LED灯失效检测电路及电气、温度失效检测方法技术

本发明专利技术公开了一种LED灯失效检测电路，该检测电路包括依次连接的LED灯、负反馈回路以及失效检测电路，所述负反馈回路还与单片机的输出端口VREF_TI_L连接；所述失效检测电路包括并联的第一二极管D1和第二二极管D2，所述第一二极管D1靠近LED灯设置，所述第二二极管D2设置在环境温度下；本发明专利技术还公开了一种LED灯电气失效检测方法和温度失效检测方法。本发明专利技术提供的失效检测电路不仅可以判断LED灯属于电气失效还是温度失效，并且可以根据失效的状态对LED灯进行保护；另外，本发明专利技术摒弃了传统的NTC采样电路，降低了检测过程中的硬件成本。

【技术实现步骤摘要】
LED灯失效检测电路及电气、温度失效检测方法
本专利技术属于LED灯失效检测
，具体涉及一种LED灯失效检测电路及电气、温度失效检测方法。
技术介绍
LED灯，即发光二极管，是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件，它可以直接把电转化为光，因此具有较为广泛的应用市场。而LED灯随着使用时间或者周围环境的变化会导致失效，比如：由于电流超额导致PN结温度过高失效；由于工况环境温度超额导致PN结温度过高而致使LED电流出现正反馈最终失效。现有关于LED灯电路失效检测一般采用NTC采样电路进行实时检测，其缺点是NTC硬件成本高、MCU检测端口过多、理论支持不清晰。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术提供一种LED灯失效检测电路，其摒弃了传统的NTC采样电路，通过二极管与负反馈回路之间的巧妙连接实现了对LED灯失效的检测。本专利技术的另一目的是提供一种LED灯电气失效检测方法。本专利技术的另一目的是提供一种LED灯温度失效检测方法。本专利技术所采用的技术方案是：一种L本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED灯失效检测电路，其特征在于，该检测电路包括依次连接的LED灯(1)、负反馈回路(2)以及失效检测电路(3)，所述负反馈回路(2)还与单片机的输出端口VREF_TI_L连接；/n所述失效检测电路(3)包括并联的第一二极管D1和第二二极管D2，所述第一二极管D1靠近LED灯(1)设置，所述第二二极管D2设置在环境温度下。/n

【技术特征摘要】
1.一种LED灯失效检测电路，其特征在于，该检测电路包括依次连接的LED灯(1)、负反馈回路(2)以及失效检测电路(3)，所述负反馈回路(2)还与单片机的输出端口VREF_TI_L连接；
所述失效检测电路(3)包括并联的第一二极管D1和第二二极管D2，所述第一二极管D1靠近LED灯(1)设置，所述第二二极管D2设置在环境温度下。


2.根据权利要求1所述的一种LED灯失效检测电路，其特征在于，所述环境温度为24-26℃。


3.根据权利要求2所述的一种LED灯失效检测电路，其特征在于，当需要检测至少两个所述LED灯(1)的失效情况时，所述负反馈回路(2)的数量与LED灯(1)的数量匹配。


4.根据权利要求1-3任一项所述的一种LED灯失效检测电路，其特征在于，所述失效检测电路(3)还包括用于滤除尖峰电压的第一电容C1和第二电容C2，所述第一二极管D1和第一电容C1并联之后与负反馈回路(2)连接，所述第二二极管D2和第二电容C2并联后一路与输出端连接，另一路通过第十一电阻R11接地。


5.根据权利要求4所述的一种LED灯失效检测电路，其特征在于，所述负反馈回路(2)包括第一三极管Q1，所述第一三极管Q1的集电极和LED灯(1)连接，所述第一三极管Q1的发射极一路和失效检测电路(3)连接，另一路和第二十五电阻R25和第二十六电阻R26的并联电路连接，所述第二十六电阻R26接地，所述第二十五电阻R25一路通过第二十六电容C26接地，另一路与第二十二电阻R22连接，所述第一三极管Q1的基极依次通过第二十七电阻R27接地、通过第二十七电容C27接地后通过第二十四电阻R24一路和第二十五电容C25连接，另一路和第一运算放大器U1的输出端连接，第一运算放大器U1的正输入端接单片机的输出端口VREF_TI_L，所述第一运算放大器U1的负输入端一路通过第二十一电阻R21接VCC，另一路和第二十二电阻R22连接连接，所述第二十五电容C25还与第二十三电阻R23连接。


6.一种LED灯电气失效检测方法，其特征在于，其应用权利要求1-5任一项所述的LED灯失效检测电路，该检...

【专利技术属性】
技术研发人员：李耀聪，潘叶江，
申请(专利权)人：华帝股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44