用于检测光学膜的缺陷的装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了能够容易地检测光学膜中/上存在的缺陷的用于检测光学膜的缺陷的装置和方法。光学膜缺陷检测装置包括：用于照射光的光照射单元；用于通过反射由所述光照射单元照射的光而将光引导至光学膜的反射单元；用于显示投射形状的屏幕，所述投射形状是当将光投射到所述光学膜上时所述光学膜中的缺陷的投射；和用于采集显示在所述屏幕上的投射形状的图像的成像单元。

Devices and methods for detecting defects in optical films

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于检测光学膜的缺陷的装置和方法
本申请要求于2017年7月28日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2017-0096299号的优先权和权益，其全部内容通过引用并入本文。本专利技术涉及用于检测光学膜的缺陷的装置和方法。
技术介绍
具有光学特性的光学膜用于制造包括液晶显示器(LCD)、有机发光二极管(OLED)、等离子体显示面板(PDP)、电泳显示器(EPD)等的显示单元。通常，光学膜具有其中具有光学特性的偏光膜和用于保护偏光膜的保护膜彼此堆叠的结构。在制造和运输光学膜的过程期间，在某些情况下可能在光学膜中/光学膜上出现具有各种形状的缺陷，例如当异物被引入光学膜中，光学膜被挤压，光学膜的表面被划伤或者光学膜起皱时。上述缺陷可能导致通过使用光学膜制造的显示单元的缺陷。因此，需要能够检测光学膜中/光学膜上存在的具有各种形状的缺陷的技术。韩国专利第10-1082699号(在下文中，称为专利文献1)提出了用于通过采集光学膜的图像来检测光学膜的缺陷的装置。专利文献1公开了通过使由光源发射的光穿过光学膜使得通过安装在面向光源的位置处的图像采集装置采集光学膜的图像来测试光学膜。[相关技术文献][专利文献]专利文献1：韩国专利第10-1082699号
技术实现思路
技术问题本说明书致力于提供用于检测光学膜的缺陷的装置和方法。技术方案本专利技术的一个示例性实施方案提供了用于检测光学膜的缺陷的装置，所述装置包括：发光单元，其发射光；反射单元，其反射由发光单元发射的光并将光引导至光学膜；屏幕，其显示通过将光投射在光学膜上获得的投射形状以检测光学膜的缺陷；和图像采集单元，其采集显示在屏幕上的投射形状的图像。本专利技术的另一个示例性实施方案提供了检测光学膜的缺陷的方法，所述方法包括：向反射单元发射光；将由反射单元反射的光投射在光学膜上；通过采集显示通过将光投射在光学膜上获得的投射形状以检测光学膜的缺陷的屏幕的图像来获得图像；以及通过分析图像来检测光学膜的缺陷。有益效果根据本专利技术的示例性实施方案，可以容易地检测光学膜中/光学膜上的具有各种形状(例如挤压、划伤、折叠和起皱的形状)的缺陷。根据本专利技术的示例性实施方案，由于由发光单元发射的光的光照射宽度被反射单元扩展，因此可以加宽可以检测光学膜的缺陷的区域。根据本专利技术的示例性实施方案，可以容易地检测光学膜中/光学膜上存在的缺陷。附图说明图1是示意性地示出根据本专利技术的一个示例性实施方案的用于检测光学膜的缺陷的装置的配置的图。图2是示意性地示出根据本专利技术的示例性实施方案的由发光单元发射的光通过反射单元被引导至光学膜的状态的图。图3是示意性地示出根据本专利技术的示例性实施方案的包括分析单元的用于检测光学膜的缺陷的装置的配置的图。图4a是示意性地示出当第一角度和第二角度小于25°时在由反射单元反射的光与传送单元之间产生干扰的状态的图，图4b是示意性地示出当第一角度和第二角度大于48°时在图像采集单元采集屏幕的图像时光与传送单元相干扰的状态的图。图5是示出根据实施例1、比较例1和比较例2获得的光学膜的图像的图。具体实施方式在整个本说明书中，除非明确相反地描述，否则词语“包括”和诸如“包含”或“含有”的变型将被理解为暗示包括所述要素但不排除任何其他要素。在本说明书中，当一个构件设置在另一构件“上”时，这不仅包括一个构件与另一构件接触的情况，而且还包括在两个构件之间存在又一构件的情况。在下文中，将更详细地描述本说明书。本专利技术的一个示例性实施方案提供了用于检测光学膜的缺陷的装置，所述装置包括：发光单元，其发射光；反射单元，其反射由发光单元发射的光并将光引导至光学膜；屏幕，其显示通过将光投射在光学膜上获得的投射形状以检测光学膜的缺陷；和图像采集单元，其采集显示在屏幕上的投射形状的图像。