【技术实现步骤摘要】
一种快速换线的自动测试装置
本技术涉及一种集成电路芯片测试领域，尤其是涉及一种快速换线的自动测试装置。
技术介绍
在目前集成电路芯片及模块行业生产制造过程中，后段测试是非常重要的步骤，需要将产品放入定制的精密测试治具中配合专业测试设备及测试软件，测试产品的功能及性能。早期此工序均由人工手动来操作，耗费大量的人力，并且产品一致性及效率较低。近些年来，行业普遍导入了自动化测试设备后，效率及品质均有了很大的提升。但因测试治具为精密定制产品，每种型号芯片或模块都需要相对应的测试治具，现有的自动化测试设备测试治具多为固定式安装，一旦设备中的测试治具需要维修或更换不同型号测试产品时，设备需要停机等待治具的更换及重新调试校准，需要耗费大量的时间，影响产出的效率。
技术实现思路
本技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种快速换线的自动测试装置。本技术的目的可以通过以下技术方案来实现：一种快速换线的自动测试装置，包括固定式操作模块、固定式外框架模块和多个移动测试模块，所述固定式外框架模块设...
【技术保护点】
1.一种快速换线的自动测试装置，其特征在于，包括固定式操作模块(1)、固定式外框架模块(2)和多个移动测试模块(3)，所述固定式外框架模块(2)设置在固定式操作模块(1)的两侧，所述移动测试模块(3)通过固定式外框架模块(2)连接固定式操作模块(1)。/n
【技术特征摘要】
1.一种快速换线的自动测试装置，其特征在于，包括固定式操作模块(1)、固定式外框架模块(2)和多个移动测试模块(3)，所述固定式外框架模块(2)设置在固定式操作模块(1)的两侧，所述移动测试模块(3)通过固定式外框架模块(2)连接固定式操作模块(1)。
2.根据权利要求1所述的快速换线的自动测试装置，其特征在于，所述固定式外框架模块(2)包括框体(21)和对接机构(22)，所述的移动测试模块(3)包括脚轮(31)和对接固定孔(32)，所述脚轮(31)设置在移动测试模块(3)的底部，所述移动测试模块(3)和固定式外框架模块(2)通过对接机构(22)和对接固定孔(32)互相连接。
3.根据权利要求2所述的快速换线的自动测试装置，其特征在于，所述的对接机构(22)包括对接传感器(221)、微型气缸(222)和凸块(223)，所述凸块(223)安装在微型气缸(222)的一端，用于插入对接固定孔(32)。
4.根据权利要求3所述的快速换线的自动测试装置，其特征在于，所述的凸块(223)端面形成等腰三角形的内陷缺口，所述对接固定孔(32)内设有一圆柱(321)，当凸块(223)插入对接固定孔(32)时，圆柱(321)卡在内陷缺口处。
5.根据权利要求2所述的快速换线的自动测试装置，...
【专利技术属性】
技术研发人员：卢荣乾，
申请(专利权)人：晓视自动化科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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