测试间中的具有不同外观尺寸的被测装置的自动化搬运制造方法及图纸

公开一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的系统。所述系统包括机器人，所述机器人包括用于拾取DUT并将所述DUT转入和转出基块中的测试槽的末端执行器。所述系统进一步包括系统控制器，所述系统控制器包括存储器和处理器并用于控制所述机器人。并且，所述系统包括测试机架，所述测试机架包括多个基块，其中所述基块是包括用于对多个DUT进行测试的多个槽的模块化装置，并且其中所述机器人配置成使用所述末端执行器接近所述测试机架内的所述多个基块中的槽。

【技术实现步骤摘要】
测试间中的具有不同外观尺寸的被测装置的自动化搬运相关申请的交叉引用本申请涉及2017年3月9日提交的名称为“使用利用环境空气的双风扇冷却的装置测试”第15/455,103号美国专利申请，所述申请将RolandWolff指定为专利技术人，且代理人案号为ATSY-0046-01.01US。所述申请出于所有目的以全文引用的方式并入本文中。
本申请涉及自动测试设备的领域，且更具体来说，涉及关于此类设备的自动化搬运的技术。
技术介绍
自动测试设备(Automatedtestequipment，ATE)可为对半导体晶片或裸片、集成电路(IC)、电路板或例如固态驱动器的封装装置进行测试的任何测试组合件。ATE组合件可用于执行自动化测试，所述自动化测试快速执行测量并生成随后可进行分析的测试结果。ATE组合件的范围可从耦合到计量器的计算机系统到可包含定制的专用计算机控制系统和能够自动测试电子部件和/或半导体晶片测试(例如，片上系统(SOC)测试或集成电路测试)的多个不同测试仪器的复杂的自动化测试组合件。ATE系统既减少了花费在测试装置以确保装置像所设计得那样工作上的时间量，还可用作在给定装置到达用户之前确定故障组件在所述给定装置内的存在情况的诊断工具。当典型的ATE系统对装置(通常被称为被测装置或DUT(deviceundertest))进行测试时，ATE系统向所述装置施加刺激(例如，电信号)并检查所述装置的响应(例如，电流和电压)。通常，测试的最终结果是如果装置成功提供在预先建立的容差内的特定预期响应，则为“合格”，或是如果装置没有提供在预先建立的容差内的预期响应，则为“不合格”。更复杂的ATE系统能够评估发生故障的装置，以潜在地确定发生故障的一个或多个原因。ATE系统普遍包含计算机来引导ATE系统的操作。通常，计算机运行一个或多个专用软件程序以提供：(i)测试开发环境，和(ii)装置测试环境。在测试开发环境中，用户通常创建测试程序，即，控制ATE系统的各个部分的具有一个或多个文件的基于软件的构造。在装置测试环境中，用户通常向ATE系统提供一个或多个装置以进行测试，并且根据测试程序引导ATE系统对每个装置进行测试。用户可以通过简单地向ATE系统提供额外装置并根据测试程序引导ATE系统对所述额外装置进行测试来对额外装置进行测试。因此，ATE系统使得用户能够基于测试程序以一种一致的自动化方式对多个装置进行测试。在典型的现有技术测试环境中，DUT被放到受控制的环境箱或“烘箱”中。DUT连接到测试头的测试片。若干个DUT可连接到单个测试片，且单个测试箱可含有若干个测试片。测试片含有根据测试方案对DUT进行测试的测试电路。当DUT在烘箱中时，用户不能接触DUT，以免干扰箱内的受控制环境。当在箱内时，即使某一DUT测试结束得早，也不能在所有测试完成之前将其移除。然后，可以接近箱。与此测试环境相关联的一个问题是环境箱的内部在测试期间不可接近，如果正在使用烘箱中的作用中的测试片进行测试，那么这种不可接近会导致某些测试片闲置。另一问题是常规的测试环境通常需要将DUT手动插入测试片和从测试片手动移除DUT，这是不利的，因为它费时、易出错，且在手动搬运期间可能会损坏DUT。另外，DUT在大批量生产环境中的手动插入和移除明显效率低下且容易出错。
技术实现思路
因此，需要一种在测试间中搬运具有不同外观尺寸的DUT的自动化方法。另外，需要的是一种使用机器人将DUT插入到测试头中的基块(primitive)中和从所述基块中移除DUT的自动化方法，此方法不需要人力且在更少的时间内实现更高的产率。另外，需要的是一种测试环境，当测试在所述环境内进行时允许使用系统，使得所述系统可以被充分地利用。通过使用所描述的系统的有益方面，而不具有它们相应的限制，本专利技术的实施例提供了一种解决这些问题的新的解决方案。本文中所公开的专利技术利用多个基块和相关联的DUT接口板(DUTinterfaceboards，DIB)来测试DUT。每一基块都是模块化的，这意味着它能够独立于其它基块进行操作。每一基块都连接到DIB，其中DIB含有用于多个DUT的多个槽。本专利技术的实施例利用机器人，通过使DUT到DIB中的插入和DUT从DIB的移除自动化来使测试过程在某种程度上自动化。在一个实施例中，机器人利用可更换的夹持器来搬运具有各种外观尺寸的DUT。自动化过程可编程成使得机器人辨识哪一类型的装置正在进行自动测试，并针对正进行测试的装置的外观尺寸选择适当的夹持器。另外，在其它实施例中，测试器还可编程成使得机器人还具有能智能确定装置在仓中的定向(水平或竖直)和装置位置。在另外的实施例中，机器人进一步编程为能智能通过使用相机和外部参考点在不损坏装置的情况下抓握装置。根据本专利技术的实施例，装置加热一般通过DUT操作它们自身来发生。因此，在允许装置进行操作之后，它们将达到设定点温度。接着，冷却方法和系统(例如，在本专利技术的实施例内采用的DIB内部的风扇)有效冷却装置，使得它们维持在设定点温度以进行测试。因此，不需要温度受控环境箱来加热装置。其它优势在于可以成功地使用环境空气来冷却DUT，而不需要除风扇以外的额外冷却元件。因此，不需要昂贵的环境箱，因为测试可在实验室环境或测试台(testfloor)中进行。这种解决方案的成本低，且DIB(DUT接口板)和测试执行模块(或基块)组合自身就可提供机械DUT操控，并且因此适用于各种电子装置的大批量测试，所述电子装置包含但不限于网络卡、图形卡、芯片、微处理器、硬盘驱动器(HDD)和固态驱动器(SSD)等。此外，因为DUT不位于环境测试箱内，所以它们在使用机器人进行测试循环期间更易于搬运、物理操控、检验等。用于对DUT进行测试的电子电路的各方面也是模块化的(使用基块，如本文中所描述)。因此，不同模块可对不同外观尺寸和DUT类型执行不同测试，或对相同DUT类型执行不同测试(因为不再需要同步进行测试)。这提高了整体测试效率和测试灵活性。在一个实施例中，公开一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的方法。方法包括定位待测试的被测装置(DUT)。另外，它包括在数据库中记录DUT的存在情况并查询数据库以确定基块中是否存在空槽，其中基块是包括有用于接收多个DUT并对其进行测试的多个槽的模块化装置。方法还包括使用机器人将DUT插入空槽，并向数据库报告空槽已被填充。最后，方法包括开始对DUT进行测试。在不同实施例中，呈现一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的系统。系统包括机器人，所述机器人包括用于拾取DUT并将DUT转入和转出基块中的测试槽的末端执行器。系统进一步包括系统控制器，所述系统控制器包括存储器和处理器并用于控制机器人。另外，系统包括测试机架，所述测试机架包括多个基块，其中基块是包括用于对多个DUT进行测试的多个槽的模块化装置，并且其中机器人配置成使用末端执行器接近测试机架内的多个基块中的槽。在又一实施例中，公开一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的系统。系统包括机器人，所述机器人包括用于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的方法，所述方法包括：/n定位并抓握待测试的被测装置(DUT)；/n在数据库中记录所述DUT的存在情况；/n查询所述数据库以确定基块中是否存在空槽，其中所述基块是模块化装置，包括用于对多个DUT进行测试的多个槽；/n使用机器人来自动定位并将所述DUT插入所述空槽；/n向所述数据库报告所述空槽已被填充；以及/n开始对所述DUT进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的方法，所述方法包括：
定位并抓握待测试的被测装置(DUT)；
在数据库中记录所述DUT的存在情况；
查询所述数据库以确定基块中是否存在空槽，其中所述基块是模块化装置，包括用于对多个DUT进行测试的多个槽；
使用机器人来自动定位并将所述DUT插入所述空槽；
向所述数据库报告所述空槽已被填充；以及
开始对所述DUT进行测试。


