【技术实现步骤摘要】
设备异常分析方法、分析装置、分析系统和可读存储介质
本专利技术涉及设备分析
,尤其涉及设备异常分析方法、设备异常分析装置、设备异常分析系统和可读存储介质。
技术介绍
为了保证产品出厂后的质量,在产品生产时,通过烧录器对设备烧录程序后,一般会对设备运行状况进行检测,以保证设备烧录程序后的运行正常。其中,为了提高产线的良品率,一般对烧录程序后出现异常的设备进行异常分析,以及时发现产线上的制程问题并解决。然而,当前在对烧录程序后出现异常的设备进行异常分析时,一般通过打印信息和烧录器重新烧录,但是打印信息的方式仅能确定出现异常的位置,而无法得知异常是烧录的程序有问题还是烧录的过程出现问题导致的;而烧录器需要反复烧录对比才能确定设备异常的原因,效率低下。由此可见,目前无法快速准确地得到烧录程序后出现异常的设备的异常原因。上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种设备异常分析方法,旨在针对烧录程序后出现异常的设备, ...
【技术保护点】
1.一种设备异常分析方法,其特征在于,所述设备异常分析方法包括以下步骤:/n获取所述待测设备所烧录的预设程序;所述待测设备为已完成程序烧录且运行异常的设备;/n将所述预设程序写入所述待测设备;/n重启所述待测设备;/n根据所述待测设备的启动情况确定所述待测设备的异常类型。/n
【技术特征摘要】
1.一种设备异常分析方法,其特征在于,所述设备异常分析方法包括以下步骤:
获取所述待测设备所烧录的预设程序;所述待测设备为已完成程序烧录且运行异常的设备;
将所述预设程序写入所述待测设备;
重启所述待测设备;
根据所述待测设备的启动情况确定所述待测设备的异常类型。
2.如权利要求1所述的设备异常分析方法,其特征在于,所述根据所述待测设备的启动情况确定所述待测设备的异常类型的步骤包括
当所述待测设备启动异常,确定所述异常类型为所述预设程序存在异常;
当所述待测设备启动正常,确定所述异常类型为烧录过程或烧录器存在异常。
3.如权利要求1所述的设备异常分析方法,其特征在于,所述将所述预设程序写入所述待测设备的步骤包括:
控制所述待测设备进入预设数据修改模式;
将存储有所述预设程序的存储设备挂载至所述待测设备;
将所述预设程序写入所述待测设备的预设存储位置。
4.如权利要求3所述的设备异常分析方法,其特征在于,所述重启所述待测设备的步骤之前,还包括:
在所述预设程序写入完成后,卸载所述存储设备;
刷新所述预设存储位置内的数据。
5.如权利要求1所述的设备异常分析方法,其特征在于,所述获取待测设备的预设程序的步骤之前,还包括:
在所述待测设备启动时,获取所述预设程序对应的预设升级程序;
...
【专利技术属性】
技术研发人员:洪明彬,
申请(专利权)人:深圳创维RGB电子有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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