得到所述检漏箱的检漏气体在预设时间段内的实时浓度变化曲线。在一优选或可选实施例中，在步骤S5中，实时检测所述检漏箱的气压，得到所述检漏箱在预设时间段内的实时气压变化曲线。在一优选或可选实施例中，在步骤S4中，通过加热装置使所述漏气囊受热，所述漏气囊的表面产生开口，所述漏气囊的内部的检漏气体外泄。在一优选或可选实施例中，在步骤S4中，通过戳穿装置戳穿所述漏气囊，使得所述漏气囊的内部的检漏气体外泄。在一优选或可选实施例中，在步骤S4中，所述漏气囊在预设时间段后将其内部的检漏气体外泄。在一优选或可选实施例中，在步骤S4中，所述漏气囊由工件晃动产生的外力形成开口，使得所述漏气囊的内部的检漏气体外泄。在一优选或可选实施例中，在步骤S4中，所述漏气囊在外界压强变化下产生开口，使得所述漏气囊的内部的检漏气体外泄。为了能更清晰的理解本专利技术，以下将结合附图说明阐述本专利技术的具体实施方式。附图说明图1是本专利技术实施例1检漏装置的整体结构示意图；图2是本专利技术实施例1检漏装置的运行原理示意图；图3是本专利技术实施例1容置装置的结构示意图；图4是本专利技术实施例1漏气囊的结构示意图；图5是本专利技术实施例1关门机构的结构示意图；图6是本专利技术实施例1夹具和推出装置的结构示意图；图7是本专利技术实施例1推出装置的结构示意图。附图图例说明：1、支架；2、容置装置；21、检漏箱；211、入料口；22、封闭门；3、夹具；4、漏气囊；5、加热装置；6、检测装置；7、关门装置；71、关门导轨；72、关门气缸；8、推出装置；81、推出导轨；82、推出气缸。具体实施方式实施例1请参阅图1和图2，图1是本专利技术实施例1检漏装置的整体结构示意图，图2是本专利技术实施例1检漏装置的运行原理示意图。本实施例提供的一种检漏装置包括支架1、容置装置2、夹具3、漏气囊4、加热装置5、检测装置6、关门装置7和推出装置8。所述容置装置2设置在所述支架1上，所述夹具3设置在所述容置装置2的内部，所述漏气囊4在使用时放置在待测工件的内部，所述加热装置5用于加热所述漏气囊4，所述检测装置6与所述检漏箱21的内部连通，所述关门装置7设置在所述支架1上并与所述容置装置2配合，所述推出装置8设置在所述支架1上，所述推出装置8的输出端与所述夹具3固定连接。请参阅图3，图3是本专利技术实施例1容置装置的结构示意图。所述容置装置2包括检漏箱21和封闭门22，所述检漏箱21为中空箱体，所述检漏箱21设置有入料口211，通过所述入料口211，使用者将待测工件和所述夹具3放进所述检漏箱21的内部，所述封闭门22活动盖合于所述入料口211。在本实施例中，所述支架1设置有导轨，所述封闭门22通过滑块嵌合在所述导轨上，并且所述封闭门22能够在所述导轨上运动，从而控制所述入料口211的闭合，在其他实施例中，所述封闭门22一侧通过转轴固定在所述支架1上，所述封闭门22围绕所述转轴旋转，通过控制所述封闭门22的旋转角度控制封闭门22对所述入料口211的盖合，也可以是其他本领域技术人员常用的活动盖合方式。所述夹具3为设置有容置空间的盒体，所述盒体的顶部设置有用于放置待测工件的开口，所述夹具3用于固定待测工件。请参阅图4，图4是本专利技术实施例1漏气囊的结构示意图。所述漏气囊4位于所述待测工件的内部，所述漏气囊4用于容纳检漏气体，在本实施例中，所述漏气囊4为圆形中空球体，所述漏气囊4的表面设置有开口，在其他实施例中，所述漏气囊4可以是其他任何本领域技术人员常用的囊体结构，只要能够容纳检漏气体和能够放置在待测工件的内部即可。优选地，所述漏气囊4为记忆金属囊体，当所述记忆金属囊体的温度达到其变态温度时，所述记忆金属囊体的表面形成开口。优选地，所述记忆金属囊体的材料包括镍钛合金，镍钛合金是一种形状记忆合金，形状记忆合金是能将自身的塑性变形在某一特定温度下自动恢复为原始形状的特种合金，所述记忆金属囊体也可以是其他常见的记忆金属，例如铜锌合金、铜铝镍合金、铜钼镍合金、铜金锌合金等，所述记忆金属囊体也不需要整体都是记忆金属，只需要在所述记忆金属囊体的形成开口的部位采用记忆金属囊体即可。所述记忆金属囊体的原始形状设置有开口，在填充气体后，将所述开口密封，然后将所述记忆金属囊体放置在待测工件的内部，当所述记忆金属囊体受热到其变态温度后，所述记忆金属囊体恢复到其原始形态，位于所述记忆金属囊体的内部的检漏气体泄露到所述记忆金属囊体的外部。所述加热装置5用于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检漏方法，其特征在于，包括如下步骤：/n步骤S1：将检漏气体填充所述漏气囊；/n步骤S2：将填充检漏气体的所述漏气囊放置在待测工件的内部后，将所述待测工件进行密封；/n步骤S3：将待测工件放置在所述检漏箱的内部；/n步骤S4：将所述漏气囊的内部的检漏气体进行外泄；/n步骤S5：检测所述检漏箱的内部的检漏气体。/n

【技术特征摘要】
1.一种检漏方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤S1：将检漏气体填充所述漏气囊；
步骤S2：将填充检漏气体的所述漏气囊放置在待测工件的内部后，将所述待测工件进行密封；
步骤S3：将待测工件放置在所述检漏箱的内部；
步骤S4：将所述漏气囊的内部的检漏气体进行外泄；
步骤S5：检测所述检漏箱的内部的检漏气体。


2.根据权利要求1所述的检漏方法，其特征在于：
在步骤S3中，所述待测工件放置完毕后，将所述检漏箱的内部抽真空。


3.根据权利要求1所述的检漏方法，其特征在于：
所述检漏气体为卤素气体、氦气或者氢气。


4.根据权利要求1所述的检漏方法，其特征在于：
在步骤S5中，实时检测所述检漏箱的检漏气体的浓度，得到所述检漏箱的检漏气体在预设时间段内的实时浓度变化曲线。


5.根据权利要求1所述的检漏方法，其特征在于：
在步骤S5中，实时检测所述检漏箱的气压，得到所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：林琦武，
申请(专利权)人：江门龙浩智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44