【技术实现步骤摘要】
一种检测规装置
本技术涉及电子产品检测
，尤其涉及一种检测规装置。
技术介绍
电子产品生产加工完毕，进入品检工序，当电子产品有定位孔时，则需要对定位孔的位置及定位孔的孔径进行一一检测，当电子产品包含定位孔数量较少时，品检工作量小，耗时相对较少，但是当电子产品包含较多数量的定位孔时，传统检测方式严重影响电子产品的生产检测效率。
技术实现思路
为了克服现有技术中存在的检测电子产品效率低的缺点，本技术的目的在于提供一种检测规装置，提高检测效率。为实现上述目的，本技术的技术方案为：一种检测规装置，包括底板、第一凹槽、第二凹槽、若干个第一凸柱、若干个第二凸柱及至少两个定位部；所述第一凹槽设于底板的顶部；所述第二凹槽位于第一凹槽内，所述第二凹槽靠近底板的侧壁设置，所述第二凹槽设有缺口；所述第一凸柱位于第一凹槽内，所述第二凸柱位于底板的顶部；两个所述定位部设于底板的顶部，两个所述定位部与所述第一凹槽间距设置，两个所述定位部间距设置，每个所述定位部均始自底板的表面并朝向远离底板的方向延伸。进一步的，所述定位部呈L状。进一步的，两个所述定位部以底板的中心轴线呈对称设置。进一步的，每个所述第一凸柱均设有第一圆角部，所述第一圆角部设于第一凸柱远离底板的一侧。进一步的，每个所述第二凸柱均设有第二圆角部，所述第二圆角部设于第一凸柱远离底板的一侧。本技术的有益效果：通过在底板设置第一凹槽、第二凹槽、若干个第一凸柱、若干个第二凸柱及至...
【技术保护点】
1.一种检测规装置，包括底板，其特征在于：还包括第一凹槽(1)、第二凹槽(2)、若干个第一凸柱(3)、若干个第二凸柱(4)及至少两个定位部(5)；/n所述第一凹槽(1)设于底板的顶部；/n所述第二凹槽(2)位于第一凹槽(1)内，所述第二凹槽(2)靠近底板的侧壁设置，所述第二凹槽(2)设有缺口(21)；/n所述第一凸柱(3)位于第一凹槽(1)内，所述第二凸柱(4)位于底板的顶部；/n两个所述定位部(5)设于底板的顶部，两个所述定位部(5)与所述第一凹槽(1)间距设置，两个所述定位部(5)间距设置，每个所述定位部(5)均始自底板的表面并朝向远离底板的方向延伸。/n
【技术特征摘要】
1.一种检测规装置，包括底板，其特征在于：还包括第一凹槽(1)、第二凹槽(2)、若干个第一凸柱(3)、若干个第二凸柱(4)及至少两个定位部(5)；
所述第一凹槽(1)设于底板的顶部；
所述第二凹槽(2)位于第一凹槽(1)内，所述第二凹槽(2)靠近底板的侧壁设置，所述第二凹槽(2)设有缺口(21)；
所述第一凸柱(3)位于第一凹槽(1)内，所述第二凸柱(4)位于底板的顶部；
两个所述定位部(5)设于底板的顶部，两个所述定位部(5)与所述第一凹槽(1)间距设置，两个所述定位部(5)间距设置，每个所述定位部(5)均始自底板的表面并朝向远离底板的方向...
【专利技术属性】
技术研发人员：张礼明，
申请(专利权)人：东莞市德懋机电有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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