【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】散射估计方法和图像处理装置
本专利技术涉及一种散射估计方法和图像处理装置，特别是，涉及正电子放射断层摄影装置的测量数据中的散射估计方法和图像处理装置。
技术介绍
以往，已知正电子放射断层摄影装置的测量数据中的散射估计方法和图像处理装置。这种散射估计方法例如在专利文献1和非专利文献1中被公开。一般地，在正电子放射断层摄影装置中，有时在拍摄时在被摄体内放射线被散射，由此得到的图像中包括噪声。因此，像上述专利文献1和上述非专利文献1那样，进行散射估计，从而针对测量数据进行散射校正。作为散射估计，进行假设了放射线在被摄体内散射了仅一次的情况的单次散射分布的估计。另外，在放射线的散射中还包括放射线在被摄体内进行多次散射的多重散射。在上述非专利文献1中，作为散射估计方法，公开了作为单次散射分布的卷积而进行建模的多重散射分布的估计方法。即，在上述非专利文献1中，对单次散射分布进行卷积(卷积运算)来模拟(Simulate)多重散射分布，由此进行散射校正。在上述专利文献1中，公开了如下方法：通过最小二乘法对单次散射分布...
【技术保护点】
1.一种散射估计方法，包括以下步骤：/n获取正电子放射断层摄影测量数据和吸收系数数据；/n根据所述正电子放射断层摄影测量数据和所述吸收系数数据来生成放射性图像；/n根据所述放射性图像和所述吸收系数数据来估计所述放射性图像中的放射线的单次散射分布；/n卷积核决定步骤，基于所述放射性图像的散射线指标值来决定用于对所述单次散射分布进行平滑化的卷积核；以及/n使将所述卷积核应用于所述单次散射分布来进行平滑化后的散射分布拟合到所述正电子放射断层摄影测量数据。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种散射估计方法，包括以下步骤：
获取正电子放射断层摄影测量数据和吸收系数数据；
根据所述正电子放射断层摄影测量数据和所述吸收系数数据来生成放射性图像；
根据所述放射性图像和所述吸收系数数据来估计所述放射性图像中的放射线的单次散射分布；
卷积核决定步骤，基于所述放射性图像的散射线指标值来决定用于对所述单次散射分布进行平滑化的卷积核；以及
使将所述卷积核应用于所述单次散射分布来进行平滑化后的散射分布拟合到所述正电子放射断层摄影测量数据。
2.根据权利要求1所述的散射估计方法，其特征在于，
所述散射线指标值为散射分数，
在所述卷积核决定步骤中，基于使用表征所述卷积核的多个参数进行平滑化后的所述放射性图像的各个散射分数的比较结果，来决定所述卷积核。
3.根据权利要求2所述的散射估计方法，其特征在于，
在所述卷积核决定步骤中，基于伴随所述多个参数的变化而产生的所述散射分数的变化的大小来决定所述卷积核。
4.根据权利要求1所述的散射估计方法，其特征在于，
在根据所述放射性图像...
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