测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术具备将直线偏振光的测距光向测定对象物照射的投光光学系统、接受来自前述测定对象物的反射测距光的受光光学系统、选择由该受光光学系统受光的前述反射测距光的偏振光的偏振光选择部、基于前述反射测距光的受光结果控制距离测定的计算控制部，该计算控制部构成为，基于由于前述偏振光选择部的偏振光的选择产生的受光量的变化，对前述测定对象物的测距结果赋予材质信息。

Measuring device

【技术实现步骤摘要】
测量装置
本专利技术涉及能够取得测定对象物的点群数据的测量装置。
技术介绍
作为测量装置，有全站仪、三维激光扫描器。全站仪用于进行测定对象点的测定的情况。三维激光扫描器将测定对象物的形状作为具有三维坐标的无数个点的集合、即三维点群数据取得。近年来，使用基于由三维激光扫描器取得的点群数据而将点群数据所包括的配管、结构用钢的数据根据形状自动检测的软件。借助该软件，将主要根据工业规格设定的尺寸的零件的CAD数据取代为点群数据，减少数据量，使与设计CAD数据的比较变得容易，实现作业的效率化。例如，从取得的点群数据的形状提取配管而为了使适合该配管的尺寸的配管与点群一致，需要相对于全部点群数据判断点群形状是否为圆筒形。因此，处理花费时间，有作业效率变差的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的为，提供能够缩短从取得的点群数据提取对应的物体的时间的测量装置。为了实现上述目的，本专利技术的测量装置具备投光光学系统、受光光学系统、偏振光选择部、托架部、扫描镜、水平角检测部、铅垂角检测部、计算控制部，前述投光光学系统将直线本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量装置，其特征在于，/n前述测量装置具备投光光学系统、受光光学系统、偏振光选择部、托架部、扫描镜、水平角检测部、铅垂角检测部、计算控制部，/n前述投光光学系统将直线偏振光的测距光向测定对象物照射，/n前述受光光学系统接受来自前述测定对象物的反射测距光，/n前述偏振光选择部选择由该受光光学系统接受的前述反射测距光的偏振光，/n前述托架部借助水平旋转马达以水平旋转轴为中心水平旋转，/n前述扫描镜设置于该托架部，借助铅垂旋转马达以铅垂旋转轴为中心铅垂旋转，将来自前述投光光学系统的前述测距光向前述测定对象物照射，并且使来自该测定对象物的前述反射测距光向前述受光光学系统入射，/n前述水平角检测...

【技术特征摘要】
20180803 JP 2018-1467471.一种测量装置，其特征在于，
前述测量装置具备投光光学系统、受光光学系统、偏振光选择部、托架部、扫描镜、水平角检测部、铅垂角检测部、计算控制部，
前述投光光学系统将直线偏振光的测距光向测定对象物照射，
前述受光光学系统接受来自前述测定对象物的反射测距光，
前述偏振光选择部选择由该受光光学系统接受的前述反射测距光的偏振光，
前述托架部借助水平旋转马达以水平旋转轴为中心水平旋转，
前述扫描镜设置于该托架部，借助铅垂旋转马达以铅垂旋转轴为中心铅垂旋转，将来自前述投光光学系统的前述测距光向前述测定对象物照射，并且使来自该测定对象物的前述反射测距光向前述受光光学系统入射，
前述水平角检测部检测前述托架部的水平角，
前述铅垂角检测部检测前述扫描镜的铅垂角，
前述计算控制部基于前述反射测距光的受光结果控制距离测定、前述托架部的旋转、前述扫描镜的旋转，
该计算控制部构成为，基于由于前述偏振光选择部的偏振光的选择产生的受光量的变化，对前述测定对象物的测距结果赋予材质信息。


2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，
前述偏振光选择部是使前述反射测距光分离成P偏振光和S偏振光的偏振光分束器，
前述受光光学系统具有设置于前述偏振光分束器的透过光轴上的第1受光部、设置于前述偏振光分束器的反射光轴上的第2受光部，
前述计算控制部比较由前述第1受光部检测的受光量和由前述第2受光部检测的受光量。


3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，
还具备设置于前述测距光和前述反射测距光的共通光路上的1/4波长板。


4.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，
还具备分别设置于前述测距光的光轴上和前述反射测距光的光轴上的1/4波长板。


5.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，
前述偏振光选...

【专利技术属性】
技术研发人员：吉野健一郎，江野泰造，森田英树，藤田倖平，
申请(专利权)人：株式会社拓普康，
类型：发明
国别省市：日本;JP