【技术实现步骤摘要】
一种可调式光电采样装置
本技术涉及光电采样装置
,具体为一种可调式光电采样装置。
技术介绍
近年来,取样技术的进步,推动超高速数字化系统性能迅速提高,随着光电取样己进入了实用阶段,2001年美国N工ST将频域阻抗失配校准应用到光电采样系统中,提出一种光电采样系统校准技术,用以校准超高速波形数字化系统频率特性和过渡特性。现有的光电采样装置,一般都是通过伸缩杆对光电采样器进行上下调节,结构复杂,然而这种调节在一些环境中还远远不够,因此,需要一种可调式光电采样装置。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种可调式光电采样装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种可调式光电采样装置,包括底座,所述底座上端固定设置有支撑柱,所述支撑柱上方外表面套设有固定座,所述固定座右侧竖直穿插设置有竖杆,所述竖杆上下两端分别固定连接有上横杆和下横杆,所述上横杆和下横杆上套设有滑块,上下两侧滑块之间固定连接有移动杆,所述移动杆上外表面滑动设置有连接块,所述连接块右端通过固定螺 ...
【技术保护点】
1.一种可调式光电采样装置,包括底座(4),其特征在于:所述底座(4)上端固定设置有支撑柱(5),所述支撑柱(5)上方外表面套设有固定座(8),所述固定座(8)右侧竖直穿插设置有竖杆(9),所述竖杆(9)上下两端分别固定连接有上横杆(11)和下横杆(3),所述上横杆(11)和下横杆(3)上套设有滑块(12),上下两侧滑块(12)之间固定连接有移动杆(13),所述移动杆(13)上外表面滑动设置有连接块(1),所述连接块(1)右端通过固定螺栓(14)固定连接有安装头(15),所述安装头(15)右端固定设置有光电采样头(17)。/n
【技术特征摘要】
1.一种可调式光电采样装置,包括底座(4),其特征在于:所述底座(4)上端固定设置有支撑柱(5),所述支撑柱(5)上方外表面套设有固定座(8),所述固定座(8)右侧竖直穿插设置有竖杆(9),所述竖杆(9)上下两端分别固定连接有上横杆(11)和下横杆(3),所述上横杆(11)和下横杆(3)上套设有滑块(12),上下两侧滑块(12)之间固定连接有移动杆(13),所述移动杆(13)上外表面滑动设置有连接块(1),所述连接块(1)右端通过固定螺栓(14)固定连接有安装头(15),所述安装头(15)右端固定设置有光电采样头(17)。
2.根据权利要求1所述的一种可调式光电采样装置,其特征在于:所述支撑柱(5)与固定座(8)竖直滑动连接设置,所述固定座(8)左端面设置有第一压紧螺栓(7),所述第一压紧螺栓(7)伸入固定座(8)内设置并固定连接有压紧板(22),所述压紧板(22)和支撑柱(5)抵触连接。
3.根据权利要求2所述的...
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