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本申请提供了一种太赫兹光谱仪的成像中心点校正方法及装置，其方法包括：获取样品架的待校正图像，并根据所述待校正图像获取所述样品架的实测中心点位置信息；将所述实测中心点位置信息与预设的理论中心点位置信息进行比对，以计算实测中心点位置与理论中心点...该专利属于深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;华讯方舟科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;华讯方舟科技有限公司授权不得商用。