2.根据权利要求1所述的方法，其中所述DUT是固态驱动器(SSD)。


3.根据权利要求1所述的方法，其中所述基块是测试机架中的多个基块中的一个，其中所述机器人用于接近所述测试机架内的所述多个基块中的槽。


4.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
基于所述测试的结果，在所述数据库中更新所述DUT的状态。


5.根据权利要求4所述的方法，进一步包括：
使用所述机器人来从所述基块自动撷取所述DUT并将所述DUT传回到托盘。


6.根据权利要求1所述的方法，其中所述机器人是六轴机器人。


7.根据权利要求1所述的方法，其中所述机器人是笛卡尔机器人。


8.根据权利要求1所述的方法，其中所述机器人包括末端执行器，所述末端执行器用于握持所述DUT并将所述DUT转入和转出所述基块中的测试槽。


9.根据权利要求8所述的方法，其中所述机器人进一步包括相机，所述相机用于便于所述DUT的准确拾取和放置。


10.根据权利要求9所述的方法，其中所述机器人进一步包括激光换能器，所述激光换能器用于测量所述末端执行器的移动深度。


11.一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的系统，所述系统包括：
机器人，包括用于自动拾取DUT并将所述DUT转入和转出基块中的测试槽的末端执行器；
系统控制器，包括存储器和处理器，用于控制所述机器人；以及
测试机架，包括多个基块，其中每一基块都是模块化装置，所述模块化装置包括用于对多个DUT进行测试的多个槽，并且其中所述机器人配置成使用所述末端执行器自动接近所述测试机架内的所述多个基块中的槽。


12.根据权利要求11所述的系统，其中所述机器人进一步包括相机，所述相机用于便于所述DUT的准确拾取和放置。


13.根据权利要求12所述的系统，其中所述机器人进一步包括激光换能器，所述激光换能器用于测量所述末端执行器的移动深度。


14.根据权利要求11所...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗兰德·沃夫，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP