一种电子元件正负极的检测结构制造技术

一种电子元件正负极的检测结构，包括测试垫块、测试杆、测试杆载体、遮光摆臂、感应组件和平衡装置；测试杆设置在测试杆载体上并且测试杆可在测试杆载体上滑动；遮光摆臂的一端通过销轴连接在测试杆载体上、另一端设置在感应组件处；测试杆的一端靠近测试垫块、另一端顶在靠近测试杆载体一端的遮光摆臂上；平衡装置包括设置在遮光摆臂与测试杆之间的第一平衡组件和测试杆与测试杆载体之间的第二平衡组件。本实用新型专利技术的电子元件正负极的检测结构在检测电子元件的正负极时与外部环境或者与电子元件的电性接触没有关系，因此结构稳定可靠；也不需要经常给测试头和测试垫块搞卫生清理，降低了设备的维修率，从而提高设备的上料率。

A detection structure of positive and negative electrodes of electronic components

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件正负极的检测结构
本技术涉及一种电子元件的正负极的检测结构，尤其涉及一种电容器正负极的检测结构。
技术介绍
在电子元件自动化生产过程中，特别是引线式有正负极之分的电子元件，例如引线式的电容器12，在进行老化、测试等工序时，电容器必须将正负极按要求进行排列才能进入各工位中进行不同工艺的处理，为了使电容器按要求排序，就要有一套检测电容器正负极的结构，而且此结构通常只能通过电容器引出线的外部特征来检测，而电容器制作时，又通常以引出线的长短来作为正负极区分的标志，一般正极比负极做得长一点，因此检测结构只要判断谁长或谁短就可以判断出谁是正极谁是负极了。己有的结构如图1和图2所示，是由电子元件的放置垫块1、测试探针载体2、测试探针A21、测试探针B22、测试探针C23和测试探针D24等组成，在机械运动的作用下图1中的测试探针载体2和放置垫块1靠拢使得测试探针的测试头尽量将产品的引线压在放置垫块1上。如图3所示，测试探针A测试头和测试探针B测试头有导通的信号时，证明测试探针A和测试探针B这一组测得的是正极引线，而测试探针C和测试探针D这一组就没有导通信号输出，否则相反。这样将测得的信号传给处理器，通过处理将指挥下个工位进行有效的机械动作配合，从而将产品正负极按要求进行排序，如果没有产品时，测试探针A、测试探针B、测试探针C和测试探针D的测试头将都没有导通信号输出。由于是用接触式测试通导原理，这样就要求放置垫块1(为绝缘材料制成)平面要经常保持干净不能有任何金属灰尘等，以便使每组测试头同时接触到测试垫块时造成短路产生误判，另外测试探针的测试头上不能有灰尘或油污，否则将使测试信号该有时却没有而不该有时却时有时无。实际生产过程中经常会出现有产品时没有导通信号出来、而无产品却有导通信号出来的现象，因此经常必须在测试头和测试垫块上搞卫生清理，这样会大大降低了检测结构的可靠性和设备的上料率，从而大大降低了设备的生产力和提高了设备的保养维护率。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种结构稳定可靠，并且提高设备上料率的电子元件正负极的检测结构。为解决上述技术问题，本技术提出的技术方案为：一种电子元件正负极的检测结构，包括测试垫块、测试杆、测试杆载体、遮光摆臂、感应组件和平衡装置；所述测试杆设置在测试杆载体上并且测试杆可在测试杆载体上滑动；所述遮光摆臂的一端通过销轴连接在测试杆载体上、另一端设置在感应组件处；所述测试杆的一端靠近测试垫块、另一端顶在靠近测试杆载体一端的遮光摆臂上；所述平衡装置包括设置在遮光摆臂与测试杆之间的第一平衡组件和测试杆与测试杆载体之间的第二平衡组件。上述的电子元件正负极的检测结构，优选的，所述测试杆载体和测试杆之间设置与滑轨，测试杆可在测试杆载体上滑动。上述的电子元件正负极的检测结构，优选的，所述第一平衡组件包括拉簧、第一连接柱、第二连接柱和定位销，所述测试杆上设置有第一连接柱，所述遮光摆臂上设置有第二连接柱，所述拉簧的一端连接在第一连接柱、另一端连接在第二连接柱上；所述第二连接柱设置在测试杆与遮光摆臂接触点的上方；所述测试杆载体的一端设置有端块，所述端块上设置有测试杆的穿过槽；所述测试杆上设置有定位销，并且定位销设置在端块在遮光摆臂的一侧。上述的电子元件正负极的检测结构，优选的，所述第二平衡组件包括设置在测试杆上的测试头和测试压簧：所述测试压簧挤压在测试头和端块之间。上述的电子元件正负极的检测结构，优选的，所述感应组件为对照式电眼或者红外感应头。上述的电子元件正负极的检测结构，优选的，所述对照式电眼设置有遮光摆臂的感应槽。上述的电子元件正负极的检测结构，优选的，所述遮光摆臂的底端设置有轴承，所述测试杆顶在轴承上。在本技术中，测试杆顶在轴承上，而拉簧将遮光摆臂往测试杆的一侧回拉使得遮光摆臂处于一个平衡状态。