芯片电路功耗测量电路及方法、芯片技术

一种芯片功耗测量电路、芯片功耗测量方法及芯片。该芯片功耗测量电路包括：电压检测电路，包括第一电压检测器，被配置为根据第一输入电压产生第一输入电压检测值；单位电流获得电路，包括电流数值查找表，被配置为获取第一输入电压检测值及基于第一输入电压检测值利用电流数值查找表获得单位电流；倍乘系数获取电路，被配置为产生倍乘系数；以及芯片功耗计算电路，被配置为获得倍乘系数、单位电流、第一输入电压检测值，并使用倍乘系数、单位电流、第一输入电压检测值进行计算以用于得到功耗。该测量电路可以设置在芯片内，在芯片内测量各功能电路的功耗。

Power consumption measuring circuit, method and chip

【技术实现步骤摘要】
芯片电路功耗测量电路及方法、芯片
本公开的实施例涉及一种芯片电路功耗测量电路及方法、芯片。
技术介绍
随着集成电路技术的飞速发展与广泛应用，由功耗引发的能源消耗、封装成本以及高集成度芯片散热等问题日益凸显。
技术实现思路
本公开的实施例提供一种本公开至少一个实施例提供了一种芯片功耗测量电路，包括：电压检测电路，包括第一电压检测器，被配置为根据第一输入电压产生所述第一输入电压检测值；单位电流获得电路，包括电流数值查找表，被配置为获取所述第一输入电压检测值及基于所述第一输入电压检测值利用所述电流数值查找表获得单位电流；倍乘系数获取电路，被配置为产生倍乘系数；以及芯片功耗计算电路，被配置为获得所述倍乘系数、所述单位电流、所述第一输入电压检测值，并使用所述倍乘系数、所述单位电流、所述第一输入电压检测值进行计算以用于得到功耗；其中，所述第一输入电压为所述芯片中对被检测功能电路施加的驱动电压，所述电流数值查找表包括多个输入电压查找项以及与所述多个输入电压查找项一一对应的单位电流查找项，所述倍乘系数为所述被检测功能电路在被施加所述第一输入本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片功耗测量电路，包括：/n电压检测电路，包括第一电压检测器，被配置为根据第一输入电压产生所述第一输入电压检测值；/n单位电流获得电路，包括电流数值查找表，被配置为获取所述第一输入电压检测值及基于所述第一输入电压检测值利用所述电流数值查找表获得单位电流；/n倍乘系数获取电路，被配置为产生倍乘系数；以及/n芯片功耗计算电路，被配置为获得所述倍乘系数、所述单位电流、所述第一输入电压检测值，并使用所述倍乘系数、所述单位电流、所述第一输入电压检测值进行计算以用于得到功耗；/n其中，所述第一输入电压为所述芯片中对被检测功能电路施加的驱动电压，所述电流数值查找表包括多个输入电压查找项以及与所述多个...

【技术特征摘要】
1.一种芯片功耗测量电路，包括：
电压检测电路，包括第一电压检测器，被配置为根据第一输入电压产生所述第一输入电压检测值；
单位电流获得电路，包括电流数值查找表，被配置为获取所述第一输入电压检测值及基于所述第一输入电压检测值利用所述电流数值查找表获得单位电流；
倍乘系数获取电路，被配置为产生倍乘系数；以及
芯片功耗计算电路，被配置为获得所述倍乘系数、所述单位电流、所述第一输入电压检测值，并使用所述倍乘系数、所述单位电流、所述第一输入电压检测值进行计算以用于得到功耗；
其中，所述第一输入电压为所述芯片中对被检测功能电路施加的驱动电压，所述电流数值查找表包括多个输入电压查找项以及与所述多个输入电压查找项一一对应的单位电流查找项，所述倍乘系数为所述被检测功能电路在被施加所述第一输入电压时产生的工作电流相对于所述单位电流的倍数。


2.根据权利要求1所述的芯片功耗测量电路，还包括环境温度测试电路，其中，所述环境温度测试电路被配置为检测环境温度值，并根据所述环境温度值产生温度检测值；
所述单位电流获得电路还被配置为获取所述温度检测值，及基于所述第一输入电压检测值和所述温度检测值利用所述电流数值查找表获得所述单位电流。


3.根据权利要求2所述的芯片功耗测量电路，其中，所述电流数值查找表还包括所述多个输入电压查找项及多个环境温度查找项，以及与所述多个输入电压查找项及所述多个环境温度查找项一一对应的所述单位电流查找项。


4.根据权利要求1所述的芯片功耗测量电路，其中，所述电压检测电路还包括第二电压检测器，被配置为根据第一输出电压产生第一输出电压检测值；
所述单位电流获得电路还被配置为获取所述第一输出电压检测值，及基于所述第一输入电压检测值和所述第一输出电压检测值利用所述电流数值查找表获得所述单位电流。


5.根据权利要求4所述的芯片功耗测量电路，其中，所述电流数值查找表还包括多个所述输入电压查找项及多个输出电压查找项，以及与所述多个输入电压查找项及多个输出电压查找项一一对应的所述单位电流查找项。


6.根据权利要求2所述的芯片功耗测量电路，其中，所述电压检测电路还包括第二电压检测器，被配置为根据第一输出电压产生第一输出电压检测值；
所述单位电流获得电路还被配置为获取所述第一输出电压检测值，及基于所述第一输入电压检测值、所述温度检测值和所述第一输出电压检测值利用所述电流数值查找表获得所述单位电流。


7.根据权利要求6所述的芯片功耗测量电路，其中，所述电流数值查找表还包括多个所述输入电压查找项、多个输出电压查找项和多个环境温度查找项，以及与所述多个输入电压查找项、所述多个输出电压查找项和所述多个环境温度查找项一一对应的所述单位电流查找项。


8.根据权利要求1-7任一所述的芯片功耗测量电路，其中，所述单位电流获得电路还被配置为利用内插值法或数值拟合方法，基于所述电流数值查找表中的数值关系获得所述单位电流。


9.根据权利要求1-7任一所述的芯片功耗测量电路，还包括数字电压稳差电路，
其中，所述数字电压稳差电路与所述倍乘系数获取电路连接，以提供检测电压信号，
所述倍乘系数获取电路还被配置为基于所述检测电压信号获取所述倍乘系数，所述检测电压信号对应于所述被检测功能电路在被施加所述第一输入电压时产生的工作电流相对于所述单位电流的倍数，
所述检测电压信号为数字信号。


10.根据权利要求9所述的芯片功耗测量电路，其中，所述数字电压稳压电路包括多个开关阵列以及负反馈电路，
所述多个开关阵列的每个包括多个晶体管，所述多个晶体管的...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄强，金军贵，
申请(专利权)人：成都海光微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51