一种光模块多通道测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种光模块多通道测试系统，包括带CDR的标准光模块、32通道光开关、状态显示灯、待测模块、电流采集芯片、MCU、8路电流驱动芯片和模块调测试状态指示灯，所述带CDR的标准光模块通过光纤跳线与所述32通道光开关连接。本实用新型专利技术中，在常温调测试时，调测试人员可以短时间离开，去进行其他产品的调测试，待此组待测模块测试完成后，只需要根据模块调测试状态指示灯来判断待测模块的调测试状态，而在高低温测试时，由于16支待测模块一直处于供电状态，所以只需要等待一段时间后，16支待测模块便均可以开始进行测试，这样可以大大节约测试时间，同时提高测试一致性。

An optical module multichannel test system

【技术实现步骤摘要】
一种光模块多通道测试系统
本技术涉及光通信
，尤其涉及一种光模块多通道测试系统。
技术介绍
随着光通信技术及物联网的迅猛发展，光模块作为网络互联互通的核心部件，在越来越多的领域得到了大规模应用，光模块中使用的关键物料-光器件，其性能参数受温度的影响较大，为了检验光模块的性能在高低温环境下是否满足使用要求，一般会对光模块进行高低温性能测试，而现阶段的单通道测试系统，由于光器件的温度特性，在测试时的测试效率一般不高。在常温调测试时，每次测试完成后，都需要手动更换下一只待测模块，需要测试人员一直坐在测试系统前，无法进行其他操作；若是进行高低温测试则每一只光模块都需要单独等待一段时间，在待测试的光模块数量较少时，该方法还可能适用，但是当光模块数量较多时，该测试系统则显得效率很低，因为在进行模块温度测试时，对模块进行性能测试上所花费的时间较少，反而是在模块工作稳定状态的等待上浪费了较多时间，如果能够在不打开箱门的前提下单次进行多只模块的性能测试，则相当于大大减少了每只模块的温度等待时间，可以大大加快测试速度，满足生产和科研的要求。
技术实现思路
本技术的目的在于：为了解决传统的光模块的高低温性能测试效率较低的问题，而提出的一种光模块多通道测试系统。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种光模块多通道测试系统，包括带CDR的标准光模块、32通道光开关、状态显示灯、待测模块、电流采集芯片、MCU、8路电流驱动芯片和模块调测试状态指示灯，所述带CDR的标准光模块通过光纤跳线与所述32通道光开关连接，且所述32通道光开关将标准光源与所述32个待测模块连接，所述MCU通过两个所述8路IIC拓展芯片拓展成16路，所述MCU通过控制所述第二8路I/O口拓展芯片对所述待测模块的TXDisable脚进行拉高或者拉低，所述MCU通过控制所述第三8路I/O口拓展芯片增加所述8路电流驱动芯片驱动能力，所述8路电流驱动芯片，所述8路电流驱动芯片的高低电平输出用于完成不同所述模块调测试状态指示灯的状态控制。作为上述技术方案的进一步描述：所述待测模块的TXFault、RXLOS、TXDisable的状态通过状态显示灯显示出来。作为上述技术方案的进一步描述：通过所述MCU读取待测模块在位状态和LOS状态。作为上述技术方案的进一步描述：所述MCU通过第一8路I/O口拓展芯片对所述待测模块的供电开关的进行控制。作为上述技术方案的进一步描述：所述电流采集芯片采集到的电压流入到所述8路ADC转换芯片。作为上述技术方案的进一步描述：所述MCU读取所述8路ADC转换芯片中的AD值，并转换成对应的所述待测模块电流值。综上所述，由于采用了上述技术方案，本技术的有益效果是：本技术中，在常温调测试时，调测试人员可以短时间离开，去进行其他产品的调测试，待此组待测模块测试完成后，只需要根据模块调测试状态指示灯来判断待测模块的调测试状态，而在高低温测试时，由于16支待测模块一直处于供电状态，所以只需要等待一段时间后，16支待测模块便均可以开始进行测试，这样可以大大节约测试时间，同时提高测试一致性。附图说明图1为本技术提出的一种光模块多通道测试系统的多通道测试示意结构示意图；图2为本技术提出的一种光模块多通道测试系统的多通道系统示意结构示意图。图例说明：1、带CDR的标准光模块；2、32通道光开关；3、状态显示灯；4、待测模块；5、电流采集芯片；6、第一8路I/O口拓展芯片；7、8路IIC拓展芯片；8、第二8路I/O口拓展芯片；9、8路ADC转换芯片；10、MCU；11、第三8路I/O口拓展芯片；12、8路电流驱动芯片；13、模块调测试状态指示灯。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。