一种大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置及方法，该装置包括星上热定标源、冷空反射镜、旋转扫描镜、接收组件、第一低温参考源、第二低温参考源、高温参考源和聚束反射面，并形成以下信号通道：第一信号通道：星上热定标源→旋转扫描镜→接收组件；第二信号通道：第一低温参考源→冷空反射镜→旋转扫描镜→接收组件；第三信号通道：高温参考源→聚束反射面→多反射面级联天线→旋转扫描镜→接收组件；第四信号通道：第二低温参考源→聚束反射面→多反射面级联天线→旋转扫描镜→接收组件。本发明专利技术可完成5m口径的多反射面级联天线链路损耗测试。

A test device and method for link loss of large aperture multi reflector cascaded antenna

【技术实现步骤摘要】
一种大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置及方法
本专利技术涉及一种微波辐射计定标测试
，尤其涉及一种大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置及方法。
技术介绍
大口径微波辐射计是静止轨道微波有效载荷。通过对大气和云进行高频次监测，获取台风、降水、厚云、薄云和晴空状态下区域大气温、湿廓线，为提高天气分析、预报，尤其是临近预报、区域数值天气预报准确率服务；对致灾高影响天气如台风、强对流等的进行高频次立体监测，为气象灾害预警和次生灾害预测提供服务；通过对强降水、洪涝、高温、寒潮的实时动态监测，为生态和环境监测、治理提供信息服务；通过生成各种大气物理参数和定量化产品，为农业、航空、航天、海洋、水利，为国防安全保障，为科学研究提供服务。大口径微波辐射计在轨运行时能否获取有价值的探测资料，得到定量化的应用和真正的业务使用，主要取决于微波辐射计能否进行精确定标。目前在轨的微波辐射计主要有两种定标方法，一种是以SSM/I、AMSR、TMI等为代表的馈源口面定标方法，星载微波辐射计馈源口面定标法是指主反射天线、馈源、接收机和其它一些子系统一起置于转台上旋转本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置，其特征在于，包括星上热定标源、冷空反射镜、旋转扫描镜、接收组件、第一低温参考源、第二低温参考源、高温参考源和聚束反射面，并形成以下信号通道：/n第一信号通道：星上热定标源→旋转扫描镜→接收组件；/n第二信号通道：第一低温参考源→冷空反射镜→旋转扫描镜→接收组件；/n第三信号通道：高温参考源→聚束反射面→多反射面级联天线→旋转扫描镜→接收组件；/n第四信号通道：第二低温参考源→聚束反射面→多反射面级联天线→旋转扫描镜→接收组件。/n

【技术特征摘要】
1.一种大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置，其特征在于，包括星上热定标源、冷空反射镜、旋转扫描镜、接收组件、第一低温参考源、第二低温参考源、高温参考源和聚束反射面，并形成以下信号通道：
第一信号通道：星上热定标源→旋转扫描镜→接收组件；
第二信号通道：第一低温参考源→冷空反射镜→旋转扫描镜→接收组件；
第三信号通道：高温参考源→聚束反射面→多反射面级联天线→旋转扫描镜→接收组件；
第四信号通道：第二低温参考源→聚束反射面→多反射面级联天线→旋转扫描镜→接收组件。


2.根据权利要求1所述的大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置，其特征在于，所述第一低温参考源安装于所述冷空反射镜口面。


3.根据权利要求1所述的大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置，其特征在于，所述高温参考源和第二低温参考源均安装在以所述聚束反射面焦点为圆心、半径为200mm的圆周上。


4.根据权利要求1所述的大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置，其特征在于，所述聚束反射面口径大于待测大口径多反射面级联天线的反射面口径。


5.如权利要求1所述的一种大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置，其特征在于，所述高温参考源、第一低温参考源和第二低温参考源口径为Φ200mm。


6.如权利要求1所述的一种大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置，其特征在于，所述旋转扫描镜采用偏焦设计。


7.根据权利要求1所述的大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：李向芹，谢振超，姚崇斌，李尊良，邙晓斌，李雪，杨永键，瞿浩，王海，
申请(专利权)人：上海航天测控通信研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31