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本发明提供一种子部件检测方法及装置，包括获取待拆产品的多方向干扰矩阵，并根据所述多方向干扰矩阵，获取零件在各个方向的干扰计数和可拆方向；获取所述干扰计数最小的所述零件，并获取所述零件中的干扰件；获取一个所述可拆方向，并依据双指针检测模型对所...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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