一种基于MTP预端接光缆的测试方法技术

本发明专利技术涉及一种基于MTP预端接光缆的测试方法，其步骤依次为：测试并确定LC‑LC参考跳线和LC‑LC测试跳线；光功率计测试数据的校正；确定所要使用的合格的LC‑MTP带针测试跳线；对预端接光缆系统的测试。该发明专利技术中通过确定的参考跳线和测试跳线对光功率计的数据予以校正，并在同样的测试系统下选定LC‑MTP带针测试跳线，依据选定的LC‑MTP带针测试跳线来对MTP预端接的光缆测试，测试简单快捷方便也不会损坏光缆，极大的提高测试效率以及测试数据的准确性。

A test method of pre terminated optical cable based on MTP

【技术实现步骤摘要】
一种基于MTP预端接光缆的测试方法
本专利技术涉及光通信领域，尤其是一种简单方便快捷且测试数据准确的基于MTP预端接光缆的测试方法。
技术介绍
5G作为驱动下一个10年信息产业和社会经济发展的巨大引擎，其超密集组网的建设方式，将直接拉动天线、射频、光纤光缆、光模块、系统集成等全产业链的投资规模提升。当前运营商进行基站建设时，光纤到基站采用的主要是拉远光缆组件，RRU与BBU之间通常采用1-2芯光纤作为通信通路，提供1个收发并行通道与SFP光模块配合。但随着5G对承载网络传输速率和容量的需求提升，传统的2芯跳线已经无法满足需求，由此可以预见，多芯的MTP跳线被用于室外移动通信的趋势将越来越明朗，MTP跳线耐磨、阻燃，抗拉性强，更适用于室外环境或复杂的施工环境。另一方面，采用高密度多芯光纤连接器(MTP)可以增加单个基站的天线数量，进而增加单个基站的通信容量。这也意味着，MTP光缆及其配套组件，将可能成为未来5G网络建设的需求热门。而随着光缆制造行业的竞争日益激烈，光缆制造成本和光缆产品质量的好坏则成为企业发展的突出问题，作为光缆质量的关键指标之一：光纤衰减的检测和控制以及测试的效率高低一直是光缆制造企业的瓶颈，而现有的测试方法，不仅要配备大量的测试人员花费大量时间耦合干预，还可能损坏光纤，而且还会由于测试系统中测试数据产生的误差而导致不合格产品流入下道工序，甚至流入市场，引起质量事故的发生和高额的经济赔偿。因此这种传统的测试方法在现场链路损耗测试中，操作复杂，容易出错，效率低下，测试数据的准确度也不高。
技术实现思路
针对现有的不足，本专利技术提供一种简单方便快捷且测试数据准确的基于MTP预端接光缆的测试方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基于MTP预端接光缆的测试方法，其步骤为：(1)使用LC-LC跳线将带有LC接口的光源和光功率计相连，测试并确定一条LC-LC参考跳线和多条LC-LC测试跳线；(2)光功率计测试数据的校正：将光源和光功率计对应连接步骤(1)中确定的LC-LC参考跳线和一条LC-LC测试跳线，并在LC-LC参考跳线和LC-LC测试跳线中再连接一条LC-LC测试跳线形成具有LC连接器对的测试系统，然后通过测试链路损耗来对光功率计测试数据校正；(3)确定所要使用的合格的LC-MTP带针测试跳线：在步骤(2)的测试系统中移除与LC-LC参考跳线连接的LC-LC测试跳线，将两根多芯LC-MTP带针测试跳线各通过一个相同颜色的光纤分支对应连接在与光源连接的LC-LC参考跳线和与光功率计连接的LC-LC测试跳线上，然后将两端都不带针的MTP-MTP标准测试跳线连接在两根LC-MTP带针测试跳线之间，测试LC-MTP带针测试跳线上该光纤分支的链路损耗，然后断开该光纤分支的连接，之后依次连接测试LC-MTP带针跳线上各光纤分支的链路损耗，在测得的各光纤分支的损耗值都不大于1.5db时确认该测试系统中的LC-MTP带针测试跳线为合格的LC-MTP带针测试跳线；(4)预端接光缆系统的测试，依据步骤(3)中的测试系统，移除两端都不带针的MTP-MTP标准测试跳线，将预端接光缆中两端不带针MTP连接器与LC-MTP带针测试跳线上的带针MTP连接器连接，然后依次连接断开两个LC-MTP带针测试跳线上各光纤分支与LC-LC参考跳线和LC-LC测试跳线的连接，且两个LC-MTP带针测试跳线上每次连接的光纤分支颜色相同，测试记录每个光纤分支在连接时的链路损耗测量值，该测量值即为每个光纤分支的链路损耗。作为优选，步骤(1)中测试确定LC-LC参考跳线和LC-LC测试跳线的方法是：1)将LC-LC跳线连接在光源和光功率计之间；2)读取并记录光功率计的数据，依据IEC标准，在数据小于0.1db时即为合格的LC-LC跳线，并将其作为LC-LC参考跳线；3)确定好LC-LC参考跳线后，断开LC-LC参考跳线与光功率计的连接并在LC-LC参考跳线与光功率计之间连接另一条LC-LC跳线，当光功率计的测试数据即链路损耗值不大于两端LC连接器的插损值时即为合格的LC-LC测试跳线。