【技术实现步骤摘要】
一种针对线列探测器坏元检测的方法
本专利技术涉及一种针对线列探测器坏元检测的方法,属于图像处理
技术介绍
在红外线列型成像系统中,由于器件生产工艺的问题,红外线列探测器往往存在盲元、闪烁坏元,导致系统在扫描成像时,图像中沿扫描方向出现亮(暗)条纹(盲元导致),或者亮暗交替的条纹(闪烁坏元导致),严重影响成像的质量及后续小目标检测的效果。尤其是闪烁坏元导致生成的亮暗交替的条纹,对小目标的检测的影响极大。针对线列型探测器坏元的检测,代表性的方法是时域法和窗口检测法。时域法具有较高的检测精度,但不能实时实现;现有的窗口法主要针对盲元进行检测,不能对闪烁坏元进行有效地检出。因此,提出一种结合时域法和窗口法的坏元检出方法,以提高线列探测器的成像质量。
技术实现思路
要解决的技术问题为了解决现有线列探测器中盲元检测算法仅能检测盲元,无法有效检出闪烁坏元的问题,本专利技术提出一种针对线列探测器坏元检测的方法。技术方案一种针对线列探测器坏元检测的方法,其特征在于步骤如下:步骤1: ...
【技术保护点】
1.一种针对线列探测器坏元检测的方法,其特征在于步骤如下:/n步骤1:获取红外图像数据,放入帧存中;/n步骤2:对每一行图像数据,以P个输出为一组计算其均值并存储在数组R_AVG[M*N]中;其中,M为探测器像元数,N为一行图像数据个数除以P的商的整数;/n步骤3:对均值数组R_AVG[M*N]的第一列R_AVG[M*1]进行截尾均值滤波:取窗口大小为W*1,对滑动窗口内的均值数组R_AVG[M*1]进行截尾均值滤波,将滤波结果存储在数组R_Mean[M];/n步骤4:计算均值数组R_AVG[M*1]与截尾均值滤波结果R_Mean[M]的差值,并存储在数组ERR_AVG[M ...
【技术特征摘要】
1.一种针对线列探测器坏元检测的方法,其特征在于步骤如下:
步骤1:获取红外图像数据,放入帧存中;
步骤2:对每一行图像数据,以P个输出为一组计算其均值并存储在数组R_AVG[M*N]中;其中,M为探测器像元数,N为一行图像数据个数除以P的商的整数;
步骤3:对均值数组R_AVG[M*N]的第一列R_AVG[M*1]进行截尾均值滤波:取窗口大小为W*1,对滑动窗口内的均值数组R_AVG[M*1]进行截尾均值滤波,将滤波结果存储在数组R_Mean[M];
步骤4:计算均值数组R_AVG[M*1]与截尾均值滤波结果R_Mean[M]的差值,并存储在数组ERR_AVG[M]中;
步骤5:将数组ERR_AVG[M]与设定阈值AVG_TH进行判断:若数组ERR_AVG[M]中第i个数据的绝对值大于阈值AVG_TH,则将第i个像元标记为盲元;
步骤6:对均值数组R_AVG[M*N]按行计算其标准差,并存储在数组R_ST[M]中;
步骤7:对标准差数组R_ST[M]进行中值滤波:取窗口大小为W*1,对滑动窗口内的标准差数组R_ST[M]进行中值...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐华楠,朱寅非,孙晓燕,张广伟,
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所,
类型:发明
国别省市:河南;41
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。