用于精密对准装调探测器模块与后准直器的装置制造方法及图纸

技术编号:23635783 阅读:35 留言:0更新日期:2020-04-01 01:37
本实用新型专利技术提供一种用于精密对准装调探测器模块与后准直器的装置,该装置包括对齐基准块、金属安装架、调节架、用于调节探测器模块X轴Y轴位移的微调螺钉和弹簧柱塞、用于测量探测器模块X轴Y轴位移量的千分表。本实用新型专利技术还提供了一种精密对准装调探测器模块与后准直器的方法,即利用对齐基准块代替后准直器,并在对齐基准块的背面标有刻线标、纵向对齐基准、横向对齐基准,先将对齐基准块与探测器模块精密对准后,再将对齐基准块卸下,安装上后准直器。本实用新型专利技术的优点:在实现精密对准的同时,避免对探测器模块上的成像物理像素单元的损伤。

Device for precise alignment of detector module and rear collimator

【技术实现步骤摘要】
用于精密对准装调探测器模块与后准直器的装置
本技术涉及一种用于精密对准装调CT机探测器模块与后准直器的装置。
技术介绍
在目前主流的CT机中,球管(即光源)和探测器模块是最主要的构成部件,球管发射X射线,X射线全程覆盖要扫描的人体某一部位;探测器模块采集被扫描人体某一部位的投影数据,然后,CT机控制单元重建得到所需厚度的人体某一部位的断层图像。为了准确地采集人体某一部位的投影数据,探测器模块需要与CT机准直器(又称后准直器)配合使用,后准直器的主要作用是减少散射效应对探测器模块上的成像物理像素单元成像时的影响,即由于散射使被探测信号偏离了X射线强度的真实测量结果,导致CT图像偏移或伪影。在实际使用过程中,需要将后准直器的防散射栅格与探测器模块上的成像物理像素单元对齐,对齐精度需要达到较高水平,否则会影响CT图像成像质量。目前主要通过接触式瞄准或者非接触瞄准的方法使探测器模块上的成像物理像素单元和后准直器的防散射栅格对齐。接触式瞄准方法使用广泛,简单易用,即将两者的基准面物理对齐即可,其缺点是测量端面和被测量表面由于测量力引起的接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于精密对准装调探测器模块与后准直器的装置,其特征在于:它包括对齐基准块、金属安装架、调节架、用于调节探测器模块X轴Y轴位移的微调螺钉和弹簧柱塞、用于测量探测器模块X轴Y轴位移量的千分表;/n所述对齐基准块的背面设有一与后准直器安装基准面的形状、大小对应的凸块,在凸块上设有用于精密对准的水平刻线标,该水平刻线标作为精密对准时的测量基准线;在凸块上开有用于观察的显微镜可视孔,透过该显微镜可视孔可以观察到该水平刻线标;设定该凸块一端的纵向边缘为纵向对齐基准,与所述水平刻线标相对的凸块一侧横向边缘的两端为横向对齐基准,两端的横向对齐基准位于同一条直线上;/n探测器模块固定在所述金属安装架上,...

【技术特征摘要】
1.一种用于精密对准装调探测器模块与后准直器的装置,其特征在于:它包括对齐基准块、金属安装架、调节架、用于调节探测器模块X轴Y轴位移的微调螺钉和弹簧柱塞、用于测量探测器模块X轴Y轴位移量的千分表;
所述对齐基准块的背面设有一与后准直器安装基准面的形状、大小对应的凸块,在凸块上设有用于精密对准的水平刻线标,该水平刻线标作为精密对准时的测量基准线;在凸块上开有用于观察的显微镜可视孔,透过该显微镜可视孔可以观察到该水平刻线标;设定该凸块一端的纵向边缘为纵向对齐基准,与所述水平刻线标相对的凸块一侧横向边缘的两端为横向对齐基准,两端的横向对齐基准位于同一条直线上;
探测器模块固定在所述金属安装架上,在金属安装架的顶面、探测器模块成像物理像素单元的上方、垂直金属安装架顶面开有用于容置所述对齐基准块背面凸块的豁口,该豁口的大小、形状与所述对齐基准块背面凸块的大小、形状对应;
当探测器模块固定在所述金属安装架上后,将所述对齐基准块背面的凸块容置在所述金属安装架的豁口内时,所述对齐基准块与探测器模块的成像物理像素单元非接触设置,两者之间具有一定距离;透过所述显微镜可视孔可以观察到所述对齐基准块背面的水平刻线标、纵向对齐基准、横向对齐基准、以及探测器模块的成像物理像素单元的四周边缘;
所述调节架由前、后挡板和左、右端板构成,前、后挡板和左、右端板围成一凹槽,组装在一起的所述对齐基准块和金属安装架容置在该凹槽内;在所述调节架的一侧挡板上安装有若干个弹簧柱塞,与弹簧柱塞相对应,在...

【专利技术属性】
技术研发人员:许添任敬轶
申请(专利权)人:赛诺威盛科技北京有限公司
类型:新型
国别省市:北京;11

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