作为优选，在步骤(2)中测试系统的链路损耗值在不大于1db时，将光功率计归零或记录此时的光功率计的读数来校正光功率计测试的数据。作为优选，所述LC-MTP带针测试跳线是12芯跳线，在步骤(3)中，所述测试顺序是由蓝色光纤分支开始测试，其次是橙色，然后依次按照颜色顺序测试其他光纤分支，且在测试每个光纤分支时处于连接状态的各个光纤分支的色标和编码相同。作为优选，所述预端接光缆是通过MTP连接器的互联来设置的。作为优选，所述MTP连接器的互联是通过在1U或4U机架式配线架中装配带有MTP适配器的配线面板来设置的，预端接光缆的MTP连接器接入配线面板的后背板，配线面板的前面板连接MTP预端接的分支光缆，分支光缆的另一端与网络设备或其他配线面板连接。本专利技术的有益效果在于：该专利技术中通过确定的参考跳线和测试跳线对光功率计的数据予以校正，并在同样的测试系统下选定LC-MTP带针测试跳线，依据选定的LC-MTP带针测试跳线来对MTP预端接的光缆测试，测试简单方便也不会损坏光缆，极大的提高测试效率以及测试数据的准确性。附图说明图1是本专利技术确定LC-LC参考跳线的原理示意图；图2是本专利技术确定LC-LC测试跳线的原理示意图；图3是本专利技术对光功率计测试数据校正原理示意图；图4是本专利技术确定合格LC-MTP带针测试跳线原理示意图；图5是本专利技术对待测链路的测试原理示意图；具体实施方式为了更清楚地说明本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本专利技术的部分实施例，而不是全部实施例。基于本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术的保护范围。本专利技术的原理如图1至图5中的框图所示，一种基于MTP预端接光缆的测试方法，其步骤为：(1)使用LC-LC跳线将带有LC接口的光源和光功率计相连，测试并确定一条LC-LC参考跳线和多条LC-LC测试跳线，该步骤中的具体方法则是；如图1中所示，1)将LC-LC跳线连接在光源和光功率计之间；2)读取并记录光功率计的数据，依据IEC标准，在测得的数据小于0.1db时即为合格的LC-LC跳线，并将其作为LC-LC参考跳线；如图2中所示，3)确定好LC-LC参考跳线后，断开LC-LC参考跳线与光功率计的连接并在LC-LC参考跳线与光功率计之间连接另一条LC-LC跳线，当光功率计的测试数据即链路损耗值不大于两端LC连接器的插损值时即为合格的LC-LC测试跳线，若所测得的损耗值大于两端连接器的插损值，则说明此跳线不合格，需要更换另外的跳线来重新测试以确定合格的测试跳线，既确定了跳线也对各连接器进行了检查确保了后续测试数据的准确性；(2本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于MTP预端接光缆的测试方法，其步骤为：/n(1)使用LC-LC跳线将带有LC接口的光源和光功率计相连，测试并确定一条LC-LC参考跳线和多条LC-LC测试跳线；/n(2)光功率计测试数据的校正：将光源和光功率计对应连接步骤(1)中确定的LC-LC参考跳线和一条LC-LC测试跳线，并在LC-LC参考跳线和LC-LC测试跳线中再连接一条LC-LC测试跳线形成具有LC连接器对的测试系统，然后通过测试链路损耗来对光功率计测试数据校正；/n(3)确定所要使用的合格的LC-MTP带针测试跳线：在步骤(2)的测试系统中移除与LC-LC参考跳线连接的LC-LC测试跳线，将两根多芯LC-MTP带针测试跳线各通过一个相同颜色的光纤分支对应连接在与光源连接的LC-LC参考跳线和与光功率计连接的LC-LC测试跳线上，然后将两端都不带针的MTP-MTP标准测试跳线连接在两根LC-MTP带针测试跳线之间，测试LC-MTP带针测试跳线上该光纤分支的链路损耗，然后断开该光纤分支的连接，之后依次连接测试LC-MTP带针跳线上各光纤分支的链路损耗，在测得的各光纤分支的损耗值都不大于1.5db时确认该测试系统中的LC-MTP带针测试跳线为合格的LC-MTP带针测试跳线；/n(4)预端接光缆系统的测试，依据步骤(3)中的测试系统，移除两端都不带针的MTP-MTP标准测试跳线，将预端接光缆中两端不带针MTP连接器与LC-MTP带针测试跳线上的带针MTP连接器连接，然后依次连接断开两个LC-MTP带针测试跳线上各光纤分支与LC-LC参考跳线和LC-LC测试跳线的连接，且两个LC-MTP带针测试跳线上每次连接的光纤分支颜色相同，测试记录每个光纤分支在连接时的链路损耗测量值，该测量值即为每个光纤分支的链路损耗。/n...

