一种基于FPGA的CPU IO中断性能测试装置制造方法及图纸

技术编号:23314941 阅读:20 留言:0更新日期:2020-02-11 17:44
本发明专利技术公开了一种基于FPGA的CPU IO中断性能测试装置,所述装置包括串口命令解析单元,中断源控制单元,中断源发生单元以及中断性能计算单元,其中:串口命令解析单元负责解析CPU IO中断性能测试指令;中断源控制单元用于根据寄存器数值,控制中断源的发生次数与脉冲长度、宽度;中断源发生单元用于产生中断脉冲;中断性能计算单元用于接收CPU IO中断响应,并计算当前响应性能。本发明专利技术测试装置电路设计精巧,技术先进,使用方便简单,应用前景广阔,实现了对IO中断性能的高精度测试。

A test device of CPU IO interrupt performance based on FPGA

【技术实现步骤摘要】
一种基于FPGA的CPUIO中断性能测试装置
本专利技术涉及电路设计
,具体涉及一种基于FPGA的CPUIO中断性能测试装置。
技术介绍
CPU与I/O设备通过硬件接口或控制器相连接,这些接口或控制器都有数量不等的端口,这些端口有统一的地址编码,CPU通过这些端口使用输入输出指令IN、OUT与外设进行数据交换。计算机在执行程序过程中,遇到需要处理的事件时,暂停当前正在运行的程序,转去执行有关的服务程序,处理完后自动返回原程序,这个过程称为中断(interrupt)。中断在现代计算机系统中是一种非常重要的技术,输入输出设备和主机交换数据、分时操作、实时系统、多处理机系统、计算机网络和分布式计算机系统都要用到这种技术。近年来随着集成电路工艺的发展,CPU的工艺尺寸逐年下降。随着工艺尺寸的下降,带来了性能的巨大提升。而CPUIO中断性能为CPU一项重要的数据指标,其测试的精度对后续基于该CPU的设计有着重要的参考作用。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是:针对CPUIO中断性能测试这一问题,利用FPGA设计了CPUIO中断性能测试装置,从而实现了对IO中断性能的高精度测试。针对上述问题,本专利技术提供一种基于FPGA的CPUIO中断性能测试装置。本专利技术所采用的技术方案为:一种基于FPGA的CPUIO中断性能测试装置,所述装置包括串口命令解析单元,中断源控制单元,中断源发生单元以及中断性能计算单元,其中:串口命令解析单元负责解析CPUIO中断性能测试指令;中断源控制单元用于根据寄存器数值,控制中断源的发生次数与脉冲长度、宽度;中断源发生单元用于产生中断脉冲;中断性能计算单元用于接收CPUIO中断响应,并计算当前响应性能。所述测试装置由FPGA电路构成,对外采FPGA作为中断发生源,在FPGA内部捕获被测CPU的中断响应,并计算极限中断响应时间。所述测试装置内部单元工作过程如下:串口命令解析单元通过串口接收到开始命令后,解析出指令通知中断源控制单元;中断源控制单元接到指令后,进行初始化,设置中断个数和中断长度初始值,并通知中断源发生单元开始发送中断脉冲;中断脉冲发送后,中断性能计算单元接收CPU响应的中断脉冲数量与响应时间,并与发送的数量进行比较。所述中断性能计算单元接收的中断脉冲数量与发送的如果不一致,则CPU响应时间过长,将中断脉冲宽度扩大,继续测试。所述中断性能计算单元接收的中断脉冲数量与发送的如果一致,则记录CPUIO中断响应时间与相应的脉冲宽度,并减小中断脉冲宽度,再次进行测试,直至中断脉冲宽度精度达到测试要求的精度,停止测试,并记录下最小的中断脉冲宽度与中断响应时间,通过串口返回。中断脉冲宽度扩大或中断脉冲宽度减小采用二分法方式。所属测试装置的具体工作流程内容包括如下:(1)发送串口指令启动测试装置;(2)对中断源控制单元进行初始化,设立中断脉冲宽度为1us,个数为64;(3)启动中断源发生单元发送中断脉冲;(4)中断源性能计算单元接收CPU响应的中断,记录中断脉冲个数与响应时间;(5)中断源性能计算单元判断接收的中断脉冲个数是否满足发送的数量64个,若不满足则说明超出了CPU响应脉冲的极限,则用二分法展宽脉冲;如满足,则判断精度是否达标,不达标则用二分法降低脉冲宽度;具体做法为初始值1us,不满足则扩展至2us,若2us满足,但不满足精度要求,则二分位1.5us,以此类推可精确至纳秒等级。满足精度后,输出响应脉冲宽度与响应时间,完成中断性能测试。所述测试装置具体应用时,将测试装置的串口连接至陪测电脑,测试装置的IO通过测试工装连接至被测CPUIO。通过发送串口启动指令,即可在串口调试助手中收到最小可响应的脉冲宽度与其响应时间,从而获取CPUIO中断响应的极限值。