LCD/OLED驱动芯片的检测系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了一种LCD/OLED驱动芯片的检测系统和方法，该系统包括：上位机，可编程逻辑器件，与所述上位机数据传输，输出数字检测信号；数模转换器，连接至所述可编程逻辑器件的输出端；集成运算放大器，包括放大倍数可调的一级放大器和对一级放大器的输出信号进行精度调整的二级放大器，所述集成运算放大器对所述模拟检测信号进行增益和精度调整后传输至待测芯片的引脚；信号检测系统，用于对所述待测芯片进行检测，并通过所述可编程逻辑器件将检测结果反馈至上位机。本发明专利技术通过对集成运算放大器的检测信号进行调整，实现对一级放大器的放大倍数调整，使得本发明专利技术的检测系统可以覆盖检测小尺寸LCD、OLED驱动芯片，适用范围广，通用性强。

Detection system and method of LCD / OLED driver chip

【技术实现步骤摘要】
LCD/OLED驱动芯片的检测系统和方法
本专利技术涉及集成电路检测领域，特别涉及一种LCD/OLED驱动芯片的检测系统和方法。
技术介绍
随着PC、手机、平板等消费类电子的智能化发展，而赋予这些智能产品以各种功能的半导体行业正在经历一场转型，这一转型不仅在于LCD、OLED驱动芯片的设计和制造方式，更在于LCD、OLED驱动芯片引脚的测试方式。目前，半导体测试设备的测试系统通常针对某一类或某一种特定规格型号的LCD、OLED驱动芯片的引脚进行测试，使用范围较窄。对企业来说，测试不同的LCD、OLED驱动芯片就需要针对性的开发相对应的检测基板，大大降低了半导体测试设备的利用率，增加额外的成本。因此，如何提供通用性强的LCD/OLED驱动芯片的检测系统已经成为未来各大生产厂商的主攻方向。
技术实现思路
本专利技术提供一种LCD/OLED驱动芯片的检测系统和方法，以解决现有技术中存在的LCD/OLED驱动芯片的检测系统针对性强、利用率低的问题。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种LCD/OLED驱动芯片的检测系统，包括：上位机，可编程逻辑器件，与所述上位机数据传输，并根据待测芯片的检测要求，输出数字检测信号；数模转换器，连接至所述可编程逻辑器件的输出端，以将数字检测信号转换为模拟检测信号；集成运算放大器，包括放大倍数可调的一级放大器和对一级放大器的输出信号进行精度调整的二级放大器，其中，一级放大器的输入端连接至数模转换器的输出端，二级放大器的输出端通过输出电阻连接至待测芯片的引脚，所述集成运算放大器对所述模拟检测信号进行增益和精度调整后传输至待测芯片的引脚；信号检测系统，分别连接至所述二级放大器输出端、所述待测芯片引脚和可编程逻辑器件，用于对所述待测芯片进行检测，并通过所述可编程逻辑器件将检测结果反馈至上位机。作为优选，所述上位机通过高速串行计算机扩展总线(PCIE)与所述可编程逻辑器件数据传输，以控制、修改及解码可编程逻辑器件的底层程序。作为优选，所述一级放大器的输入电阻R1和反馈电阻R2的阻值可调，以调整所述一级放大器的放大倍数；所述二级放大器的一输入端连接至所述一级放大器的输出端，所述二级放大器的输出端连接至所述待测芯片的引脚，同时，所述待测芯片引脚还连接至所述二级放大器的另一输入端，以对一级放大器输出到待测芯片引脚的电压进行跟随反馈调节。作为优选，所述二级放大器的输出端与所述待测芯片的引脚之间还串联有至少一个调节电阻，所述调节电阻上并联有控制开关，以调整连接在电路中的调节电阻的数量。作为优选，所述信号检测系统包括：分别连接至二级放大器输出端和待测芯片引脚的增益可调集成运算放大器和模数转换器，其中，所述二级放大器和待测芯片的引脚输出的模拟信号经过所述增益可调集成运算放大器进行增益调整后，由模数转换器进行模数转换，并传递给所述可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件对接收到的数字信号进行计算并传递给上位机，以完成待测芯片的电流检测。作为优选，所述信号检测系统包括：分别连接至待测信号引脚和待测信号接地端的增益可调集成运算放大器和模数转换器，其中，待测芯片引脚和待测芯片接地端输出的模拟信号经过所述增益可调集成运算放大器进行增益调整后，由模数转换器进行模数转换，并传递给所述可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件对接收到的数字信号进行计算并传递给上位机，以完成待测芯片的电压检测。作为优选，所述信号检测系统还包括多路开关，所述多路开关的输入端分别连接至待测芯片的引脚、集成运算放大器的输出端和待测芯片的接地端；所述多路开关的输出端连接至所述增益可调集成运算放大器，以调整待测芯片的检测模式。本专利技术还一种LCD/OLED驱动芯片的检测方法，包括：步骤1：根据待测芯片需求，生成数字检测信号；步骤2：对数字检测信号进行数模转换，形成模拟检测信号，对所述模拟检测信号进行放大和精度调整，调整后的模拟检测信号传送至待测芯片的引脚；步骤3：选择待测芯片的检测模式，所述检测模式包括电压检测模式和电流检测模式；步骤4：步骤3中的选择结果为电压检测模式时：接收待测芯片引脚和待测芯片的接地端的模拟反馈信号；步骤3中的选择结果为电流检测模式时：接收待测芯片引脚和二级放大器输出端的模拟反馈信号；步骤5：对步骤4中接收到的模拟反馈信号进行增益调整和数模转换，形成数字反馈信号；步骤6：计算步骤5中数字反馈信号并判断检测结果，以完成待测芯片检测。作为优选，在步骤1之前，还包括：上位机根据待测芯片类型控制、修改及解码可编程逻辑器件的底层程序，使可编程逻辑器件的底层程序与待测芯片类型一致；接着，根据待测芯片的测试要求，确定可编程逻辑器件的输出电压和一级放大器的放大倍数，使一级放大器的输出电压满足待测芯片的电压要求。作为优选，所述步骤3中的选择结果为电流检测模式时，所述步骤4还包括：调整串联在二级放大器输出端与待测芯片引脚之间电阻的阻值，从而为电流检测模式提供不同的电流档位。与现有技术相比，本专利技术具有以下优点：1、本专利技术通过对集成运算放大器的检测信号进行调整，并通过改变一级放大器的输入电阻和反馈电阻阻值的方式实现对一级放大器的放大倍数调整，使得本专利技术的检测系统可以覆盖检测小尺寸LCD、OLED驱动芯片，适用范围广，通用性强。2、本专利技术的结构简单，不会额外增加硬件，提高了测试设备的利用率，降低了企业成本。附图说明为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案，下面将对本公开实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开实施例中的一部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据本公开实施例的内容和这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术的LCD/OLED驱动芯片的检测系统的结构原理图；图2为本专利技术的LCD/OLED驱动芯片的检测系统中电压和电流检测的原理图。图中所示：10、上位机；20、可编程逻辑器件；30、数模转换器；40、集成运算放大器；41、一级放大器；42、二级放大器；50、多路开关；60、增益可调集成运算放大器；70、模数转换器；80、高速串行计算机扩展总线；90、待测芯片；R1、输入电阻；R2、反馈电阻；R3、输出电阻；R4&R5、调节电阻；R6、电阻；S1&S2、开关；S3、开关器件。具体实施方式为使本公开实施例解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本公开实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开实施例中的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开实施例中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开实施例保护的范围。需要说明的是，本公开实施例中提到的“和/或”是指：包括一个或更多个相关所列项目的任何和所有组合。本公开的说明书本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LCD/OLED驱动芯片的检测系统，其特征在于，包括：/n上位机，/n可编程逻辑器件，与所述上位机数据传输，并根据待测芯片的检测要求，输出数字检测信号；/n数模转换器，连接至所述可编程逻辑器件的输出端，以将数字检测信号转换为模拟检测信号；/n集成运算放大器，包括放大倍数可调的一级放大器和对一级放大器的输出信号进行精度调整的二级放大器，其中，一级放大器的输入端连接至数模转换器的输出端，二级放大器的输出端通过输出电阻连接至待测芯片的引脚，所述集成运算放大器对所述模拟检测信号进行增益和精度调整后传输至待测芯片的引脚；/n信号检测系统，分别连接至所述二级放大器输出端、所述待测芯片引脚和可编程逻辑器件，用于对所述待测芯片进行检测，并通过所述可编程逻辑器件将检测结果反馈至上位机。/n

