一种触碰检测方法、设备、装置和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种触碰检测方法、设备、装置和计算机可读存储介质，应用于可携带设备中，所述方法包括：每隔设定时间段对可变电容进行充放电；获取所述可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长；根据所获取的充电时长来确定所述可携带设备是否处于触碰状态。使用时，由于可变电容可设置可携带设备中，通过检测可变电容的充电时长来判断当前设备是否处于佩戴状态，无需在可携带设备上开孔，因此保留了设备结构的完整性。

A touch detection method, equipment, device and computer readable storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种触碰检测方法、设备、装置和计算机可读存储介质
本专利技术涉及触控
，尤其涉及一种触碰检测方法、设备、装置和计算机可读存储介质。
技术介绍
现有技术中，佩戴检测的其中一种检测手段是通过光学检测，但是使用光学检测需要在与皮肤接触部分的外壳上开孔，破坏设备结构的完整性。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种触碰检测方法、设备、装置和计算机可读存储介质，在不破环设备结构完整性的情况下实现触碰检测。本专利技术一方面提供一种触碰检测方法，应用于可携带设备中，所述方法包括：每隔设定时间段对可变电容进行充放电；获取所述可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长；根据所获取的充电时长来确定所述可携带设备是否处于触碰状态。在一可实施方式中，所述触碰状态包括佩戴状态和针对触摸按键的触摸状态。在一可实施方式中，所述可变电容在所述可携带设备处于非触碰状态时为第一电容，在所述可携带设备处于触碰状态时由所述第一电容转为第二电容；相应的，所述每隔设定时间段对可变电容进行充放电；获取所述可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长，包括：每隔设定时间段对所述第一电容或第二电容进行充放电；获取所述第一电容或第二电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长。在一可实施方式中，所述可携带设备包括焊盘；所述第一电容位于所述可携带设备中；当导体靠近所述焊盘时，所述可携带设备处于触碰状态，所述导体与焊盘之间生成临时电容；所述第二电容为所述第一电容与临时电容的叠加。在一可实施方式中，所述根据所获取的充电时长来确定所述可携带设备是否处于触碰状态，包括：判断所述充电时长是否超过时长阈值；若判定所述充电时长超过所述时长阈值，则确定所述可携带设备处于触碰状态。在一可实施方式中，在确定所述可携带设备处于触碰状态之后，所述方法还包括：驱使所述可携带设备从非工作状态转为工作状态。本专利技术另一方面提供一种触碰检测设备，应用于可携带设备，所述设备包括：充放电模块，用于每隔设定时间段对可变电容进行充放电；时长获取模块，用于获取所述可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长；检测模块，用于根据所获取的充电时长来确定所述可携带设备是否处于触碰状态。本专利技术另一方面提供一种触碰检测装置，应用于可携带设备中，包括处理器、焊盘、电阻、半导体开关和电源；所述焊盘位于所述可携带设备中的印刷电路板上，并与所述印刷电路板之间生成第一电容；当导体靠近所述焊盘时，导体与所述焊盘之间生成临时电容，所述临时电容与第一电容叠加得到第二电容；所述电源、电阻、焊盘依次串联；所述半导体开关串联在所述焊盘和地线之间；所述处理器中的GPIO管脚连接于所述半导体开关，用于每隔设定时间段驱使所述半导体开关闭合或者断开，以对所述第一电容或者第二电容进行充放电；所述处理器中的TIM_CCR管脚连接于所述电阻和焊盘之间，用于获取所述第一电容或第二电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长，并根据所获取的充电时长来确定可携带设备是否处于触碰状态。在一可实施方式中，所述装置还包括高压防护元件：所述高压防护元件，连接于所述可变电容和地线之间，用于防止所述装置因在瞬时高压下而损坏。本专利技术另一方面提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质包括一组计算机可执行指令，当所述指令被执行时用于执行一种触碰检测方法。在本专利技术实施例中，首先通过每隔设定时间段对可变电容进行充放电，接着获取可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长；然后根据所获取的充电时长来确定可携带设备是否处于触碰状态。使用时，由于可变电容可设置可携带设备中，通过检测可变电容的充电时长来判断当前设备是否处于佩戴状态，无需在可携带设备上开孔，因此保留了设备结构的完整性。附图说明通过参考附图阅读下文的详细描述，本专利技术示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本专利技术的若干实施方式，其中：在附图中，相同或对应的标号表示相同或对应的部分。