本专利技术的有益效果为:本专利技术测试装置电路设计精巧,技术先进,使用方便简单,应用前景广阔,实现了对IO中断性能的高精度测试。附图说明图1是本专利技术基于FPGA的CPUIO中断性能测试装置示意图;图2为本专利技术FPGA中断性能测试装置算法流程图。具体实施方式下面结合说明书附图,根据具体实施方式对本专利技术进一步说明:如图1所示,一种基于FPGA的CPUIO中断性能测试装置,所述装置包括串口命令解析单元,中断源控制单元,中断源发生单元以及中断性能计算单元,其中:串口命令解析单元负责解析CPUIO中断性能测试指令;中断源控制单元用于根据寄存器数值,控制中断源的发生次数与脉冲长度、宽度;中断源发生单元用于产生中断脉冲;中断性能计算单元用于接收CPUIO中断响应,并计算当前响应性能。所述测试装置由FPGA电路构成,对外采FPGA作为中断发生源,在FPGA内部捕获被测CPU的中断响应,并计算极限中断响应时间。所述测试装置具体应用时,将测试装置的串口连接至陪测电脑,测试装置的IO通过测试工装连接至被测CPUIO。通过发送串口启动指令,即可在串口调试助手中收到最小可响应的脉冲宽度与其响应时间,从而获取CPUIO中断响应的极限值。如图2所示,所述测试装置的具体工作流程内容包括如下:(1)发送串口指令启动测试装置;(2)对中断源控制单元进行初始化,设立中断脉冲宽度为1us,个数为64;(3)启动中断源发生单元发送中断脉冲;(4)中断源性能计算单元接收CPU响应的中断,记录中断脉冲个数与响应时间;(5)中断源性能计算单元判断接收的中断脉冲个数是否满足发送的数量64个,若不满足则说明超出了CPU响应脉冲的极限,则用二分法展宽脉冲;如满足,则判断精度是否达标,不达标则用二分法降低脉冲宽度;具体做法为初始值1us,不满足则扩展至2us,若2us满足,但不满足精度要求,则二分位1.5us,以此类推可精确至纳秒等级。满足精度后,输出响应脉冲宽度与响应时间,完成中断性能测试。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已,并非用于限定本专利技术的保护范围。凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均包含在本专利技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于FPGA的CPU IO中断性能测试装置,其特征在于,所述装置包括串口命令解析单元,中断源控制单元,中断源发生单元以及中断性能计算单元,其中:/n串口命令解析单元负责解析CPU IO中断性能测试指令;/n中断源控制单元用于根据寄存器数值,控制中断源的发生次数与脉冲长度、宽度;/n中断源发生单元用于产生中断脉冲;/n中断性能计算单元用于接收CPU IO中断响应,并计算当前响应性能。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于FPGA的CPUIO中断性能测试装置,其特征在于,所述装置包括串口命令解析单元,中断源控制单元,中断源发生单元以及中断性能计算单元,其中:
串口命令解析单元负责解析CPUIO中断性能测试指令;
中断源控制单元用于根据寄存器数值,控制中断源的发生次数与脉冲长度、宽度;
中断源发生单元用于产生中断脉冲;
中断性能计算单元用于接收CPUIO中断响应,并计算当前响应性能。


2.根据权利要求1所述的一种基于FPGA的CPUIO中断性能测试装置,其特征在于,所述测试装置由FPGA电路构成,对外采FPGA作为中断发生源,在FPGA内部捕获被测CPU的中断响应,并计算极限中断响应时间。


3.根据权利要求2所述的一种基于FPGA的CPUIO中断性能测试装置,其特征在于,所述测试装置内部单元工作过程如下:
串口命令解析单元通过串口接收到开始命令后,解析出指令通知中断源控制单元;
中断源控制单元接到指令后,进行初始化,设置中断个数和中断长度初始值,并通知中断源发生单元开始发送中断脉冲;
中断脉冲发送后,中断性能计算单元接收CPU响应的中断脉冲数量与响应时间,并与发送的数量进行比较。


4.根据权利要求3所述的一种基于FPGA的CPUIO中断性能测试装置,其特征在于,所述中断性能计算单元接收的中断脉冲数量与发送的如果不一致,则CPU响应时间过长,将中断脉冲宽度扩大,继续测试。


5.根据权利要求3所述的一种基于FPGA的CPUIO中断性能测试...

【专利技术属性】
技术研发人员:王培培滕达王果山杨林鹏
申请(专利权)人:山东超越数控电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:山东;37

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