【技术实现步骤摘要】
太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法及装置
本申请属于光学成像
，尤其涉及一种太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法及装置，还涉及实现该太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法的电子设备及存储介质。
技术介绍
太赫兹光谱仪是通过记录透过样品或从样品反射后的太赫兹时域波形，以及通过傅里叶变换来获取样品的频谱信息，从而达到对物质的识别并进一步获取物质结构信息、物理信息和化学信息的目的。太赫兹光谱仪在成像扫描过程通常是由太赫兹信号逐点扫描样品的不同位置来得到空间二维的太赫兹数据并构建图像。然而，由于结构设计公差或者光路调节偏差等原因会使得成像扫描的中心点不在样品架的中心点上，从而出现扫描得到的图像定位不准或部分图像边沿被截掉等问题，而且当光谱仪使用时间较长后，光斑容易出现漂移，由于太赫兹光斑为不可见光，调试难度大，重新调整样品位置则会浪费较长的时间，降低了用户的使用效率。
技术实现思路
有鉴于此，本申请实施例提供了一种太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法及装置，还提供了实现该太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法的电子设备及存储介质...
【技术保护点】
1.一种太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法，其特征在于，所述太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法包括：/n获取样品架的待校正图像，并根据所述待校正图像获取所述样品架的实测中心点位置信息；/n将所述实测中心点位置信息与预设的理论中心点位置信息进行比对，以计算实测中心点位置与理论中心点位置之间的偏差数据；/n根据所述偏差数据自动校正所述太赫兹光谱仪的成像中心点位置。/n
【技术特征摘要】
1.一种太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法，其特征在于，所述太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法包括：
获取样品架的待校正图像，并根据所述待校正图像获取所述样品架的实测中心点位置信息；
将所述实测中心点位置信息与预设的理论中心点位置信息进行比对，以计算实测中心点位置与理论中心点位置之间的偏差数据；
根据所述偏差数据自动校正所述太赫兹光谱仪的成像中心点位置。
2.根据权利要求1所述的太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法，其特征在于，所述将所述实测中心点位置信息与预设的理论中心点位置信息进行比对，以计算实测中心点位置与理论中心点位置之间的偏差数据的步骤之前，包括：
获取所述太赫兹光谱仪的扫描区域信息；
根据所述扫描区域信息建立直角坐标系，并根据所述直角坐标系确定所述扫描区域的中心点作为预设的理论中心点位置。
3.根据权利要求2所述的太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法，其特征在于，所述根据所述直角坐标系确定所述扫描区域的中心点作为预设的理论中心点位置的步骤之后，包括：
调节所述样品架的位置，以使所述太赫兹光谱仪的光斑经过所述预设的理论中心点位置。
4.根据权利要求2或3任意一项所述的太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法，其特征在于，所述待校正图像呈环状，所述实测中心点位置位于所述待校正图像内环图形对应的中心点位置处，所述获取样品架的待校正图像，并根据所述待校正图像获取所述样品架的实测中心点位置信息的步骤，包括：
经过所述理论中心点位置并沿着所述直角所标系的X坐标轴和Y坐标轴两个维度分别扫描所述样品架，以获得待校正图像，其中，所述待校正图像中对应具有由太赫兹信号值组成的两个排列数组，所述两个排列数组分别与所述X坐标轴和Y坐标轴两个维度对应；
根据所述两个排列数组，以所述理论中心点位置为原点对所述待校正图像进行边缘检测处理，以获取所述待校正图像内环图形沿X坐标轴和Y坐标轴两个维度方向的边界位置信息；
按照预设的算法对所述边界位置信息分别进行计算，以获取与所述样品架实测中心点位置对应的X坐标位置信息和Y坐标位置信息。
5.根据权利要求4所述的太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法，其特征在于，根据所述两个排列数组对所述待校正图像进行边缘检测处理，以获取所述待校正图像内环图形沿X坐标轴和Y坐标轴两个维度方向的边界位置信息的步骤，包括：
计算所述两个排列数组中太赫...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄培雄，郝培博，
申请(专利权)人：深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司，华讯方舟科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。