【技术特征摘要】
1.一种基于MTP预端接光缆的测试方法，其步骤为：
(1)使用LC-LC跳线将带有LC接口的光源和光功率计相连，测试并确定一条LC-LC参考跳线和多条LC-LC测试跳线；
(2)光功率计测试数据的校正：将光源和光功率计对应连接步骤(1)中确定的LC-LC参考跳线和一条LC-LC测试跳线，并在LC-LC参考跳线和LC-LC测试跳线中再连接一条LC-LC测试跳线形成具有LC连接器对的测试系统，然后通过测试链路损耗来对光功率计测试数据校正；
(3)确定所要使用的合格的LC-MTP带针测试跳线：在步骤(2)的测试系统中移除与LC-LC参考跳线连接的LC-LC测试跳线，将两根多芯LC-MTP带针测试跳线各通过一个相同颜色的光纤分支对应连接在与光源连接的LC-LC参考跳线和与光功率计连接的LC-LC测试跳线上，然后将两端都不带针的MTP-MTP标准测试跳线连接在两根LC-MTP带针测试跳线之间，测试LC-MTP带针测试跳线上该光纤分支的链路损耗，然后断开该光纤分支的连接，之后依次连接测试LC-MTP带针跳线上各光纤分支的链路损耗，在测得的各光纤分支的损耗值都不大于1.5db时确认该测试系统中的LC-MTP带针测试跳线为合格的LC-MTP带针测试跳线；
(4)预端接光缆系统的测试，依据步骤(3)中的测试系统，移除两端都不带针的MTP-MTP标准测试跳线，将预端接光缆中两端不带针MTP连接器与LC-MTP带针测试跳线上的带针MTP连接器连接，然后依次连接断开两个LC-MTP带针测试跳线上各光纤分支与LC-LC参考跳线和LC-LC测试跳线的连接，且两个LC-MTP带针测试跳线上每次连接的光纤分支颜色相同，测试记录每个光纤分支在连接时的链路损耗测量值，该测量值即为每个光纤分支的链路损耗。

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志平，孔祥君，付勇，
申请(专利权)人：深圳市中兴新地技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44