实施例1请参阅图1，一种光模块多通道测试系统，包括带CDR的标准光模块1、32通道光开关2、状态显示灯3、待测模块4、电流采集芯片5、MCU10、8路电流驱动芯片12和模块调测试状态指示灯13，带CDR的标准光模块1通过光纤跳线与32通道光开关2连接，且32通道光开关2将标准光源与32个待测模块4连接，通过控制32通道光开关2通路，分别完成对32个待测模块4的调测试，MCU10通过两个8路IIC拓展芯片7拓展成16路，实现对16个待测模块4的单独分别的读写与调试，MCU10通过控制第二8路I/O口拓展芯片8对待测模块4的TXDisable脚进行拉高或者拉低，以便于完成待测模块4的发端关断测试，MCU10通过控制第三8路I/O口拓展芯片11增加8路电流驱动芯片12驱动能力，8路电流驱动芯片12，8路电流驱动芯片12的高低电平输出用于完成不同模块调测试状态指示灯13的状态控制。实施例2请参阅图1，待测模块4的TXFault、RXLOS、TXDisable的状态通过状态显示灯3显示出来，状态显示灯3为贴片LED灯。实施例3请参阅图1，MCU10通过第一8路I/O口拓展芯片6对待测模块4的供电开关的进行控制，用于对待测模块4电流的输入，电流经过MOS管电开关进入电流采集芯片5后，为待测模块4进行供电，电流流入MOS管，MOS管开关状态由第一8路I/O口拓展芯片6控制，电流采集芯片5采集到的电压流入到8路ADC转换芯片9，MCU10读取8路ADC转换芯片9中的AD值，并转换成对应的待测模块4电流值，完成对待测模块4电流值的采集。工作原理：使用时，MCU10初始化时应保证每支待测模块4都处于正常工作状态，即保证TXDisable处于低电平状态，同时将16个模块调测试状态指示灯13初始化为发黄光(绿色为调测试通过、红色为调测试失败、黄色待测状态)；可以通过上位机读取待测模块4内部信息，并展示在上位机面板上；调测试时，通过上位机打开对应需要调测试模块所处于的通道，使得带CDR的标准光模块1与待测模块4处于互相传输的状态，模块调测试状态指示灯13此时为黄灯，后续调测试就与常规的单通道测试系统一样，待一支待测模块4调测完成后，判断其是否调试通过，通过则亮绿灯，未通过则亮红灯，然后开启下一个通道。重复上述调试过程。在实际应用的过程中，需要将带CDR的标准光模块1连接在多通道测试的系统之中，16支待测光模块4的收发端通过两个1*16路的光开关，将16支光模块的光纤跳线聚合在一条光纤跳线中，其中待测模块4的发端经过1*16路光开关后，分别可以与光功率计、示波器以及标准光源进行连接，已便于对相关光电参数进行调测试。而标准光源的发端经过衰减器后，在经过1*16路光开关后到达待测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光模块多通道测试系统，其特征在于，包括带CDR的标准光模块(1)、32通道光开关(2)、状态显示灯(3)、待测模块(4)、电流采集芯片(5)、MCU(10)、8路电流驱动芯片(12)和模块调测试状态指示灯(13)；/n带CDR的标准光模块(1)：通过光纤跳线与32通道光开关(2)连接，且32通道光开关(2)将标准光源与32个待测模块(4)连接；/nMCU(10)：MCU(10)通过两个8路IIC拓展芯片(7)拓展成16路；MCU(10)通过控制第二8路I/O口拓展芯片(8)对待测模块(4)的TX Disable脚进行拉高或者拉低；MCU(10)通过控制第三8路I/O口拓展芯片(11)增加8路电流驱动芯片(12)驱动能力；/n8路电流驱动芯片(12)：8路电流驱动芯片(12)的高低电平输出用于完成不同模块调测试状态指示灯(13)的状态控制。/n

【技术特征摘要】
1.一种光模块多通道测试系统，其特征在于，包括带CDR的标准光模块(1)、32通道光开关(2)、状态显示灯(3)、待测模块(4)、电流采集芯片(5)、MCU(10)、8路电流驱动芯片(12)和模块调测试状态指示灯(13)；
带CDR的标准光模块(1)：通过光纤跳线与32通道光开关(2)连接，且32通道光开关(2)将标准光源与32个待测模块(4)连接；
MCU(10)：MCU(10)通过两个8路IIC拓展芯片(7)拓展成16路；MCU(10)通过控制第二8路I/O口拓展芯片(8)对待测模块(4)的TXDisable脚进行拉高或者拉低；MCU(10)通过控制第三8路I/O口拓展芯片(11)增加8路电流驱动芯片(12)驱动能力；
8路电流驱动芯片(12)：8路电流驱动芯片(12)的高低电平输出用于完成不同模块调测试状态指示灯(13)的状态控制。


2.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄健轩，
申请(专利权)人：成都芯瑞科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51