遮光摆臂的最顶端到销轴的距离很大，这样只要遮光摆臂的底端有细微的运动，那么在遮光摆臂的顶端就会产生很大的摆幅。在本技术中，当没有电子元件进入到测试结构中或者电子元件进入到测试结构的正负极方向是对的，例如电容器；测试垫块和测试杆载体之间运动到一个预设的距离，这个距离是固定的；测试杆尾端对遮光摆臂的推动距离为0，这时遮光摆臂的顶端没有进入到感应组件的感应位置，感应组件就不会发出信号。当有反向电容器进入到测试结构中，电容器放置在测试垫块上，电容器的引线竖直向下。测试垫块和测试杆载体之间运动到预设的距离，这个时候测试头顶在电容器的正极引线上，将正极引线压在相对固定的测试垫块的竖直平面上；由于有正极引线的存在，测试杆会相对测试杆载体向后退一根正极引线的距离，此时测试杆的尾端就会推动遮光摆臂摆动，由于遮光摆臂杠杆的作用，遮光摆臂的顶端进入到感应组件的感应位置，感应组件就会发出信号，通知下个工序将电容器旋转180摄氏度。与现有技术相比，本技术的优点在于：本技术的电子元件正负极的检测结构在检测电子元件的正负极时与外部环境或者与电子元件的电性接触没有关系，因此结构稳定可靠；也不需要经常给测试头和测试垫块搞卫生清理，降低了设备的维修率，从而提高设备的上料率。附图说明图1为传统的电子元件正负极的检测结构的结构示意图。图2为图1中去除测试探针载体的结构示意图。图3为图2的电子元件正负极的检测结构测试电子元件正负极时候的结构示意图。图4为电子元件正负极的检测结构没有电子元件时的结构示意图。图5为电子元件正负极的检测结构上有电子元件时的结构示意图。图例说明1、放置垫块；2、测试探针载体；21、测试探针A；22、测试探针B；23、测试探针C；24、测试探针D；3、测试垫块；4、测试杆；5、测试杆载体；51、端块；6、遮光摆臂；7、对照式电眼；71、感应槽；72、感应位置；8、销轴；9、轴承；101、拉簧；102、第一连接柱；103、第二连接柱；104、定位销；111、测试头；112、测试压簧；12、电容器；13、正极引线；14、负极引线。具体实施方式为了便于理解本技术，下文将结合说明书附图和较佳的实施例对本技术作更全面、细致地描述，但本技术的保护范围并不限于以下具体的实施例。需要特别说明的是，当某一元件被描述为“固定于、固接于、连接于或连通于”另一元件上时，它可以是直接固定、固接、连接或连通在另一元件上，也可以是通过其他中间连接件间接固定、固接、连接或连通在另一元件上。除非另有定义，下文中所使用的所有专业术语与本领域技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的专业术语只是为了描述具体实施例的目的，并不是旨在限制本技术的保护范围。实施例1如图1所示的一种电子元件正负极的检测结构，包括测试垫块3、测试杆4、测试杆载体5、遮光摆臂6、对照式电眼7和平衡装置；测试杆4设置在测试杆载体上5，测试杆载体5和测试杆4之间设置与滑轨，测试杆4可在测试杆载体5上滑动。遮本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件正负极的检测结构，其特征在于：包括测试垫块、测试杆、测试杆载体、遮光摆臂、感应组件和平衡装置；所述测试杆设置在测试杆载体上并且测试杆可在测试杆载体上滑动；所述遮光摆臂的一端通过销轴连接在测试杆载体上、另一端设置在感应组件处；所述测试杆的一端靠近测试垫块、另一端顶在测试杆载体的遮光摆臂上；所述平衡装置包括设置在遮光摆臂与测试杆之间的第一平衡组件和测试杆与测试杆载体之间的第二平衡组件。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子元件正负极的检测结构，其特征在于：包括测试垫块、测试杆、测试杆载体、遮光摆臂、感应组件和平衡装置；所述测试杆设置在测试杆载体上并且测试杆可在测试杆载体上滑动；所述遮光摆臂的一端通过销轴连接在测试杆载体上、另一端设置在感应组件处；所述测试杆的一端靠近测试垫块、另一端顶在测试杆载体的遮光摆臂上；所述平衡装置包括设置在遮光摆臂与测试杆之间的第一平衡组件和测试杆与测试杆载体之间的第二平衡组件。


2.根据权利要求1所述的电子元件正负极的检测结构，其特征在于：所述测试杆载体和测试杆之间设置与滑轨，测试杆可在测试杆载体上滑动。


3.根据权利要求1所述的电子元件正负极的检测结构，其特征在于：所述第一平衡组件包括拉簧、第一连接柱、第二连接柱和定位销，所述测试杆上设置有第一连接柱，所述遮光摆臂上设置有第二连接柱，所述拉簧的一端连接在...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾立华，陈太平，
申请(专利权)人：湖南艾华集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：湖南;43