图1为本专利技术实施例一种触碰检测方法的实现流程示意图；图2为本专利技术实施例一种触碰检测设备的结构组成示意图；图3为本专利技术实施例一种触碰检测装置的结构组成示意图；图4为本专利技术实施例一种触碰检测装置的实施效果示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图1为本专利技术实施例一种触碰检测方法的实现流程示意图；如图1所示。本专利技术一方面提供一种触碰检测方法，应用于可携带设备中，方法包括：步骤101，每隔设定时间段对可变电容进行充放电；步骤102，获取可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长；步骤103，根据所获取的充电时长来确定可携带设备是否处于触碰状态。本实施例中，可携带设备可以为手表、耳机、手机等可被人们随身携带的设备。可变电容可设置在可携带设备上，当导体(例如人体)在靠近或者触碰可携带设备时，致使可携带设备处于触碰状态，反之，可携带设备处于非触碰状态，可变电容的电容大小会随可携带设备当前所处状态不同而改变。方法步骤：首先每隔设定时间段对可变电容进行充放电，其中，每个设定时间段可以为等长，也可以不等长，充电或者放电时间为固定值。接着在可变电容充电的状态下，通过电压监测的手段实时获取可变电容的实时电压，并通过计时工具记录可变电容在基准电压时的第一时间点和可变电容在指定电压时的第二时间点，第一时间点和第二时间点之间的差值为充电时长。其中，充电时长会随着可变电容的电容大小不同而不同。在实际应用中，基准电压一般设为0伏，指定电压为根据电容能够承受的大小而定的固定值。最后根据所获取的充电时长来确定当前可携带设备是否处于触碰状态。使用时，由于可变电容可设置可携带设备中，通过检测可变电容的充电时长来判断当前设备是否处于佩戴状态，无需在可携带设备上开孔，因此保留了设备结构的完整性。在一可实施方式中，触碰状态包括佩戴状态和针对触摸按键的触摸状态。本实施例中，当该方法应用于手表、耳机等穿戴设备中时，则通过充电时长来确定当前设备是否处于佩戴状态，当该方法应用于手机、平板等自带触摸按键的设备时，则通过充电时长来确定当前设备的触摸按键是否处于触摸状态。在一可实施方式中，可变电容在可携带设备处于非触碰状态时为第一电容，在可携带设备处于触碰状态时由第一电容转为第二电容；相应的，每隔设定时间段对可变电容进行充放电；获取可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长，包括：每隔设定时间段对第一电容或第二电容进行充放电；获取第一电容或本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触碰检测方法，其特征在于，应用于可携带设备中，所述方法包括：/n每隔设定时间段对可变电容进行充放电；/n获取所述可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长；/n根据所获取的充电时长来确定所述可携带设备是否处于触碰状态。/n

【技术特征摘要】
1.一种触碰检测方法，其特征在于，应用于可携带设备中，所述方法包括：
每隔设定时间段对可变电容进行充放电；
获取所述可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长；
根据所获取的充电时长来确定所述可携带设备是否处于触碰状态。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述触碰状态包括佩戴状态和针对触摸按键的触摸状态。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述可变电容在所述可携带设备处于非触碰状态时为第一电容，在所述可携带设备处于触碰状态时由所述第一电容转为第二电容；
相应的，所述每隔设定时间段对可变电容进行充放电；获取所述可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长，包括：
每隔设定时间段对所述第一电容或第二电容进行充放电；
获取所述第一电容或第二电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述可携带设备包括焊盘；
所述第一电容位于所述可携带设备中；
当导体靠近所述焊盘时，所述可携带设备处于触碰状态，所述导体与焊盘之间生成临时电容；
所述第二电容为所述第一电容与临时电容的叠加。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所获取的充电时长来确定所述可携带设备是否处于触碰状态，包括：
判断所述充电时长是否超过时长阈值；
若判定所述充电时长超过所述时长阈值，则确定所述可携带设备处于触碰状态。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在确定所述可携带设备处于触碰状态之后，所述方法还包括：
驱...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈思，吴玉锦，
申请(专利权)人：出门问问信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11