【技术特征摘要】
1.一种LCD/OLED驱动芯片的检测系统，其特征在于，包括：
上位机，
可编程逻辑器件，与所述上位机数据传输，并根据待测芯片的检测要求，输出数字检测信号；
数模转换器，连接至所述可编程逻辑器件的输出端，以将数字检测信号转换为模拟检测信号；
集成运算放大器，包括放大倍数可调的一级放大器和对一级放大器的输出信号进行精度调整的二级放大器，其中，一级放大器的输入端连接至数模转换器的输出端，二级放大器的输出端通过输出电阻连接至待测芯片的引脚，所述集成运算放大器对所述模拟检测信号进行增益和精度调整后传输至待测芯片的引脚；
信号检测系统，分别连接至所述二级放大器输出端、所述待测芯片引脚和可编程逻辑器件，用于对所述待测芯片进行检测，并通过所述可编程逻辑器件将检测结果反馈至上位机。


2.根据权利要求1所述的LCD/OLED驱动芯片的检测系统，其特征在于，所述上位机通过高速串行计算机扩展总线(PCIE)与所述可编程逻辑器件数据传输，以控制、修改及解码可编程逻辑器件的底层程序。


3.根据权利要求1所述的LCD/OLED驱动芯片的检测系统，其特征在于，所述一级放大器的输入电阻R1和反馈电阻R2的阻值可调，以调整所述一级放大器的放大倍数；所述二级放大器的一输入端连接至所述一级放大器的输出端，所述二级放大器的输出端连接至所述待测芯片的引脚，同时，所述待测芯片引脚还连接至所述二级放大器的另一输入端，以对一级放大器输出到待测芯片引脚的电压进行跟随反馈调节。


4.根据权利要求3所述的LCD/OLED驱动芯片的检测系统，其特征在于，所述二级放大器的输出端与所述待测芯片的引脚之间还串联有至少一个调节电阻，所述调节电阻上并联有控制开关，以调整连接在电路中的调节电阻的数量。


5.根据权利要求1所述的LCD/OLED驱动芯片的检测系统，其特征在于，所述信号检测系统包括：分别连接至二级放大器输出端和待测芯片引脚的增益可调集成运算放大器和模数转换器，其中，所述二级放大器和待测芯片的引脚输出的模拟信号经过所述增益可调集成运算放大器进行增益调整后，由模数转换器进行模数转换，并传递给所述可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件对接收到的数字信号进行计算并传递给上位机，以完成待测芯片的电流检测。


6.根据权利要求5所述的LCD...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘坤选，董亚明，黄龙，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32