根据本专利技术的示例性实施方案，可以容易地检测光学膜中/光学膜上的具有各种形状(例如挤压、划伤、折叠和起皱的形状)的缺陷。根据本专利技术的示例性实施方案，用于检测光学膜的缺陷的装置可以检查在用于制造显示单元的光学膜中/光学膜上是否存在缺陷。光学膜包括偏光膜，并且除偏光膜之外还可以包括具有光学特性的膜，例如相位差膜、视觉补偿膜和亮度改善膜。即，光学膜可以通过将具有光学特性的膜附接至偏光膜的一个表面或两个表面上而制成。此外，光学膜可以为在光学膜的纵向方向上延伸的片或辊的形式。图1是示意性地示出根据本专利技术的一个示例性实施方案的用于检测光学膜的缺陷的装置的配置的图。具体地，图1是示出用于检测光学膜的缺陷的装置的图，所述装置包括：传送光学膜F的传送单元500；发射光的发光单元100；反射由发光单元100发射的光并将光引导至光学膜F的反射单元200；设置在与光学膜F间隔开的位置处并且显示通过经由光投射光学膜F中/光学膜F上存在的缺陷而形成的投射形状的屏幕300；和采集显示在屏幕300上的投射形状的图像的图像采集单元400。根据本专利技术的示例性实施方案，用于检测光学膜的缺陷的装置可以包括可以在预定方向上传送光学膜的传送单元。传送单元可以包括可以传送光学膜的各种传送装置。具体地，传送单元包括传送辊，并且可以通过使用传送辊来传送光学膜。根据本专利技术的示例性实施方案，传送辊的直径可以为100mm至125mm、或110mm至120mm。具体地，传送辊的直径可以为118mm。此外，参照图1，两个传送辊500的中心之间的最短距离可以为200mm至300mm、220mm至280mm、或240mm至260mm。具体地，两个传送辊的中心之间的最短距离可以为245mm。可以在传送光学膜的方向上测量传送辊的中心之间的距离。由于将传送辊的直径和传送辊的中心之间的最短距离调节至上述范围，因此可以改善用于检测光学膜的缺陷的装置的运行效率，并且可以有效地防止传送辊与由反射单元反射的光干扰的情况以及当图像采集单元采集屏幕的图像时传送辊与图像采集单元干扰的情况。根据本专利技术的示例性实施方案，传送辊可以以其中光学膜在单个方向上行进的直列(in-line)方式传送光学膜。因此，光学膜可以在被卷绕在传送辊上的同时沿传送辊连续地传送，并且由发光单元发射的光可以通过反射单元反射并被引导至被传送的光学膜。即，根据本专利技术的示例性实施方案，可以通过使用辊对辊法将在其纵向方向上延伸的光学膜的辊供应至用于检测光学膜的缺陷的装置，使得可以检测光学膜的缺陷。根据本专利技术的示例性实施方案，在通过用于检测光学膜的缺陷的装置检查在其纵向方向上延伸的光学膜中/光学膜上是否存在缺陷的情况下，传送单元可以在光学膜的纵向方向上传送光学膜。参照图1，传送单元500可以被设置成在光学膜F位于屏幕300与发光单元100和反射单元200之间的状态下在光学膜F的纵向方向上传送光学膜F。根据本专利技术的示例性实施方案，可以使用公知的装置作为发光单元，并且没有限制，只要装置发射光即可。具体地，考本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测光学膜的缺陷的装置，所述装置包括：/n发光单元，其发射光；/n反射单元，其反射由所述发光单元发射的光并将光引导至所述光学膜；/n屏幕，其显示通过将光投射在所述光学膜上获得的投射形状以检测所述光学膜的缺陷；和/n图像采集单元，其采集显示在所述屏幕上的所述投射形状的图像。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170728 KR 10-2017-00962991.一种用于检测光学膜的缺陷的装置，所述装置包括：
发光单元，其发射光；
反射单元，其反射由所述发光单元发射的光并将光引导至所述光学膜；
屏幕，其显示通过将光投射在所述光学膜上获得的投射形状以检测所述光学膜的缺陷；和
图像采集单元，其采集显示在所述屏幕上的所述投射形状的图像。


2.根据权利要求1所述的装置，其中所述屏幕与所述图像采集单元采集所述屏幕的图像的方向之间形成的第一角度θ1等于所述光学膜与投射在所述光学膜上的光之间形成的第二角度θ2。


3.根据权利要求2所述的装置，其中所述第一角度和所述第二角度为25°或更大且48°或更小。


4.根据权利要求1所述的装置，其中所述屏幕与所述光学膜的其上投射有光的区域之间的距离为90mm或更大且130mm或更小。


5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：金浩振，杨命坤，崔恒硕，张应镇，
申请(专利权)人：株式会社LG化学，
类型：发明
国别省市：韩国;KR