子部件检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种子部件检测方法及装置，包括获取待拆产品的多方向干扰矩阵，并根据所述多方向干扰矩阵，获取零件在各个方向的干扰计数和可拆方向；获取所述干扰计数最小的所述零件，并获取所述零件中的干扰件；获取一个所述可拆方向，并依据双指针检测模型对所述干扰件和所有所述零件处理，获取干扰环，并根据所述干扰环获取所述可拆方向上的子部件。本方案提高了对子部件提取的可靠性。

Detection method and device of sub components

【技术实现步骤摘要】
子部件检测方法及装置
本专利技术涉及计算机技术，尤其涉及一种子部件检测方法及装置。
技术介绍
为了实现大规模废旧产品的高效快速拆卸，工业机器人作为最有前景的制造过程自动化技术之一逐渐被引入拆卸过程，能够在人的辅助下快速完成废旧产品的批量拆卸。与传统人工拆卸不同，机器人拆卸需要考虑机器人拆卸可行路径对拆卸序列进行规划。因此需要在拆卸前进行序列预规划。现有的拆卸序列预规划方法利用两个矩阵描述产品模型提取子部件，其一是干扰矩阵，对于一个由n个零件构成的产品，干扰矩阵是一个n阶方阵。另一个是连接矩阵，对于由n个零件构成、零件之间存在m个连接的产品，连接矩阵是m×n的矩阵。然而，现有技术中对子部件的提取效率较低。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种子部件检测方法及装置，提高了对子部件提取的效率。本专利技术实施例的第一方面，提供一种子部件检测方法，包括：获取待拆产品的多方向干扰矩阵，并根据所述多方向干扰矩阵，获取零件在各个方向的干扰计数和多个可拆方向；获取所述干扰计数最小的所述零件，并获取所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种子部件检测方法，其特征在于，包括：/n获取待拆产品的多方向干扰矩阵，并根据所述多方向干扰矩阵，获取零件在各个方向的干扰计数和多个可拆方向；/n获取所述干扰计数最小的所述零件，并获取所述零件中的干扰件；/n在多个可拆方向中确定目标可拆方向，依据双指针检测模型对所述干扰件和所有所述零件处理，获取干扰环，并根据所述干扰环获取所述目标可拆方向上的子部件。/n

【技术特征摘要】
1.一种子部件检测方法，其特征在于，包括：
获取待拆产品的多方向干扰矩阵，并根据所述多方向干扰矩阵，获取零件在各个方向的干扰计数和多个可拆方向；
获取所述干扰计数最小的所述零件，并获取所述零件中的干扰件；
在多个可拆方向中确定目标可拆方向，依据双指针检测模型对所述干扰件和所有所述零件处理，获取干扰环，并根据所述干扰环获取所述目标可拆方向上的子部件。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据双指针检测模型对所述干扰件和所有所述零件处理，获取干扰环，并根据所述干扰环获取所述目标可拆方向上的子部件，包括：
获取所有所述零件中对所述干扰件在所述目标可拆方向上产生干扰的零件，其中，所述零件按照获取顺序排序；
获取当前指针和反向指针，其中，所述当前指针指向所述干扰件，所述反向指针指向当前所述产生干扰的所述零件；
依据所述当前指针和所述反向指针之间的所述零件，获取干扰环，并根据所述干扰环获取所述目标可拆方向上的子部件。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述在多个可拆方向中确定目标可拆方向，依据双指针检测模型对所述干扰件和所有所述零件处理，获取干扰环，并根据所述干扰环获取所述目标可拆方向上的子部件，包括：
获取所述干扰件的最少所述可拆方向并确定为目标可拆方向，依据所述双指针检测模型对所述干扰件和所有所述零件处理，获取所述干扰环，并根据所述干扰环获取所述目标可拆方向上的子部件。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待拆产品的多方向干扰矩阵，并根据所述多方向干扰矩阵，获取零件在各个方向的干扰计数和多个可拆方向，包括：
获取所述待拆产品的所述零件之间在各个方向上的干扰关系，并依据所述干扰关系获取对应的干扰元素；
依据所...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖李媛君，李想，张霖，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：北京;11